[發(fā)明專利]一種具有雙光路系統(tǒng)的高精度露點儀

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910200734.3
• 申請日: 2009-12-24
• 公開（公告）號: CN102109479A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發(fā)明（設計）人: 楊文舉;王志蘭
• 申請（專利權(quán)）人: 上海莫克電子技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01N25/66
• 分類號: G01N25/66
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種露點儀。

背景技術(shù)

測量精度是露點儀的重要性能指標，尤其是在實驗室使用過程中，對于露點儀的測量精度要求更加高。而通常的露點儀，由于測量過程中的非線性偏移，以及光線的散射等原因容易造成較大的誤差。同時，露點測量在很大程度上依賴于測量人員及時準確的觀察，如果觀察不準確，則亦無法達到較好的準確度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的就是解決上述問題，提高露點儀測量結(jié)果的精確性。為實現(xiàn)該目的，本發(fā)明提供一種具有雙光路系統(tǒng)的高精度露點儀，采用冷鏡式露點測量原理，其特點在于傳感系統(tǒng)包括溫度傳感器、雙光路探測系統(tǒng)和觀測系統(tǒng)。

優(yōu)選的，所述溫度傳感器為鉑絲熱電阻傳感器，其結(jié)構(gòu)還包括傳感器前置放大電路和單片機線路兩部分。

優(yōu)選的，單片機線路部分包括A/D轉(zhuǎn)換電路和非線性校正軟件控制系統(tǒng)，所述非線性校正軟件控制系統(tǒng)，把輸入信號按照不同的溫度值劃分為不同段，再根據(jù)其所在的段分別乘以不同的補償系數(shù)，進行校正。

優(yōu)選的，所述雙光路探測系統(tǒng)，對反射光和散射光同時進行測量。

優(yōu)選的，所述觀測系統(tǒng)，包括一個觀察顯微鏡，對于鏡面進行觀察。

本發(fā)明的優(yōu)點在于，通過非線性校正軟件和雙光路探測系統(tǒng)，極大的提高了測量精確性。

附圖說明

圖1展示了本發(fā)明的結(jié)構(gòu)圖。

具體實施方式

實施例一

請參見圖1，圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)圖。本發(fā)明中，露點儀的傳感系統(tǒng)包括溫度傳感器、雙光路探測系統(tǒng)和觀測系統(tǒng)。其中溫度傳感器為鉑絲熱電阻傳感器，其結(jié)構(gòu)還包括傳感器前置放大電路和單片機線路兩部分，單片機線路部分包括A/D轉(zhuǎn)換電路和非線性校正軟件控制系統(tǒng)，所述非線性校正軟件控制系統(tǒng)，把輸入信號按照不同的溫度值劃分為不同段，再根據(jù)其所在的段分別乘以不同的補償系數(shù)，進行校正。傳感系統(tǒng)中的雙光路探測系統(tǒng)，可以對反射光和散射光同時進行測量。觀測系統(tǒng)，包括一個觀察顯微鏡，對于鏡面進行觀察，便于使用者準確及時的觀測結(jié)果。

本發(fā)明優(yōu)點在于，溫度傳感器中的單片機線路可以有效的對非線性偏移進行校正，同時雙光路探測系統(tǒng)增加了系統(tǒng)對于光線的敏感性，提高測量精確度。并且采用觀察顯微鏡讓使用者可以更加方便、準確的觀測結(jié)果。

本發(fā)明提供的一種具有雙光路系統(tǒng)的高精度露點儀，以上實施例僅用以說明，而非限制本發(fā)明的技術(shù)方案。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應當理解：對本發(fā)明進行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明的精神和范圍的任何修改或局部替換，均應涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當中。