[發明專利]檢測555集成電路邏輯電平的裝置及方法

無效

• 申請號: 200910232700.2
• 申請日: 2009-12-04
• 公開（公告）號: CN101702007A
• 公開（公告）日: 2010-05-05
• 發明（設計）人: 時維鐸;汪向華;劉永理;孟琪
• 申請（專利權）人: 南京林業大學
• 主分類號: G01R31/3167
• 分類號: G01R31/3167
• 代理公司: 南京中新達專利代理有限公司 32226
• 代理人: 孫鷗;吳澄

技術領域

本發明涉及一種電子儀器或裝置，特別涉及一種檢測555集成電路邏輯電平的裝置及檢測方法。

背景技術

555集成電路自1972年問世以來，在電子電路設計中獲得了最廣泛的應用。但是，在一些特殊的應用電路中，為了實現產品具有較好的一致性，同時又不允許增加產品成本，就要求555集成電路的邏輯電平具有較高的一致性。然而，在實際應用中，555集成電路的制造隨著不同的廠家、不同的批次，其邏輯電平存在著差異，這種差異是集成電路生產中不可避免的，而這種差異對通常要求不高的應用電路而言是沒有影響的，而對一些特殊要求的電路而言，這種差異是不能忽略的。例如，在溫度控制電路的應用中，由于555集成電路存在的這種差異，導致溫度控制產生2～3℃的偏差，這將嚴重影響產品的一致性。例如：要求溫度保持在31℃，如果不作器件篩選，結果就會出現同一批產品中有的產品溫度是29℃；有的是33℃。這對于批量生產的產品而言是不能接受的。特別是一些與人體皮膚接觸的加熱產品，往往只差1℃，人體就能感受到很大差異。換句話說，如果我們事先不知道555集成電路的差異，那么每一個產品最終的控制溫度都是隨機的，也就是說在生產過程中具有一定的盲目性。因此，在批量生產中，非常需要對555集成電路的邏輯電平的一致性進行檢測篩選。

發明內容

本發明的目的就在于克服上述缺陷，設計、研制一種檢測555集成電路邏輯電平的裝置及檢測方法。

本發明的技術方案是：

檢測555集成電路邏輯電平的裝置，其主要技術特征在于由單片機、D/A轉換器、電壓跟隨器組成；單片機輸出端接D/A轉換器，D/A轉換器輸出端接電壓跟隨器，電壓跟隨器的輸出端接被測555集成電路，555集成電路輸出端輸入到單片機。

本發明另一技術方案是：

檢測555集成電路邏輯電平的方法，其主要技術步驟在于：

(1)系統開始初始化；

(2)單片機經D/A轉換器、電壓跟隨器控制輸出由低向高變化的模擬電壓，單片機每輸出一個控制電壓增量時，都檢測被測555集成電路輸出電平是否轉化為低電平；

(3)當單片機檢測到555集成電路輸出由高電平轉化為低電平時，記錄并顯示單片機輸出的控制電壓；

(4)單片機經D/A轉換器、電壓跟隨器控制輸出由高向低變化的模擬電壓；

(5)單片機檢測被測555集成電路輸出電平是否轉化為高電平；

(6)當單片機檢測到555集成電路輸出由低電平轉化為高電平時，記錄并顯示單片機輸出的控制電壓；

(7)檢測結束。

本發明的優點和效果在于測量過程由單片機自動完成，由于沒有人為的因素參與測量，所以，測量誤差小，工作穩定可靠，工作效率高。

用單片機發出由程序控制的電壓信號，同時用單片機檢測555集成電路的輸出狀態。單片機由程序控制輸出數據量，用串行口虛擬技術由單片機I/O口輸出控制數據給D/A轉換器MAX517，它把單片機的控制數據轉換為控制電壓，再經過電壓跟隨器使該控制電壓具有較強的帶負載能力，保證提供給555集成電路的控制電壓信號穩定，使555集成電路輸出可靠。

本發明的其他優點和效果將在下面繼續說明。

附圖說明

圖1——本發明的方框原理示意圖。

圖2——本發明具體電子線路示意圖。

圖3——本發明的檢測程序示意圖。

圖4——555集成電路的內部示意圖。

圖5——由555集成電路構成的波形發生器電路圖。

圖6——理想狀態下的波形。

圖7——有偏差的波形。

具體實施方式

如圖1所示，是555集成電路的內部部分原理圖。其中包含兩個電壓比較器IC₁、IC₂和一個基本RS觸發器IC₃。

由圖1可知：