[發明專利]一種帶通濾波器測試電路及其設計方法

無效

• 申請號: 200910198843.6
• 申請日: 2009-11-17
• 公開（公告）號: CN102062835A
• 公開（公告）日: 2011-05-18
• 發明（設計）人: 徐棟;徐玉婷;沈天平;彭云武;羅先才;徐興明
• 申請（專利權）人: 無錫華潤矽科微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 王潔

技術領域

本發明涉及測試電路，尤其涉及一種帶通濾波器測試電路及其設計方法。

背景技術

目前，連續時間的低頻帶通濾波器被運用在各種測試電路中，如紅外信號接收電路。在CMOS工藝中，由于工藝的波動，帶通濾波器的中心頻率會發生較大的變動，因而需要首先測定帶通濾波器的中心頻率，然后通過熔絲來調節中心頻率，使得帶通濾波器的中心頻率滿足設計的要求。

由于此連續時間的帶通濾波器內置在測試電路內部，其前級輸入為放大器等結構，會對輸入信號造成限幅等影響，后級輸出包含解調電路，從而無法正常從輸出端口測試其中心頻率，因而需要采用特殊的帶通濾波器測試電路。

如圖1所示，傳統的帶通濾波器測試電路連接關系：IN是信號輸入端口，其后是依次相連的帶通濾波器前級結構PRE?BLOCK、可控增益放大器VGA、帶通濾波器BPF、帶通濾波器后級結構POST?BLOCK等模塊。T2PAD通過一個T1信號控制的傳輸門連接到可控增益放大器VGA模塊，T3PAD通過一個T1信號控制的傳輸門連接到帶通濾波器BPF的輸出。T1信號通過一個反相器產生T1N信號，控制兩個傳輸門。傳統的帶通濾波器測試電路正常工作模式及測試模式如下。

正常工作模式：信號從IN輸入PRE?BLOCK模塊，經預處理后進入VGA進行增益調整，VGA的增益由電路自動控制調節。經過增益調整后的信號輸入帶通濾波器，濾除帶外信號。帶通濾波器輸出的信號經過POST?BLOCK的處理，由OUT輸出。

測試模式：T1信號為低電平時，電路進入測試模式，連接T2和T3的傳輸門打開。信號從IN輸入，經過PRE?BLOCK處理后進入VGA。VGA的增益由T2提供的電平決定。經過VGA增益調整的信號，進入BPF帶通濾波器。BPF的輸出通過連接T3的傳輸門，從T3輸出。通過在輸入端IN加載不同載波頻率的測試信號，檢測T3輸出信號在不同頻率下的衰減，可以有效的檢測出BPF的中心頻率。通過熔絲等手段的調節，可以將BPF的中心頻率調整到需要的數值。

由上述內容可知，傳統的帶通濾波器測試電路為：設置3個測試PAD，T1、T3、T3。T1PAD輸入的電平信號控制測試電路進入測試模式、T2PAD輸入的電平信號控制輸入帶通濾波器的測試信號的增益、T3PAD用于輸出通過帶通濾波器的輸出信號而進行測試。因而，傳統的帶通濾波器測試方法需要添加3個測試PAD，從而導致增加測試電路芯片面積、提高生產成本的缺陷。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測試輸入點少的帶通濾波器測試電路及其設計方法。

本發明提供一種帶通濾波器測試電路，它包含依次相連的帶通濾波器前級結構、可控增益放大器、帶通濾波器后級結構。其中，測試電路還包含與帶通濾波器及帶通濾波器后級結構相連接的多路復用器，多路復用器用于直接輸出從帶通濾波器輸出的信號。

作為本發明帶通濾波器測試電路的進一步改進，測試電路還包含基準電壓產生電路，該基準電壓產生電路用于控制可控增益放大器的增益。

本發明還提供一種帶通濾波器測試電路的設計方法，測試電路包含依次相連的帶通濾波器前級結構、可控增益放大器、帶通濾波器后級結構及多路復用器，利用多路復用器直接輸出從所述帶通濾波器輸出的信號。

采用本發明的帶通濾波器測試電路及其設計方法，多路復用器可以直接將帶通濾波器輸出的信號直接輸出到測試電路的輸出端口進行測試，基準電壓產生電路產生的基準信號用于控制可控增益放大器的增益而無需測試電路外部輸出電壓電平控制可控增益放大器的增益。因而，通過采用多路復用器及基準電壓產生電路，可有效減少傳統帶通濾波器測試電路的測試輸入點，達到減少測試電路芯片面積、降低生產成本的效果。

附圖說明

圖1是傳統的帶通濾波器的測試電路結構示意圖；

圖2是具體實施方式中采用的第一種帶通濾波器的測試電路結構示意圖；

圖3是具體實施方式中采用的第二種帶通濾波器的測試電路結構示意圖；

圖4是具體實施方式中采用的第三種帶通濾波器的測試電路結構示意圖；

圖5是具體實施方式中采用的第四種帶通濾波器的測試電路結構示意圖；

圖6是本發明圖2、圖4、圖5中多路復用器的電路結構示意圖。

具體實施方式

針對上述傳統帶通濾波器的測試電路的各種缺陷，本發明則提供多種帶通濾波器的測試電路。