[發明專利]溫度試驗方法及設備

無效

• 申請號: 200910258869.5
• 申請日: 2009-12-29
• 公開（公告）號: CN102109559A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發明（設計）人: 于萬瑞;王淬寒;楊勇
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明實施例涉及溫度試驗技術領域，尤其涉及一種溫度試驗方法及設備。

背景技術

環境溫度試驗是將電子設備在預先設置的環境溫度下，測試電子設備正常工作的持續時間、電子設備的性能等的試驗。環境溫度參數是電子設備的一個重要指標。大多數電子設備都需要進行環境溫度試驗。

電子設備都是以整機的形式工作，因此現有技術中對電子設備的環境溫度試驗也是對電子設備整機進行。通常，環境溫度試驗設備是試驗溫箱，該試驗溫箱提供一個密閉的空間，在特定時刻該密閉空間提供一個均勻一致或近似均勻一致的溫度。被試驗的電子設備放置在試驗溫箱內，試驗溫箱控制箱內的溫度，從而測試電子設備整機對于溫度的適應能力。

不過，在一些特定的應用場合，例如在一些需要掌握電子設備中某個關鍵部件的環境溫度參數的場合，就需要對電子設備內的某個關鍵部件的環境溫度進行試驗。而采用現有的溫度試驗方法則無法對電子設備中的局部元件進行環境溫度試驗。因為現有技術中的試驗溫箱之類的環境溫度試驗設備只能為電子設備整機提供一個統一的溫度，而無法對電子設備的局部元件提供各自所需的試驗溫度，以進行差異化的溫度試驗。

發明內容

本發明實施例提供一種溫度試驗方法及設備，用以解決現有技術中試驗溫箱之類的環境溫度試驗設備無法對電子設備中的局部元件進行環境溫度試驗的缺陷，實現對電子設備中的局部元件進行環境溫度試驗。

本發明實施例提供了一種溫度試驗方法，包括：為電子設備整體提供第一溫度；將局部溫度調節單元移動到與所述電子設備中的目標局部元件之間在預設距離之內的位置；控制所述局部溫度調節單元對所述目標局部元件的溫度進行調節，并檢測與所述目標局部元件相對應的局部區域的溫度；在檢測到所述局部區域的溫度達到第二溫度時，控制所述局部溫度調節單元停止溫度調節；對所述電子設備進行檢測以獲取其工作狀態信息。

本發明實施例還提供了一種溫度試驗設備，包括：箱體、連接部件、局部溫度調節單元、控制單元和溫度檢測單元，其中所述連接部件、所述局部溫度調節單元和溫度檢測單元設置在所述箱體內部；所述箱體用于為進行溫度試驗的電子設備整體提供第一溫度；所述連接部件連接在所述控制單元和所述局部溫度調節單元之間，用于在所述控制單元控制下將所述局部溫度調節單元移動到與所述電子設備中的目標局部元件相接觸或鄰近所述目標局部元件的位置；所述溫度檢測單元用于檢測與所述目標局部元件相對應的局部區域的溫度；所述控制單元用于控制所述局部溫度調節單元對所述目標局部元件進行的溫度進行調節，其中，所述控制單元在所述溫度檢測單元檢測到與所述目標局部元件相對應的局部區域的溫度達到第二溫度時控制所述局部溫度調節單元停止溫度調節。

本發明實施例提供的溫度試驗方法及設備，首先為電子設備整體提供第一溫度，然后將局部溫度調節單元移動到與電子設備的目標局部元件之間在預設距離之內的位置，并通過所述局部溫度調節單元對所述目標局部元件進行溫度調節，從而對電子設備中的局部元件提供所需的試驗溫度，從而實現進行差異化的環境溫度試驗。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1所示為本發明溫度試驗方法實施例的流程圖；

圖2所示為本發明溫度試驗設備一種實施例的結構示意圖；

圖3所示為本發明溫度試驗設備另一種實施例的結構示意圖；

圖4所示為本發明各實施例中涉及到的導熱風筒的結構示意圖。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

如圖1所示為本發明溫度試驗方法實施例的流程圖，包括：

步驟101、為電子設備整體提供第一溫度。具體地，可以將電子設備置于一個溫度試驗設備內部，所述溫度試驗設備可以具有一箱體結構，該箱體為電子設備整體提供一個第一溫度，其中所述第一溫度可以為室溫，也可以為其他預設溫度值。

步驟102、將設置在溫度試驗設備內部的局部溫度調節單元，移動到與電子設備中的目標局部元件之間的距離小于或等于預設距離的位置。