[發明專利]小封裝可插拔收發器時序參數的檢測裝置及檢測方法有效
| 申請號: | 200910215725.1 | 申請日: | 2009-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN101753212A | 公開(公告)日: | 2010-06-23 |
| 發明(設計)人: | 張春艷;袁濤 | 申請(專利權)人: | 武漢電信器件有限公司 |
| 主分類號: | H04B10/08 | 分類號: | H04B10/08 |
| 代理公司: | 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228 | 代理人: | 徐樂慧 |
| 地址: | 430074 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 封裝 可插拔 收發 時序 參數 檢測 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明有關一種模塊時序參數的檢測裝置及方法,尤其是指一種能準確且自動地對SFP(Small?Form-factor?Pluggable?transceiver,小封裝可插拔收發器)模塊的時序參數的檢測裝置及檢測方法。
背景技術
SFP模塊是一種小型的熱插拔光收發模塊,其安裝于千兆以太網模塊的SFP插槽中,用于提供與其他交換機和服務器的千兆位連接,SFP模塊時序參數的合理的范圍大小對于光線鏈路減少故障的發生有著至關重要的作用,因此對于SFP模塊的時序參數檢測也尤為重要。同時,MSA(MultiSource?Agreement,多源協議)協議為確保來自不同供應商光器件產品的互用,MSA協議INF-8074i對SFP模塊的時序有嚴格的規定。目前對SFP模塊時序參數的測試方法是采用一臺示波器和一塊測試板,將被測模塊插入測試板的SFP模塊插槽中,并將示波器的兩個探頭點在測試板上相應的焊盤上,通過手工撥動開關,使觸發信號發生跳變,繼而觸發相應的狀態檢測引腳,反映在示波器上就是一個探頭的上升沿(或下降沿)到另一個探頭的下降沿(或上升沿)的時間間隔。目前對SFP模塊時序參數測試的整個系統比較復雜,且需要人工操作,有時需要兩人協作才能完成時序測試,測試中存在操作不規范以及容易引入誤差的缺陷。
發明內容
有鑒于此,本發明的主要目的在于提供一種智能化、且能精確測試的小封裝可插拔收發器模塊時序參數的檢測裝置及檢測方法。
為達到上述目的,本發明提供一種小封裝可插拔收發器模塊時序參數的檢測裝置,其包含有測試板、被測模塊、標準模塊、單片機及上位機,測試板上留有兩個插槽,一個插接被測模塊,另一個插接標準模塊,被測模塊的發射端通過光纖連接到標準模塊的接收端,被測模塊的接收端通過光纖連接到標準模塊的發射端,測試板上并插接單片機,單片機分為控制型單片機與總線型單片機,被測模塊與標準模塊的時序引腳分別通過測試板與控制型單片機的輸入/輸出端口電連接,控制型單片機通過串行總線與總線型單片機電連接,總線型單片機通過測試板上的USB轉換芯片和串口轉換芯片實現與上位機實時通信。
控制型單片機的輸入/輸出端口為P0端口,被測模塊的關斷發射控制引腳、發射端故障報錯引腳及接收端信號丟失指示引腳與標準模塊的關斷發射控制引腳和接收端信號丟失指示引腳分別一一對應電連接P0端口的各管腳,被測模塊的電源開關和光電二極管陽極開關通過插接于測試板上的電源管理芯片分別一一對應電連接到控制型單片機的P0端口中的各管腳。
本發明還提供一種對SFP模塊時序參數的檢測方法,該檢測方法包括有:
對被測模塊的關斷發射時間參數的檢測;
對被測模塊的開啟發射時間參數的檢測;
對被測模塊的初始化時間參數的檢測;
對被測模塊的發射故障報錯時間參數的檢測;
對被測模塊的發射端復位時間參數的檢測;
對被測模塊的接收端無信號告警時間參數的檢測;
對被測模塊的接收端有信號告警解除時間參數的檢測;
通過上位機的程序控制控制型單片機的管腳的電平跳變,同時打開控制型單片機的計時器開始計時,直到檢測到控制型單片機的指定引腳電平跳變為計數結束,這個時間值再通過修正即可得到被測模塊的時序參數值,所述上位機的程序是基于圖形化編程語言開發的控制程序。
對被測模塊的關斷發射時間參數的檢測方式為:
上位機的程序控制與被測模塊的關斷發射控制引腳連接的控制型單片機的管腳,使該管腳置為低電平,即開啟被測模塊發射光功率,光由被測模塊的發射端經過光纖到達標準模塊的接收端,并加入程序延時,然后將與被測模塊的關斷發射控制引腳連接的控制型單片機的管腳置高,即關閉被測模塊,并開啟計時器,打開中斷程序掃描與標準模塊的接收端信號丟失指示引腳連接的控制型單片機的管腳的狀態,直到捕捉到該管腳出現上升沿電平跳變,關閉計時器,計時器的計時時間減去標準模塊的接收端無信號告警時間就是被測模塊實際的關閉參數值。
對被測模塊的開啟發射時間參數的檢測方式為:
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