[發明專利]數據發送方法和系統以及中繼裝置無效
| 申請號: | 200910258045.8 | 申請日: | 2009-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN102104441A | 公開(公告)日: | 2011-06-22 |
| 發明(設計)人: | 李穎;宋光輝;樓群芳 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司;西安電子科技大學 |
| 主分類號: | H04L1/00 | 分類號: | H04L1/00;H04B7/15 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 數據 發送 方法 系統 以及 中繼 裝置 | ||
1.一種數據發送方法,其特征在于,包括:
接收至少兩個源節點發送的數據;
對所述數據分別進行解碼,并對解碼后的數據進行聯合編碼,獲取校驗比特;
將所述校驗比特發送給目的節點,所述校驗比特用于所述目的節點對所述目的節點接收的所述至少兩個源節點發送的數據進行聯合譯碼。
2.根據權利要求1所述的數據發送方法,其特征在于,所述對所述數據分別進行解碼,并對解碼后的數據進行聯合編碼,獲取校驗比特,包括:
應用低密度奇偶校驗碼的結構圖,獲取所述校驗比特,所述結構圖包括a×k1個上層校驗節點、k2個下層校驗節點、與所述上層校驗節點和下層校驗節點分別連接的a×n個變量節點以及與所述下層校驗節點連接的k2個校驗節點,其中a為源節點的個數,所述a×k1個上層校驗節點用于輸入a個源節點分別發送的a×k1個比特,所述a×n個變量節點用于輸出對a×k1個比特進行解碼后獲取的a×n個變量比特,所述k2個校驗節點用于輸出對解碼獲取的a×n個變量比特進行聯合編碼獲取的校驗比特。
3.根據權利要求2所述的數據發送方法,其特征在于,所述應用低密度奇偶校驗碼的結構圖,獲取所述校驗比特,包括:
根據度分布函數確定a×k1個上層校驗節點與a×n個變量節點之間的第一連線關系以及k2個下層校驗節點與a×n個變量節點和k2個校驗節點之間的第二連線關系,其中a為源節點的個數,a×k1個上層校驗節點用于輸入a個源節點分別發送的k1個比特數據;
根據所述第一連線關系,確定a×k1個方程,所述a×k1個方程中每一個方程表示與一個上層校驗節點連接的變量節點的變量比特之和等于該上層校驗節點輸入的比特數據,通過解方程獲取a×n個變量比特;
根據所述第二連線關系,確定k2個方程,所述k2個方程中每一個方程表示與一個下層校驗節點連接的變量節點上獲取的所述變量比特和校驗節點上的未知校驗比特之和等于零,通過解方程獲取k2個校驗比特。
4.根據權利要求3所述的數據發送方法,其特征在于,所述根據度分布函數確定a×k1個上層校驗節點與a×n個變量節點之間的第一連線關系以及k2個下層校驗節點與a×n個變量節點和k2個校驗節點之間的第二連線關系之前,還包括:
計算獲取預設的目標函數
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