[發(fā)明專利]單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910263670.1 | 申請日: | 2009-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN101762332A | 公開(公告)日: | 2010-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫志紅;夏彥文;傅學(xué)軍;王芳;劉華;徐隆波;彭志濤 | 申請(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號: | G01J11/00 | 分類號: | G01J11/00 |
| 代理公司: | 中國工程物理研究院專利中心 51210 | 代理人: | 翟長明;韓志英 |
| 地址: | 621900 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單發(fā) 超短 激光 脈沖 對比度 測量 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于超短脈沖測試領(lǐng)域,主要涉及一種單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置。
背景技術(shù)
目前,測量重復(fù)頻率10Hz以上、能量穩(wěn)定輸出的超短脈沖對比度主要采用掃描式三階自相關(guān)儀,但當(dāng)脈沖放大到焦耳量級,強度達(dá)到PW量級時,打靶周期長,重復(fù)率就會降低到單次,對于此類單次運行的超強激光裝置,不能采用掃描方式,必須采用單發(fā)次實時測量。名稱為“高功率超短激光脈沖對比度測量裝置”的中國實用新型專利(專利號:ZL200720077677)可以測量單次超短激光脈沖對比度,其將倍頻光分成具有一定時間延遲、強度減弱的幾束倍頻光并行地與基頻光通過凸透鏡進入BBO混頻晶體產(chǎn)生三階自相關(guān)信號,這樣測試到的三階自相關(guān)信號只能是幾個離散的點,不能反映對比度的詳細(xì)信息。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服已有技術(shù)中超短激光脈沖對比度測量方法中的不足,本發(fā)明提供一種單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置。
本發(fā)明的單發(fā)次超短激光脈沖對比度測量裝置,所述裝置的光路為,被測的平行激光束經(jīng)過第一半透半反鏡后將光變成透射光和反射光,透射光束依次經(jīng)過直角棱鏡、第一反射鏡、二倍頻晶體、濾光片和半波片,反射光束經(jīng)過第二反射鏡后,兩束光以位相匹配角入射到和頻晶體上產(chǎn)生三階自相關(guān)信號,三階自相關(guān)信號經(jīng)第一濾波片和刀口遮擋濾波后用第二半透半反鏡將光分成兩束,一束光依次經(jīng)過第一衰減片、第一柱面透鏡和第二濾光片后進入第一CCD,另外一束光依次經(jīng)過遮擋片、第二衰減片、第二柱面透鏡和第三濾光片后進入第二CCD,第一CCD和第二CCD對三階自相關(guān)信號分布的主峰和主峰外的區(qū)域分別進行測試。
本發(fā)明中,通過調(diào)節(jié)其位置保證由半透半反鏡分成的透射光和反射光分別經(jīng)過不同路徑到達(dá)和頻晶體的光程相等,可以采用其它光延遲可調(diào)裝置,如兩個呈45°放置的反射鏡。
采用兩個CCD對得到的三階自相關(guān)信號光強分布較強區(qū)域和其之外的區(qū)域分別進行衰減測試,并根據(jù)標(biāo)定的特征點位置進行圖形拼接重構(gòu),即可得到超短脈沖對比度較的連續(xù)信息。
采用兩個CCD分別對三階自相關(guān)信號強區(qū)域及其之外區(qū)域分別測試,也可以采用三個CCD將三階自相關(guān)信號按照強度分布分三個區(qū)域分別進行測試,增大測試動態(tài)范圍。
本發(fā)明的有益效果是,采用兩個CCD對三階自相關(guān)信號光強分布較強區(qū)域和其之外的區(qū)域分別進行衰減測試,根據(jù)標(biāo)定的特征點位置進行圖形拼接重構(gòu),實際的信號灰度值為測量到的信號灰度值乘上衰減片的衰減倍率,所以該測量裝置可以獲得連續(xù)的相關(guān)信號強度分布信息,可測試單發(fā)次超短脈沖對比度達(dá)到~106左右。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的光路結(jié)構(gòu)示意圖
圖中,1.第一半透半反鏡??2.直角棱鏡??3.第一反射鏡??4.倍頻晶體5.第一濾光片??6.半波片??7.第二反射鏡??8.和頻晶體??9.第二濾光片10.刀口??11.第二半透半反鏡??12.第一衰減片??13.第一柱面透鏡??14.第三濾光片??15.第一CCD??16.遮擋片??17.第二衰減片??18.第二柱面透鏡??19第四濾光片??20.第二CCD
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步描述。
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