[發明專利]一種X射線熒光分析系統無效
| 申請號: | 200910249932.9 | 申請日: | 2009-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN102087230A | 公開(公告)日: | 2011-06-08 |
| 發明(設計)人: | 韓曉朋 | 申請(專利權)人: | 韓曉朋;梁志宏;楊培全 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 523850 廣東省東莞市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 射線 熒光 分析 系統 | ||
1.一種X射線熒光分析系統,包括承載待測樣品的基臺(2)、發出原級X射線轟擊待測樣品的X射線槍(1)以及接收X熒光的探測器(3),探測器(3)上依次連接有前置放大器(4)、對被放大的模擬信號進行降噪、整形和數字轉換的DPU處理器(5)、對轉換的數字信號進行二次處理的計算機(6),所述計算機(6)通過分析系統模塊(11)完成數據計算處理并通過顯示器(12)顯示結果,其特征在于:所述的DPU處理器(5)包括順序連接的放大整形模塊(51)、ADC轉換模塊(52)、數字脈沖整形模塊(53)、譜線圖形成邏輯模塊(55)、存儲器(56)和uPC單片機接口邏輯電路(57),所述的ADC轉換模塊(52)和譜線圖形成邏輯模塊(55)之間還連接有脈沖選擇邏輯處理模塊(54),譜線圖形成邏輯模塊(55)還連接有DAC轉換硬件調試電路(58)。
2.根據權利要求1所述的一種X射線熒光分析系統,其特征在于,計算機(6)及分析系統模塊(11)依次通過元素識別標定、光譜平滑處理、逃逸峰處理、堆積處理、背景移除處理、康普頓波峰處理、去卷積非線性處理、譜線強度提取、譜線積分與迭代處理、譜線高斯處理、標準去卷積處理和基本參數法處理完成全部的數字信號運算,從而給出譜線圖和最終數據結果。
3.根據權利要求1或2所述的一種X射線熒光分析系統,其特征在于,還包括直流的總電源模塊(9),該總電源模塊(9)輸出連接有多通道電源模塊(8)和高壓電源模塊(10),多通道電源模塊(8)分別為探測器(3)、前置放大器(4)和DPU處理器(5)提供工作電源,高壓電源模塊(10)為X射線槍(1)提供工作需要的高壓。
4.根據權利要求3所述的一種X射線熒光分析系統,其特征在于,所述的計算機(6)上連接有控制接口(7),該控制接口(7)同時與總電源模塊(9)、多通道電源模塊(8)和高壓電源模塊(10)連接。
5.根據權利要求4所述的一種X射線熒光分析系統,其特征在于,所述的探測器(3)和前置放大器(4)安裝于密閉的金屬殼內。
6.根據權利要求5所述的一種X射線熒光分析系統,其特征在于,所述的DPU處理器(5)通過USB接口或RS232接口與計算機(6)連接。
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