[發明專利]光信息記錄再現裝置、光信息再現裝置和光信息記錄介質無效
| 申請號: | 200910205416.6 | 申請日: | 2009-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN101826362A | 公開(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發明(設計)人: | 緒方岳 | 申請(專利權)人: | 日立民用電子株式會社 |
| 主分類號: | G11B20/18 | 分類號: | G11B20/18;G11B7/007 |
| 代理公司: | 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 信息 記錄 再現 裝置 介質 | ||
1.一種光信息記錄再現裝置,其對具有第一層和第二層的光信息記錄介質進行信息的記錄或者再現,該光信息記錄再現裝置的特征在于,包括:
對所述光信息記錄介質照射激光的拾取器;
使所述光信息記錄介質旋轉的電機;
根據從所述拾取器讀出的信號進行缺陷檢測的缺陷檢測單元;和
控制單元,其進行控制,使得在所述第一層中的信息記錄時檢測出所述缺陷的情況下,將與所述缺陷的檢測位置對應的第二層中的規定區域作為缺陷區域,進行所述信息的記錄。
2.根據權利要求1所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述控制單元進行控制,使得從所述光信息記錄介質讀出表示所述缺陷區域的列表的信息。
3.根據權利要求1或2所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述規定區域的半徑方向的距離為所述第一層與所述第二層的接合誤差以上。
4.根據權利要求1所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述控制單元進行控制,使得變更對所述缺陷區域的信息記錄失敗的情況下的重試動作。
5.根據權利要求1所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述控制單元進行控制,使得變更對所述缺陷區域和與該缺陷區域鄰接的區域的信息記錄失敗的情況下的重試動作。
6.根據權利要求4所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述重試動作的變更是指減少重試次數或者不進行重試。
7.根據權利要求4所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述重試動作的變更是指記錄速度和記錄方式的變更。
8.根據權利要求1所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述控制單元進行控制,使得在所述缺陷區域進行記錄的情況下,變更記錄動作。
9.根據權利要求1所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述控制單元進行控制,使得在所述缺陷區域或者與該缺陷區域鄰接的區域進行信息記錄的情況下,變更記錄動作。
10.根據權利要求8所述的光信息記錄再現裝置,其特征在于:
所述控制單元通過降低記錄速度或者以寫后讀方式進行記錄,進行所述記錄動作的變更。
11.一種光信息再現裝置,其從具有第一層和第二層的光信息記錄介質進行信息的再現,該光信息再現裝置的特征在于,包括:
對所述光信息記錄介質照射激光的拾取器;
使所述光信息記錄介質旋轉的電機;和
控制單元,其進行控制,使得在登記有在所述第一層中在規定的地址中存在缺陷的情況下,將與所述缺陷的登記位置對應的第二層中的規定區域作為缺陷區域,進行所述信息的再現。
12.根據權利要求11所述的光信息再現裝置,其特征在于:
所述控制單元進行控制,使得從所述光信息記錄介質讀出表示所述缺陷區域的列表的信息。
13.根據權利要求11或12所述的光信息再現裝置,其特征在于:
所述規定區域的半徑方向的距離為所述第一層與所述第二層的接合誤差以上。
14.根據權利要求11所述的光信息再現裝置,其特征在于:
所述控制單元在所述缺陷區域和與該缺陷區域鄰接的區域中,不進行聚焦伺服引入。
15.一種光信息記錄介質,其具有第一記錄層和第二記錄層,該光信息記錄介質的特征在于:
對所述第一記錄層的記錄區域分配有地址,
對所述第二記錄層的記錄區域分配有地址,
所述第二記錄層的記錄區域具有按照規定范圍的地址分割出的多個區域,
所述第一記錄層中的地址與所述第二記錄層中的區域相對應,
在所述第一記錄層中檢測出缺陷的情況下,將與在所述第一記錄層中檢測出缺陷的地址相對應的區域登記為缺陷區域,
所述缺陷區域的半徑方向的距離為所述第一記錄層與所述第二記錄層的接合誤差的值以上。
16.根據權利要求15所述的光信息記錄介質,其特征在于:
在所述多個區域中,具有記錄表示哪個區域是缺陷區域的缺陷區域信息的區域。
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