[發(fā)明專利]單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910263670.1
• 申請日: 2009-12-17
• 公開（公告）號: CN101762332A
• 公開（公告）日: 2010-06-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫志紅;夏彥文;傅學(xué)軍;王芳;劉華;徐隆波;彭志濤
• 申請（專利權(quán)）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于超短脈沖測試領(lǐng)域，主要涉及一種單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置。

背景技術(shù)

目前，測量重復(fù)頻率10Hz以上、能量穩(wěn)定輸出的超短脈沖對比度主要采用掃描式三階自相關(guān)儀，但當(dāng)脈沖放大到焦耳量級，強度達(dá)到PW量級時，打靶周期長，重復(fù)率就會降低到單次，對于此類單次運行的超強激光裝置，不能采用掃描方式，必須采用單發(fā)次實時測量。名稱為“高功率超短激光脈沖對比度測量裝置”的中國實用新型專利(專利號：ZL200720077677)可以測量單次超短激光脈沖對比度，其將倍頻光分成具有一定時間延遲、強度減弱的幾束倍頻光并行地與基頻光通過凸透鏡進入BBO混頻晶體產(chǎn)生三階自相關(guān)信號，這樣測試到的三階自相關(guān)信號只能是幾個離散的點，不能反映對比度的詳細(xì)信息。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服已有技術(shù)中超短激光脈沖對比度測量方法中的不足，本發(fā)明提供一種單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置。

本發(fā)明的單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置，所述裝置的光路為，被測的平行激光束經(jīng)過第一半透半反鏡后將光變成透射光和反射光，透射光束依次經(jīng)過直角棱鏡、第一反射鏡、二倍頻晶體、濾光片和半波片，反射光束經(jīng)過第二反射鏡后，兩束光以位相匹配角入射到和頻晶體上產(chǎn)生三階自相關(guān)信號，三階自相關(guān)信號經(jīng)第一濾波片和刀口遮擋濾波后用第二半透半反鏡將光分成兩束，一束光依次經(jīng)過第一衰減片、第一柱面透鏡和第二濾光片后進入第一CCD，另外一束光依次經(jīng)過遮擋片、第二衰減片、第二柱面透鏡和第三濾光片后進入第二CCD，第一CCD和第二CCD對三階自相關(guān)信號分布的主峰和主峰外的區(qū)域分別進行測試。

本發(fā)明中，通過調(diào)節(jié)其位置保證由半透半反鏡分成的透射光和反射光分別經(jīng)過不同路徑到達(dá)和頻晶體的光程相等，可以采用其它光延遲可調(diào)裝置，如兩個呈45°放置的反射鏡。

采用兩個CCD對得到的三階自相關(guān)信號光強分布較強區(qū)域和其之外的區(qū)域分別進行衰減測試，并根據(jù)標(biāo)定的特征點位置進行圖形拼接重構(gòu)，即可得到超短脈沖對比度較的連續(xù)信息。

采用兩個CCD分別對三階自相關(guān)信號強區(qū)域及其之外區(qū)域分別測試，也可以采用三個CCD將三階自相關(guān)信號按照強度分布分三個區(qū)域分別進行測試，增大測試動態(tài)范圍。

本發(fā)明的有益效果是，采用兩個CCD對三階自相關(guān)信號光強分布較強區(qū)域和其之外的區(qū)域分別進行衰減測試，根據(jù)標(biāo)定的特征點位置進行圖形拼接重構(gòu)，實際的信號灰度值為測量到的信號灰度值乘上衰減片的衰減倍率，所以該測量裝置可以獲得連續(xù)的相關(guān)信號強度分布信息，可測試單發(fā)次超短脈沖對比度達(dá)到～10⁶左右。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的光路結(jié)構(gòu)示意圖

圖中，1.第一半透半反鏡??2.直角棱鏡??3.第一反射鏡??4.倍頻晶體5.第一濾光片??6.半波片??7.第二反射鏡??8.和頻晶體??9.第二濾光片10.刀口??11.第二半透半反鏡??12.第一衰減片??13.第一柱面透鏡??14.第三濾光片??15.第一CCD??16.遮擋片??17.第二衰減片??18.第二柱面透鏡??19第四濾光片??20.第二CCD

具體實施方式

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步描述。