[發明專利]多通道濾波金屬表面并行檢測方法

無效

• 申請號: 200910212934.0
• 申請日: 2009-11-11
• 公開（公告）號: CN101701918A
• 公開（公告）日: 2010-05-05
• 發明（設計）人: 羅新斌;黃秀琴;邢青青;王龍;李坤杰;鄭文勝
• 申請（專利權）人: 蘇州有色金屬研究院有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 陳忠輝;姚姣陽

1.多通道濾波金屬表面并行檢測方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟(一)，采用常速模型對圖像從上到下、從下到上、從左到右、從右到左四個方向每行每列對應設置的一個卡爾曼濾波器設定初始像素值；

步驟(二)，利用步驟(一)中的初始像素值使用卡爾曼濾波器對圖像進行四個方向的濾波，在對每行每列進行濾波的同時利用來自于每個濾波器在每個位置的測量殘差計算并保存該位置的ξ(k)；

步驟(三)，將四個方向分別計算得到的相同位置的ξ(k)求和，將結果與由人工選取的域值進行二值化操作得到缺陷模版。

2.根據權利要求1所述的多通道濾波金屬表面并行檢測方法，其特征在于：步驟(一)中的卡爾曼濾波器采用一個自回歸數據處理算法，采用信號與噪聲的狀態空間模型，利用前一時刻的估計值和現時刻的觀測值更新對狀態變量的估計，求出現時刻的估計值。

3.根據權利要求1所述的多通道濾波金屬表面并行檢測方法，其特征在于：步驟(一)中采用常速模型的卡爾曼濾波器的參數設定為：

狀態向量是對圖像中某行某列的某個像素的灰度值的估計；

測量向量的值z(k)等于某個濾波器在第k時刻與該濾波器對應的行或列的第k個元素的像素值；

測量矩陣H＝(0?1)；

系統控制矩陣G＝0；

狀態轉移矩陣T為采樣時間，T＝1；

測量噪聲方差R＝50；

狀態噪聲方差Q=1001;]]>

初始方差P(0|0)=RR/TR/T2R/T2.]]>

4.根據權利要求1或3所述的多通道濾波金屬表面并行檢測方法，其特征在于：步驟(一)中卡爾曼濾波器設定初始像素值為：

a.從上到下沿著每一列分別濾波時第n(n＝1，2，3，…)個濾波器初始狀態值確定如下：

x(0|0)＝(0?I(1，n))^T，I(1，n)為圖像第1行、n列的像素值；

b.從下到上沿著每一列分別濾波時第n個濾波器初始狀態值確定如下：

x(0|0)＝(0，I(M，n))^T，I(M，n)為圖像第M行、n列的像素值；

c.從左到右沿著每一行分別濾波時第n個濾波器初始狀態值確定如下：

x(0|0)＝(0?I(n，1))^T，I(n，0)為圖像第n行、1列的像素值；

d.從右到左沿著每一行分別濾波時第n個濾波器初始狀態值確定如下：

x(0|0)＝(0?I(n，N))^T，I(n，N)為圖像第n行、N列的像素值，其中I表示圖像的灰度值。