[發(fā)明專利]一種IC檢測(cè)裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910247686.3
• 申請(qǐng)日: 2009-12-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102116831A
• 公開(kāi)（公告）日: 2011-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 柯恩清
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海允科自動(dòng)化有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/02
• 代理公司: 上海三和萬(wàn)國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 31230
• 代理人: 劉立平

1.一種IC檢測(cè)裝置，其特征在于：其包括：

第一置料裝置：是用以容納至少一盛裝待測(cè)IC的料盤；

第二置料裝置：是用以容納至少一盛裝完測(cè)IC的料盤；

測(cè)試裝置：所述的測(cè)試裝置設(shè)有數(shù)組用來(lái)測(cè)試IC的測(cè)試器與用來(lái)取、放待測(cè)/完測(cè)IC的取放機(jī)構(gòu)；

至少一載送裝置：是用來(lái)在測(cè)試裝置的各測(cè)試器間載送待測(cè)/完測(cè)IC；

移料裝置：是用來(lái)在第一、二置料裝置與載送裝置之間移載待測(cè)/完測(cè)IC；

所述的測(cè)試裝置的取放機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)取放器作第二方向位移，而在所述測(cè)試器與所述載送裝置之間取、放待測(cè)/完測(cè)IC。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：第一置料裝置包含有承置機(jī)構(gòu)、托盤機(jī)構(gòu)與輸送機(jī)構(gòu)，其承置機(jī)構(gòu)是用來(lái)容納至少一盛裝待測(cè)IC的料盤，托盤機(jī)構(gòu)是用來(lái)承置料盤作第三方向位移，而輸送機(jī)構(gòu)則用來(lái)移載料盤作第二方向位移到預(yù)設(shè)位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：第二置料裝置包含有承置機(jī)構(gòu)、托盤機(jī)構(gòu)與輸送機(jī)構(gòu)，其承置機(jī)構(gòu)是用來(lái)容納至少一盛裝完測(cè)IC的料盤，托盤機(jī)構(gòu)是用來(lái)承置料盤作第三方向位移，而輸送機(jī)構(gòu)則用來(lái)移載料盤作第二方向位移到預(yù)設(shè)位置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：所述的至少一載送裝置是在測(cè)試裝置的左、右數(shù)組測(cè)試器前方分別設(shè)有第一、二載送裝置，而第一、二載送裝置則分別在左、右數(shù)組測(cè)試器之間移動(dòng)并載送待測(cè)/完測(cè)IC。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：所述的第一載送裝置是以驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)載臺(tái)作第一方向位移。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：所述的第二載送裝置是以驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)載臺(tái)作第一方向位移。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：所述的移料裝置是以驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)取放器作第一、二方向位移，并以取放器作第三方向位移，在第一、二置料裝置與載送裝置之間取、放待測(cè)/完測(cè)IC。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：更包含用來(lái)加熱待測(cè)IC的加熱裝置。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC檢測(cè)裝置，其特征在于：更包含空盤置盤裝置，其是在一移動(dòng)機(jī)構(gòu)的上方設(shè)有用來(lái)承置空料盤的承板，承板帶動(dòng)空料盤作第二方向位移。