[發明專利]檢測PCB板上元件相似度的方法

有效

• 申請號: 200910236019.5
• 申請日: 2009-10-26
• 公開（公告）號: CN101692054A
• 公開（公告）日: 2010-04-07
• 發明（設計）人: 江儉
• 申請（專利權）人: 江儉
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛

技術領域

本發明涉及印刷電路板領域，具體而言，涉及一種檢測PCB 板上元件相似度的方法。

背景技術

在“電路板自動光學檢測儀”中，使用“標準”圖片與“被測” 圖片對比的方法進行測量，以此來確定電路板組裝過程中的“元件 缺陷”。

通常兩幅圖片的“相似度”的確定是由算法事先確定的一定規 則來計算出來的。在電路板的測試中，這些“規則”常常不能反映 出真正人們所關心的細節問題，例如，圖1、圖2和圖3分別示出 了PCB板的屏幕效果示意圖，用“相識度”測量法分別得出圖2 和圖3分別與圖1的相識度：圖1、圖2間的相似度是54.58％；圖 1、圖3間的相似度是79.58％，但圖2只是由于元件管腳上沒有被 錫沾上，應該也是正確的，圖3則是元件完全丟失的情況。可見， 算法很難了解人們真正關心的圖像特征。

在實現本發明過程中，發明人發現現有技術中檢測電路板相似 度方法的準確度較低。

發明內容

本發明旨在提供一種檢測PCB板上元件相似度的方法，能夠 解決現有技術中檢測電路板相似度方法的準確度較低的問題。

在本發明的實施例中，提供了一種檢測PCB板上元件相似度 的方法，包括以下步驟：

對預定數量的PCB樣板進行圖像采樣，并記錄所采集的正確 的圖像像素點的最大值和最小值；

將被測PCB板的圖像像素點的像素值與其對應像素點的像素 值的最大值和最小值進行比較；

統計被測PCB板的介于與其對應像素點的像素值的最大值和 最小值之間的所有像素點，得到被測PCB板的相似度。

優選地，在上述檢測PCB板上元件相似度的方法中，統計被 測PCB板的介于與其對應像素點的像素值的最大值和最小值之間 的所有像素點，得到被測PCB板的相似度具體包括：

根據所采集的正確的圖像像素點的最大值和最小值的差值，決 定正確的圖像像素點的權值；

將介于與其對應像素點的像素值的最大值和最小值之間的所 有像素點的權值相加，得到被測PCB板的相似度。

在上述實施例中，若被測PCB板的像素點的像素值落在與其 對應像素點的像素值的最大值與最小值之間，則是“相似”的像素， 否則是“不相似”的，最后把整幅圖像所有的相似點數統計起來， 得到被測PCB板的相似度，在“采樣”階段，就記錄下來了人們所 關心的像素的變化，那些經過一定采樣量后，最亮值圖與最暗值圖 上相差不大的像素點就是人們關心的點，而那些變化很大的點是人 們認為“變化了也不影響結果”的點，是不關心的點，因此，所得 到的相似度的準確度較高，克服了現有技術中檢測電路板相似度方 法的準確度較低的問題。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申 請的一部分，本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并 不構成對本發明的不當限定。在附圖中：

圖1、圖2和圖3分別示出了PCB板的屏幕效果示意圖；

圖4示出了根據本發明一個實施例的檢測PCB板上元件相似 度的方法流程圖。

具體實施方式

下面將參考附圖并結合實施例，來詳細說明本發明。

圖4示出了根據本發明一個實施例的檢測PCB板上元件相似 度的方法流程圖，包括以下步驟：

S102，對預定數量的PCB樣板進行圖像采樣，并記錄所采集 的正確的圖像像素點的最大值和最小值；

S104，將被測PCB板的圖像像素點的像素值與其對應像素點 的像素值的最大值和最小值進行比較；

S106，統計被測PCB板的介于與其對應像素點的像素值的最 大值和最小值之間的所有像素點，得到被測PCB板的相似度。

在本實施例中，若被測PCB板的像素點的像素值落在與其對 應像素點的像素值的最大值與最小值之間，則是“相似”的像素， 否則是“不相似”的，最后把整幅圖像所有的相似點數統計起來， 得到被測PCB板的相似度，在“采樣”階段，就記錄下來了人們所 關心的像素的變化，那些經過一定采樣量后，最亮值圖與最暗值圖 上相差不大的像素點就是人們關心的點，而那些變化很大的點是人 們認為“變化了也不影響結果”的點，是不關心的點，因此，所得 到的相似度的準確度較高，克服了現有技術中檢測電路板相似度方 法的準確度較低的問題。