[發明專利]地磁檢測裝置

有效

• 申請號: 200910204610.2
• 申請日: 2005-10-07
• 公開（公告）號: CN101726291A
• 公開（公告）日: 2010-06-09
• 發明（設計）人: 安井彰司;大村昌良;金子誠;佐藤秀樹
• 申請（專利權）人: 雅馬哈株式會社
• 主分類號: G01C17/38
• 分類號: G01C17/38;G01V3/40;G01K7/01
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 何立波;張天舒

1.一種地磁檢測裝置，其包括：地磁檢測元件，用于檢測地磁 的正交軸分量；以及熱變成型非易失性存儲元件，用于存儲用來校正 由相關的地磁檢測元件檢測的輸出的校正信息，

其中，所述校正信息包括軸靈敏度校正系數和軸間校正系數， 并且被表示為相對于任一軸的軸靈敏度校正系數的比率值。

2.如權利要求1所述的地磁檢測裝置，其中，所述非易失性存 儲元件存儲最小量的校正信息，所述校正信息與除所述任一軸的軸靈 敏度校正系數之外的軸靈敏度校正系數相關。

3.如權利要求2所述的地磁檢測裝置，其使用如下差值作為與 除所述任一軸的軸靈敏度校正系數之外的軸靈敏度校正系數相關的 校正信息，所述差值是通過從該軸靈敏度校正系數的相對于軸靈敏度 校正系數的比率減去預設標準值而獲得的。

4.如權利要求1至3中任意一項所述的地磁檢測裝置，其設置 有用于對所述地磁檢測元件的檢測輸出進行校正計算的校正計算電 路，

其中，該校正計算電路將軸靈敏度校正系數乘以檢測輸出以進 行校正，并且加上如下校正項：即，通過將軸間校正系數與另一個軸 的檢測輸出相乘而獲得的校正項。

5.如權利要求4所述的地磁檢測裝置，其中，該校正計算電路 在所述標準值與所述差值相加并且復原軸靈敏度校正系數之后，進行 校正計算。

6.如權利要求4所述的地磁檢測裝置，其中，所述校正計算電 路通過用預設的替代值來代替不能從所述校正信息中獲得的校正系 數而進行計算。

7.如權利要求5所述的地磁檢測裝置，其中，所述校正計算電 路通過用預設的替代值來代替不能從所述校正信息中獲得的校正系 數而進行計算。

8.一種地磁檢測裝置，包括：

地磁檢測元件，用于檢測每一個正交軸分量的地磁；以及

熱變成型非易失性存儲元件，用于存儲一個或多個校正數據， 所述校正數據用來校正所述檢測到的地磁值，

其中，每一個所述校正數據均被表示為如下數據相對于任一軸 的軸靈敏度校正系數的比率值，所述數據為軸靈敏度校正系數、或軸 間校正系數、或通過從軸靈敏度校正系數中減去預設標準值而獲得的 差值。

9.如權利要求8所述的地磁檢測裝置，其中，所述校正數據中 的至少一個是如下比率值：即，是除與所述任一軸相關的軸靈敏度校 正系數之外的軸靈敏度校正系數相對于所述任一軸的軸靈敏度校正 系數的比率值。

10.如權利要求8所述的地磁檢測裝置，其中，所述校正數據 中的至少一個是如下差值相對于任一軸的所述軸靈敏度校正系數的 比率值：即，通過從與除所述任一軸之外的軸相關的軸靈敏度校正系 數中減去指定標準值而獲得的差值。

11.如權利要求8所述的地磁檢測裝置，其設置有用于對所述 地磁檢測元件檢測到的每一個正交軸分量的地磁值進行校正的校正 計算電路，

其中，所述校正計算電路通過計算出以下兩個乘積值的和來獲 得被校正的地磁值：第一個乘積值是通過將規定軸分量的地磁值乘以 通過將指定值與如下比率相加而獲得的相加值來獲得的，所述比率為 如下數據相對于所述任一軸的軸靈敏度校正系數的比率，所述數據為 所述規定軸分量的軸靈敏度校正系數或通過從所述規定軸分量的軸 靈敏度校正系數中減去指定標準值而獲得的差值；第二個乘積值是通 過將另一軸分量的地磁值和如下比率值相乘而獲得的，所述比率值為 所述軸間校正系數相對于所述任一軸分量的軸靈敏度校正系數的比 率值。