[發明專利]光盤驅動器、光學存儲介質

有效

• 申請號: 200910207726.1
• 申請日: 2003-04-02
• 公開（公告）號: CN101685655A
• 公開（公告）日: 2010-03-31
• 發明（設計）人: 門脅慎一;東海林衛;中村敦史;石田隆
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B20/10
• 分類號: G11B20/10;G11B20/14;G01N21/95;G11B7/005;G11B7/0045;G11B7/0037
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 王 瑋

1.一種光存儲介質檢測裝置，包括：

光學拾音頭，其將光束發射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射 的光束，并基于所接收到的反射光輸出信號；

用于測量從光學拾音頭輸出的信號中的抖動的抖動測量單元；以及

評價單元，其用于根據所測量的抖動確定光存儲介質是良好的還是有 缺陷的；

其中數字信息作為基于周期T和2或更大的整數k的長度kT的標記或 者間隔序列記錄到光存儲介質；

其中標記或者間隔具有2T的最短長度；以及

其中抖動測量單元測量來自光存儲介質的抖動，但是不測量從長度2T 的標記或者間隔的邊緣所獲得的信號中的抖動。

2.根據權利要求1所述的光存儲介質檢測裝置，其特征在于，ML＜ λ/(1.25*NA)，其中ML是一對長度2T的數字數據標記和間隔的長度，λ是 從光學拾音頭所發射的光束的波長，并且NA是光學拾音頭的會聚光學器 件的數值孔徑。

3.一種光存儲介質檢測方法，所述光存儲介質檢測方法用于確定光 存儲介質是好的還是有缺陷的，所述方法包括：

將光束從光學拾音頭發射到光存儲介質，數字信息作為基于周期T和2 或更大的整數k的長度kT的標記或者間隔序列記錄在所述光存儲介質上， 標記或者間隔具有2T的最短長度；

接收通過標記或者間隔所反射的光；

測量來自光存儲介質的抖動，但是不測量從長度2T的標記或者間隔的 邊緣所獲得的信號中的抖動；以及

根據所測量的抖動確定光存儲介質是好的還是有缺陷的。

4.一種光存儲介質檢測方法，包括：

步驟1：將光束發射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束， 并基于所接收到的反射光輸出信號；

步驟2：測量從步驟1輸出的信號中的抖動；以及

步驟3：根據所測量的抖動確定光存儲介質是良好的還是有缺陷的；

其中步驟2從光存儲介質測量3T或者更長標記或者間隔序列中的抖 動，數字信息作為基于周期T和為2或更大的整數k的長度kT的標記或者間 隔序列記錄到光存儲介質。

5.根據權利要求4所述的光存儲介質檢測方法，其中步驟2測量來自 光存儲介質的抖動，所述光存儲介質具有使部分入射到其上的光通過的半 透明薄膜形成的第一記錄層和第二記錄層，其中步驟2在部分光通過第一 記錄層達到第二記錄層時測量從第二記錄層獲得的信號中的抖動。

6.一種光存儲介質檢測方法，包括：

步驟1：將光束發射到光存儲介質上，檢測從光存儲介質反射的光束， 并基于所接收到的反射光輸出信號；

步驟2：測量從步驟1輸出的信號中的抖動；以及

步驟3：根據所測量的抖動確定光存儲介質是良好的還是有缺陷的；

其中步驟2從光存儲介質測量抖動，但是不測量從長度2T的標記或者 間隔的邊緣所獲得的信號中的抖動，數字信息作為基于周期T和為2或比2 更大的整數k的長度kT的標記或者間隔序列記錄到光存儲介質。

7.根據權利要求6所述的光存儲介質檢測方法，其特征在于步驟2從 光存儲介質測量抖動，該光存儲介質上，2T長的標記的寬度比長于2T的標 記的寬度更窄。

8.根據權利要求6所述的光存儲介質檢測方法，其特征在于，ML＜ λ/(1.25*NA)，其中ML是一對長度為2T的數字數據標記和間隔的長度，λ 是從光學拾音頭所發射的光束的波長，并且NA是光學拾音頭的會聚光學 器件的數值孔徑。