[發明專利]基于JTC的高精度光電混合像移測量裝置及其方法

有效

• 申請號: 200910218936.0
• 申請日: 2009-11-13
• 公開（公告）號: CN102062572A
• 公開（公告）日: 2011-05-18
• 發明（設計）人: 易紅偉;李英才;李旭陽;馬臻;姚大雷;趙惠
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 商宇科;李東京

1.一種基于JTC的高精度光電混合像移測量裝置，包括激光器、設置在該激光器光路上的準直鏡、設置在該準直鏡的出射光路上的空間光調制器SLM、設置在空間光調制器SLM的出射光路上的傅立葉透鏡和用于接收該傅立葉透鏡的出射光線的CCD器件，其特征在于：該裝置還包括連接于所述CCD器件的輸出端的用于結合聯合變換功率譜數據進行局部離散傅立葉變換計算、來獲得互相關峰鄰域的升采樣影像的數字處理單元。

2.根據權利要求1所述的基于JTC的高精度光電混合像移測量裝置，其特征在于：所述數字處理單元是FPGA。

3.一種基于JTC的高精度光電混合像移測量方法，其特征在于：該方法包括步驟1)通過參考影像和被測影像在SLM上的放置坐標和傅立葉變換的基本屬性確定在兩幅影像無錯位情況下一個理想互相關峰在相關輸出面上的坐標。然后，根據被測影像相對于參考影像的錯位的變換范圍開窗計算以這個理想互相關峰為中心的局部相關輸出數據，并初步確定實際互相關峰在相關輸出面上的坐標；

步驟2)、以實際互相關峰為中心計算局部相關輸出數據，實現該相關輸出數據的k倍升采樣局部傅立葉變換，從而得到實際互相關峰在1/k個像元精度下的坐標位置，并與理想互相關峰坐標進行比較，獲得參考影像和被測影像在1/k個像元精度下的配準數據或像移數據。

4.根據權利要求3所述的基于JTC的高精度光電混合像移測量方法，其特征在于：所述k倍升采樣局部傅立葉變換是通過離散傅立葉變換矩陣乘法或分數傅立葉變換實現的。