[發明專利]光纖直流磁光探測系統和方法有效
| 申請號: | 200910202166.0 | 申請日: | 2009-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN101769999A | 公開(公告)日: | 2010-07-07 |
| 發明(設計)人: | 袁海駿 | 申請(專利權)人: | 上海舜宇海逸光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R33/032 | 分類號: | G01R33/032;G01R19/00 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛 |
| 地址: | 201203上海市浦東新區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光纖 直流 探測 系統 方法 | ||
1.一種光纖直流磁光探測系統,其特征在于,所述系統包括:電 源和信號處理模塊、光纖裝置、參考裝置和磁光探頭;其中,
電源和信號處理模塊,用于通過所述光纖裝置向所述磁 光探頭發送激光;以及分兩路接收來自所述磁光探頭的由所 述激光承載的光信號,并分別將兩路光信號轉變為兩路電信 號,根據所述參考裝置發送的參考磁場脈沖信號對所述兩路 電信號進行處理,得到測量點的自身磁場信息和/或電流信息;
光纖裝置,用于將來自所述電源和信號處理模塊的激光 分成兩路,分別將所述兩路激光發送至所述磁光探頭的兩端, 以及將來自所述磁光探頭的光信號分兩路發送至所述電源和 信號處理模塊;
參考裝置,用于在測量點產生一個幅值和形狀已知的參 考磁場脈沖信號;
磁光探頭,用于檢測所述測量點的磁場信號,將所述磁 場信號轉變為光信號,所述磁場信號為所述參考磁場脈沖信號 和所述測量點產生的自身磁場信號疊加后的信號;還用于接收 所述兩路激光,將轉變后的光信號分別承載在所述兩路激光上 發送。
2.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述電源和信號處 理模塊包括:
激光器,用于通過所述光纖裝置向所述磁光探頭發送激 光;
兩個光電探測器,用于分別接收來自所述磁光探頭的由 所述激光承載的光信號,分別將所述光信號轉變為電信號后發 送;
控制和信號處理模塊,用于接收所述兩個光電探測器發 送的電信號,根據所述參考裝置發送的參考磁場脈沖信號對 所述電信號進行處理,得到所述測量點的磁場信息和/或電流 信息。
3.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述光纖裝置包括:
分路器,用于將來自所述電源和信號處理模塊的激光分 成兩路;
第一回路器和第二回路器,用于分別將所述分路器發出 的兩路激光發送至所述磁光探頭的兩端,以及分別接收來自所 述磁光探頭發送的由所述激光承載的光信號,并分別將所述光 信號發送至所述電源和信號處理模塊。
4.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述電源和信號處 理模塊包括:兩組光處理子模塊、控制和信號處理模塊和參考 激光器,其中,
所述兩組光處理子模塊都包括:
激光器,用于通過所述光纖裝置向一個磁光探頭發 送激光;
兩個光電探測器,用于分別接收來自所述磁光探頭 的由所述激光承載的光信號,分別將所述光信號轉變為電 信號后發送;
控制和信號處理模塊,用于接收所述兩組光處理子模塊 發送的電信號,根據所述參考裝置發送的參考激光信號對所述 電信號進行處理,得到所述測量點的磁場信息和/或電流信息;
參考激光器,用于在指定時間通過所述光纖裝置向所述 參考裝置發送指定強度的參考激光信號;
相應地,所述參考裝置,用于根據所述參考激光信號在 測量點產生幅值和形狀已知的參考磁場脈沖信號;
相應地,所述光纖裝置包括兩組傳輸模塊,所述兩組傳 輸模塊都包括:
分路器,用于將來自一組光處理子模塊的激光分成 兩路;
兩個回路器,用于分別將所述分路器發出的兩路激 光發送至一個磁光探頭的兩端,以及分別接收來自所述磁 光探頭發送的由所述激光承載的光信號,并分別將所述光 信號發送至所述電源和信號處理模塊;
相應地,所述磁光探頭為兩個,分別對稱地置于所述測 量點的兩側。
5.根據權利要求4所述的系統,其特征在于,
所述參考裝置包括:
光電轉換模塊,用于通過傳導光纖接收來自所述電 源和信號處理模塊的參考激光信號,將所述參考激光信號 轉變為電流信號輸出;以及
套在一個磁光探頭外面的第一線圈和套在另一個磁光探 頭外面的第二線圈,所述第一線圈和所述第二線圈通過導線并 聯到所述光電轉換模塊的電流輸出端以接收所述電流信號,用 以產生幅值和形狀已知的參考磁場脈沖信號。
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