[發明專利]一種高速運動狀態下電子標簽的性能測試方法及系統

有效

• 申請號: 200910242344.2
• 申請日: 2009-12-09
• 公開（公告）號: CN101777136A
• 公開（公告）日: 2010-07-14
• 發明（設計）人: 譚杰;趙紅勝;朱智源
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所
• 主分類號: G06K17/00
• 分類號: G06K17/00;G06K19/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 梁愛榮

技術領域

本發明涉及無線技術測試領域，尤其涉及一種高速運動狀態下電 子標簽的性能測試系統及方法

背景技術

隨著射頻識別系統的大規模使用，人們對電子標簽的要求也隨著 應用行業的不同而有所不同。

對于鐵路系統和公交系統，因為電子標簽的使用對象(火車或公 交車)往往需要在不停車的情況下，完成電子標簽的識讀過程。相比 于其他行業的標簽，這種電子標簽必須滿足在高速行駛的情況下，也 要有高超的接收和發送射頻信號的性能，完成與讀寫器直接的信息交 互。

對于電子標簽該項性能的測試，一般是采用直線高速模擬的方法 進行。

由于實驗室的環境和場面限制，電子標簽的高速性能往往無法在 實驗室進行。而對于電子標簽生產廠家在研發產品過程中，迫切需要 經常性地進行高速性能測試，如果每次測試都需要在場外進行，對于 電子標簽研發單位來說既耗時又費錢，因而是不現實的。

發明內容

本發明其目的針對高速運動標簽性能測試這一特殊要求，在實驗 室環境下，測試高速運動狀態下電子標簽的性能，觀察電子標簽和讀 寫器，在高速運動狀態下能否實現信息交互，為此本發明提供一種高 速運動狀態下電子標簽的性能測試方法。

為實現以上目的，本發明的第一方面，是提供一種高速運動狀態 下電子標簽的性能測試方法，該測試方法包括以下步驟：

步驟A：首先按照將待測電子標簽放入轉盤的凹槽中，固定好凹 槽外側的卡子；初始化整個系統設備；

步驟B：利用讀寫器控制程序向待測電子標簽發送查詢指令；

步驟C：讀寫器檢測待測電子標簽的響應指令，所述的待測電子 標簽的響應指令是讀寫器控制和分析軟件能夠解析出待測電子標簽反 饋的射頻信號中包含的電子產品碼信息，若不能正確檢測，則停止測 試；

步驟D：利用控制器控制軟件啟動電機旋轉，第一次速度為50 轉/分，以后速度為當前速度+步長為50轉/分；

步驟E：判斷電機當前轉速，是否已達到電機最大轉速，若是，則 停止測試；否則進行下面步驟；

步驟F：重復步驟B～E。

為實現以上目的，本發明的第二方面，是提供一種高速運動狀態 下電子標簽的性能測試系統，提出的技術方案如下：由待測電子標簽、 測試裝置和測試設備組成，其中：

所述測試裝置包括：轉盤、屏蔽罩、電機、支撐臺和控制器；電機 安裝在支撐臺上，電機的轉軸與轉盤中心處固定連接；控制器的控制 端與電機的控制端連接，電機執行控制器發出的控制命令而轉動；

所述待測電子標簽固接于轉盤上；轉盤和待測電子標簽位于屏蔽 罩內；

所述測試設備包括：讀寫器、測試天線和計算機；計算機與控制器 通過USB接口或RS232串口連接，計算機通過USB接口或RS232串 口向控制器發生控制命令，從而改變與控制器相連的電機行為；計算 機通過RS232串口或網口與讀寫器連接，通過串口或網口，計算機控 制讀寫器發起查詢指令；測試天線固接于緊固件上，緊固件是由對超 高頻射頻信號不敏感的材質構成；測試天線與讀寫器通過串口連接連 接；測試天線和待測電子標簽通過空基以射頻連接，讀寫器內含的控 制程序可以對待測電子標簽的響應指令作出分析。

本發明的有益效果是：

該系統可以實現在實驗室環境下，以圓周運動模擬直線運動，對 高速運動標簽進行測試，滿足電子機構研發機構的研發需要。同時， 該測試系統也可以實現對電子標簽高速運動狀態下性能指標的測試。 利用實驗室環境，而不是外場實際環境進行測試，可以節省電子標簽 研發機構的時間和費用，同時也便于實施。屏蔽罩主要是一方面用于 通過增加或減少轉盤暴露范圍可以增加或減少待測電子接收讀寫器發 送的射頻信號的時間，提高測試結果的科學性；另一方面防止電子標 簽在測試過程中飛離轉盤。

附圖說明

圖1為本發明提供的高速運動狀態下電子標簽性能測試系統示意圖。

圖2是本發明方法的流程圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下參照附 圖，對本發明進一步詳細說明。

如圖1所示，圖1為本發明提供的高速運動狀態下電子標簽性能 測試系統示意圖，由測試裝置、待測電子標簽和測試設備組成，其中：