[發明專利]一種磁體角度偏差的測量裝置及方法無效
| 申請號: | 200910237246.X | 申請日: | 2009-11-06 |
| 公開(公告)號: | CN102053232A | 公開(公告)日: | 2011-05-11 |
| 發明(設計)人: | 徐濱;常海華;趙玉剛;胡陽光 | 申請(專利權)人: | 三環瓦克華(北京)磁性器件有限公司;北京中科三環高技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R33/12 | 分類號: | G01R33/12;G01R33/02 |
| 代理公司: | 北京王景林知識產權代理事務所 11320 | 代理人: | 王景林;梁波 |
| 地址: | 102200 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 磁體 角度 偏差 測量 裝置 方法 | ||
1.一種磁體角度偏差的測量裝置,其特征在于,該磁體角度偏差的測量裝置包括:
可進行水平調節的支撐架;
一對安裝在該支撐架上的赫爾姆茲線圈;
上部連接有支座且可繞該對赫爾姆茲線圈的中心線實現旋轉的傳動機構;
安裝該支座上使磁體的幾何中心與赫爾姆茲線圈的幾何中心重合的夾具;和
與赫爾姆茲線圈相連接的磁通變化感應測量裝置。
2.如權利要求1所述的磁體角度偏差的測量裝置,其特征在于,設有使所述支座繞該對赫爾姆茲線圈的中心線旋轉180°的止擋。
3.如權利要求1所述的磁體角度偏差的測量裝置,其特征在于,赫爾姆茲線圈連接有用來測量其磁通變化量的磁通計。
4.如權利要求1所述的磁體角度偏差的測量裝置,其特征在于,該裝置由不導磁材料制成。
5.如權利要求1所述的磁體角度偏差的測量裝置,其特征在于,夾具通過四個呈四方形分布的定位塊固定。
6.一種磁體角度偏差的測量方法,其特征在于,包括下列步驟:
設置使磁體的長、寬、高方向的幾何中心均可與一對赫爾姆茲線圈的幾何中心重合的夾具;
使該對赫爾姆茲線圈與磁通變化感應測量裝置相連接;
依次沿磁體的長、寬、高方向使該磁體定位在該夾具內,并且在該對赫爾姆茲線圈的中心旋轉,從而測出磁體的三個磁矩分量;以及
結算磁矩的矢量值。
7.如權利要求6所述的磁體角度偏差的測量方法,其特征在于,使所述支座繞該對赫爾姆茲線圈的中心線旋轉180°。
8.如權利要求6所述的磁體角度偏差的測量方法,其特征在于,赫爾姆茲線圈連接有用來測量其磁通變化量的磁通計。
9.如權利要求6所述的磁體角度偏差的測量方法,其特征在于,各部件由不導磁材料制成。
10.如權利要求6所述的磁體角度偏差的測量方法,其特征在于,通過四個呈四方形分布的定位塊固定夾具。
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