[發(fā)明專利]帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910201879.5 | 申請日: | 2009-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN102082111A | 公開(公告)日: | 2011-06-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王雷 | 申請(專利權(quán))人: | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/762 | 分類號: | H01L21/762;H01L21/764 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 王函 |
| 地址: | 201206 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 空氣 間隙 隔離 制造 方法 | ||
1.一種帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
(1)光刻刻蝕硅基板形成深隔離槽;
(2)在深隔離槽的側(cè)壁成長側(cè)壁保護(hù)層;
(3)贗層材料填充部分深隔離槽;
(4)覆蓋介質(zhì)層填充深隔離槽;
(5)光刻刻蝕覆蓋介質(zhì)層,在深隔離槽中心產(chǎn)生小孔;
(6)去除贗層材料;
(7)介質(zhì)層填充覆蓋介質(zhì)層的小孔,在深隔離槽內(nèi)形成空氣間隙;
(8)回刻或通過化學(xué)機(jī)械拋光去除有源區(qū)上的介質(zhì)層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(1)中的刻蝕采用光刻膠為掩膜的干法刻蝕,或以氧化物、氮化物或碳化物為第二層硬掩膜的干法刻蝕。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的帶空氣間隙的深隔離槽的刻蝕方法,其特征是,如果步驟(1)采用以氧化物、氮化物或碳化物為第二層硬掩膜的干法刻蝕,后續(xù)應(yīng)該有去除該第二層硬掩膜的工藝。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(6)所述去除贗層材料采用加熱揮發(fā)贗層材料,或者采用HF去除贗層材料。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,當(dāng)步驟(6)采用加熱揮發(fā)贗層材料去除贗層材料時(shí),步驟(2)中的側(cè)壁保護(hù)層材料為氧化物,氮化物或碳化物;步驟(3)中的贗層材料為常溫下為液態(tài),100~250℃加熱后為固態(tài),250~400℃下可以汽化的材料。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(6)中所述加熱揮發(fā)贗層材料的加熱汽化溫度為250℃~400℃。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,當(dāng)步驟(6)采用加熱揮發(fā)贗層材料去除贗層材料時(shí),步驟(4)中的覆蓋介質(zhì)層材料成膜的溫度不能高于贗層材料的汽化溫度,因此該步驟采用低溫成膜工藝,可采用SOG成膜工藝或低溫ALD成膜工藝。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,當(dāng)步驟(6)采用HF去除贗層材料時(shí),步驟(2)中的側(cè)壁保護(hù)層材料為SiN或SiC,步驟(3)中的贗層材料為SiO2,步驟(4)中的覆蓋介質(zhì)層材料為SiN或SiC。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(5)中的光刻區(qū)域尺寸大小為0.02微米~1/2的深隔離槽尺寸之間,且刻蝕完成后底部小孔尺寸<0.5微米。
10.根據(jù)權(quán)利要求1或9所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(5)中的刻蝕方法可以為濕法刻蝕工藝或干法刻蝕工藝。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(7)中的介質(zhì)層填充采用常規(guī)的介質(zhì)層沉積工藝,可采用PVD,CVD或HDP工藝。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(8)中所述去除有源區(qū)上的介質(zhì)層,同時(shí)保證在深隔離槽中空氣間隙上方的介質(zhì)層>500埃。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(8)中所述去除有源區(qū)上的介質(zhì)層,可以殘留20~1000埃的介質(zhì)層作為后續(xù)注入的阻擋層,然后在后續(xù)的濕法工藝中去除,同時(shí)保證在深隔離槽中空氣間隙上方的介質(zhì)層>500埃。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(7)中,所述形成的空氣間隙的橫向及底部接觸為側(cè)壁保護(hù)層材料,上部接觸為覆蓋介質(zhì)層和介質(zhì)層材料。
15.根據(jù)權(quán)利要求1或14所述的帶空氣間隙的深隔離槽的制造方法,其特征是,步驟(7)中,所述形成的空氣間隙橫向尺寸由側(cè)壁保護(hù)層決定,深度由贗層材料填充深度決定。
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





