[發明專利]基于平面標志物的位姿處理方法

無效

• 申請號: 200910219140.7
• 申請日: 2009-11-26
• 公開（公告）號: CN101718548A
• 公開（公告）日: 2010-06-02
• 發明（設計）人: 張艷寧;余瑞;楊濤;段鋒;林增剛
• 申請（專利權）人: 西北工業大學
• 主分類號: G01C11/00
• 分類號: G01C11/00
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 黃毅新

1.一種基于平面標志物的位姿處理方法，其特征在于包括下述步驟：

(a)選取ARToolkitplus提供的Simple?ID標志物作為增強現實系統的平面標志物，實時處理過程中，依據標志物檢測和識別方法得到標志物的相關信息，以三維空間中的共線誤差作為優化函數，OI算法由得到的2D和3D點之間的對應關系確定相機的位置和姿態；

(b)由上述OI算法得到的初始值P^1=(R^1,t^1),]]>運用RPP算法獲得使OI算法中的共線誤差函數取得局部極值的另一解，比較得到的兩個局部極值解，取共線誤差較小的解作為最終處理結果；

(c)由v~i=Rtv^i,]]>t~1=Rtt^1,]]>R~1=RtR^1]]>變換坐標系得到P~1=(R~1,t~1);]]>

(d)根據Eos(R~,t~)=Σi=1n||(I-v~iv~itv~itv~i)(R~R~zR~z-1pi+t~)||2,]]>R~1R~z=Rz(γ~1)Ry(β~1)Rz(α~1)]]>以及v~i∝Rz(γ)Ry(β)p~i+t~]]>計算并得到和

(e)固定γ=γ~1,]]>計算與Eos(γ,β,t~)=Σi=1n||(I-v~iv~itv~itv~i)(Rz(γ)Ry(β)pi+t~)||2]]>式的所有局部極值相對應的參數β和

(f)對所有局部極值，做逆變換得到

(g)對所有的運用位姿處理方法，得到最終的P_i^*；

(h)選取使E_os最小的解作為處理結果。