[發(fā)明專利]一種基于多針孔板的波前測量方法和裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910231322.6
• 申請日: 2009-12-02
• 公開（公告）號: CN101726366A
• 公開（公告）日: 2010-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 國承山;張新廷
• 申請（專利權(quán)）人: 山東師范大學
• 主分類號: G01J9/00
• 分類號: G01J9/00;G01J9/02;G02B27/42
• 代理公司: 濟南圣達專利商標事務(wù)所有限公司 37221
• 代理人: 張勇

1.一種基于多針孔板的波前測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

第一步，將被測量物波照射到含有一個參考針孔和多個測量針孔的多針孔板上；

第二步，用圖像傳感器記錄透過多針孔板的物波的夫瑯和費衍射光場的強度分布圖樣； 記錄平面上的衍射光場正比于多針孔板平面上透過多針孔板的物波的傅立葉變換；

第三步，對該衍射強度分布圖樣做逆傅里葉變換，將該逆傅里葉變換圖樣中與多針孔板 上各測量針孔的中心位置所對應(yīng)的點的復振幅值提取出來，該復振幅值正比于被測物波在各 測量針孔處的復振幅值；利用該復振幅值可在計算機中重現(xiàn)被成像物體。

2.一種權(quán)利要求1所述基于多針孔板的波前測量方法的處理裝置，其特征在于，它包括 依次設(shè)置的多針孔板、圖像傳感器和計算機，圖像傳感器與多孔板之間的距離Z滿足夫瑯和 費衍射條件，即圖像傳感器記錄平面上的光場分布正比于透過多針孔板的物波的傅立葉變換。

3.一種權(quán)利要求1所述基于多針孔板的波前測量方法的處理裝置，其特征在于，它包括 依次設(shè)置的多針孔板、傅立葉變換透鏡、圖像傳感器和計算機，所述圖像傳感器位于傅里葉 變換透鏡的后焦面上，即圖像傳感器記錄平面上的光場分布正比于透過多針孔板的物波的傅 立葉變換。

4.如權(quán)利要求2或3所述的基于多針孔板的波前測量方法的處理裝置，其特征在于，所 述多針孔板是一塊不透明薄板上設(shè)置一個參考針孔和若干測量針孔組成，所有測量針孔按照 正三角形或六方形二維周期點陣格式均勻排列，相鄰測量針孔中心的間隔L等于或大于測量 針孔直徑D的2.5倍；參考針孔位于由相鄰的三個測量針孔構(gòu)成的一個正三角形的幾何中心 處。

5.如權(quán)利要求2或3所述的基于多針孔板的波前測量方法的處理裝置，其特征在于，所述 多針孔板上的測量針孔排列成兩個相互錯位半個周期的正方形陣列，陣列周期T等于或大于 針孔直徑D的2倍；該兩個正方形陣列分別位于參考針孔兩側(cè)，參考針孔中心與最近鄰的測 量針孔中心之間的距離等于陣列周期T的一半。

6.如權(quán)利要求2或3所述的基于多針孔板的波前測量方法的處理裝置，其特征在于，所 述多針孔板上的參考針孔和測量針孔形狀為圓形或正方形或其它形狀。