[發(fā)明專利]觀測微型對象的探測儀及操作方法

有效

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• 申請日: 2009-12-31
• 公開（公告）號: CN101770070A
• 公開（公告）日: 2010-07-07
• 發(fā)明（設計）人: 馬宇塵
• 申請（專利權）人: 上海杰遠環(huán)保科技有限公司
• 主分類號: G02B23/00
• 分類號: G02B23/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明屬于電子技術領域，尤其涉及一種觀測微型對象的探測儀及操作方法。

背景技術

隨著科學技術的飛速發(fā)展，人類的探知領域也在不斷擴大，單憑肉眼觀測已無法滿足人類的求知欲望，而顯微鏡的發(fā)明使人類對微觀世界有了更為深入的了解，而所獲得的這些知識指導人們在科學領域、醫(yī)學領域不斷的進取發(fā)展。

而隨著探知領域的深入，需要觀測的對象越來越小，如果想對微小對象進行觀測，比如對細胞進行觀測時候，常會面臨一個主要問題，那就是因為被觀測的對象非常微小，而利用是用高倍的放大率觀測時，常會面臨著數(shù)量非常龐大的觀測對象。

如何對這些龐大數(shù)目的觀測對象進行有效觀測，是一個并不容易解決的問題，但意義很大。在實際的應用中，比如，在對大量的體細胞進行觀察時，為了檢索可能的病變細胞，顯然需要對待檢測的對象進行大量的觀測。這樣不僅耗時耗力，而且因為無法準確區(qū)分已觀測區(qū)域和為觀測區(qū)域，從而造成觀測的重復性，且對于已確定的多個觀測點一一展示時，因為沒有良好的參照點兒需要重新逐一觀測。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種觀測微型對象的探測儀及操作方法，利用本發(fā)明中的陣列式可控透光裝置，在檢測對待探測物體時，可以實現(xiàn)逐一探測，防止重復探測，觀測點定位的功能。

本發(fā)明的目的是提供一種觀測微型對象的探測儀，包括有：

樣品置放板，它是用以放置待探測物體的樣品臺；

陣列式可控透光裝置，它由大量的透光可控單元組成，且每一個透光可控單元，其透光特性均可以得到控制的結構；

光學結構，它是用來進行光學放大，光學取像的結構；

感光結構，它是和前述的光學結構相配合，用以對經(jīng)過光學結構 處理后的待測物體圖像進行感光記錄的結構。

進一步，所述探測儀還包括：

所述探測儀設置有照明光源，它是用于對放置在所述樣品置放板上的待探測物體提供照明的結構；所述照明光源包括有以底部為角度，用以向待觀測的物體提供照明的底部照明光源，及以側(cè)部為角度，用以向待觀測的物體提供照明的側(cè)部照明光源。

所述樣品置放板為透光板，它是用于讓上述底部照明光源直接穿透，照射待探測物體的樣品臺。

所述陣列式可控透光裝置為液晶矩陣層，它是針對每一個透光可控單元，對應設置有一個液晶層單元，通過電源控制所述液晶層單元的透光性的結構。

所述陣列式可控透光裝置設置有透光區(qū)域控制模塊，它是用于控制所述透光可控單元形成透光區(qū)域，透光區(qū)域范圍，并規(guī)劃透光區(qū)域行進路線的結構。

所述陣列式可控透光裝置設置有坐標對應模塊，它是用于當用戶確定待探測物體的觀測點時，記錄所述觀測點對應的透光可控單元的坐標位置的結構。

所述陣列式可控透光裝置是由至少一種呈幾何多邊形的透光可控單元組成的結構。

本發(fā)明的另一目的是提供一種觀測微型對象的探測儀的操作方法，包括有：

步驟1，設置待探測物體于樣品置放板上；

步驟2，設置陣列式可控透光裝置，所述陣列式可控透光裝置所含透光可控單元，驅(qū)動所述陣列式可控透光裝置中透光可控單元的透光度，形成透光區(qū)域；

步驟3，通過所述透光區(qū)域，利用光學結構觀測待探測物體，確定觀測點；

步驟4，通過感光結構，記錄步驟3中所確定的觀測點的圖像資料。

進一步，所述探測儀的操作方法還包括：

在步驟1中，所述帶探測物體是置于具有照明光源照明的樣品置放板上。

在步驟2中，所述透光區(qū)域的開啟或者關閉路線為自行或者預先設定的。

本發(fā)明的優(yōu)點在于：利用本發(fā)明提供的觀測微型對象的探測儀，對應著待探測物體，設置陣列式可控透光裝置，該裝置包含有大量的透光可控單元。每次觀測時，可以只將一個或一組透光可控單元轉(zhuǎn)變成透光狀態(tài)，形成透光區(qū)域其它部分為不透光狀態(tài)，形成遮蔽區(qū)域。然后，對著該透光區(qū)域呈現(xiàn)的待探測物體的部分結構獨立成像。然后再變換其它的透光可控單元，形成新的透光狀態(tài)，繼續(xù)觀察。以此原理，來對數(shù)量龐大的待探測物體進行圖像觀測，而且在觀測過程中不會出現(xiàn)重復觀測的情況，針對已確定需要同時觀測或者比對的多個觀測點，可以控制陣列式可控透光裝置，同時對所述多個觀測點設置透光區(qū)域，亦可標記所述多個觀測點的透光可控單元坐標位置，在光學結構或者感光結構中加注，顯示給用戶。

附圖說明

下面結合附圖對本發(fā)明進行更詳細的說明。

圖1是本發(fā)明所述觀測微型對象的探測儀的設備主要結構圖。