[發(fā)明專利]光掩模缺陷的定位裝置及定位方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910197803.X | 申請日: | 2009-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN102053479A | 公開(公告)日: | 2011-05-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 葛海鳴 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/00 | 分類號: | G03F1/00 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 鄭立柱 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光掩模 缺陷 定位 裝置 方法 | ||
1.一種定位裝置,其特征在于,包括:
基座;
氣浮式X-Y兩坐標平面移動臺,固定在基座上,用于將光掩模放置臺在X-Y方向精確移動;
光掩模放置臺,包括固定臺和旋轉臺,固定臺固定在所述氣浮式X-Y兩坐標平面移動臺上,旋轉臺相對于所述氣浮式X-Y兩坐標平面移動臺可旋轉地連接在氣浮式X-Y兩坐標平面移動臺上;X-Y方向反射部件和X-Y方向標記設置在光掩模放置臺的固定臺上;旋轉臺上設置若干真空孔,用于吸附固定光掩模版;
激光定位裝置,設置在基座上,發(fā)出光照射到所述反射部件并接受反射光以測定光掩模放置臺位置;
光掩模上設置粗對準標記和細對準標記;
光掩模激光對準裝置,設置在光掩模放置臺上方,該裝置利用激光掃描光掩模版上的粗對準標記和細對準標記的X-Y方向的邊緣以及光掩模放置臺上的X-Y方向標記,測量出這些粗細對準標記的位置,進而測算出光掩模上對準標記的X-Y方向相對于移動臺的X-Y標記方向的角度,將光掩模的X-Y方向旋轉到與移動臺的X-Y標記方向平行。
2.如權利要求1所述的定位裝置,其特征在于,所述氣浮X-Y兩坐標平面移動臺包括:
第一移動臺,包括兩個并排設置的氣浮導軌和滑動部件,導軌固定在基座上;
第二移動臺,包括一個氣浮導軌和滑動部件,導軌固定在第一移動臺的兩個滑動部件上;
第一直線驅動電機,設置在第一移動臺的兩個氣浮導軌之間,該驅動電機的動子與第二移動臺的導軌底部連接,用于驅動第一移動臺的滑動部件和第二移動臺的導軌,使其在第一方向上相對于第一移動臺的導軌和基座移動;
第二直線驅動電機,設置在第二移動臺的氣浮導軌和滑動部件之間,該驅動電機的動子與第二移動臺的滑動部件底部連接,用于驅動第二移動臺的滑動部件,使其在垂直于第一方向的第二方向上相對于第一移動臺移動。
3.如權利要求1或2所述的定位裝置,其特征在于,光掩模放置臺的旋轉臺與移動臺之間設置旋轉臺托盤,該托盤固定在移動臺上,旋轉臺相對于該托盤可轉動地與其連接。
4.如權利要求1~3任一所述的定位裝置,其特征在于,旋轉驅動電機設置在旋轉臺托盤或移動臺中,旋轉臺與旋轉驅動電機的動子連接,旋轉臺托盤或移動臺與旋轉驅動電機的定子連接。
5.如權利要求4所述的定位裝置,其特征在于,旋轉臺與旋轉臺托盤或移動臺通過旋轉軸部件連接,旋轉軸部件的一端與旋轉臺連接,另一端與旋轉驅動電機的動子連接,旋轉驅動電機的定子與旋轉臺托盤或移動臺連接。
6.如權利要求1~5任一所述的定位裝置,其特征在于,移動臺中,或者移動臺和旋轉臺托盤和/或旋轉軸部件中,具有真空通道與旋轉臺的真空孔相連通。所述的旋轉軸部件具有內部真空通道,其頂部與光掩模放置臺連接,其底部與旋轉電機的動子連接,光掩模放置臺的真空通道與旋轉軸部件的真空通道相連通。
7.如權利要求6所述的定位裝置,其特征在于,所述的真空孔是三個。
8.一種光掩模缺陷修復裝置,其特征在于,包括權利要求1~7中任一所述的定位裝置。
9.一種光掩模缺陷的定位方法,包括如下步驟:
a.將光掩模版置于光掩模放置臺上,抽真空,使光掩模版牢固吸附在光掩模放置臺上,以使光掩模相對放置臺的位置固定下來;
b.利用光掩模激光對準裝置,對光掩模進行粗對準和細對準,利用激光掃描光掩模版上的粗細對準標記的X-Y方向的邊緣以及光掩模放置臺上的X-Y方向標記,測量出這些粗細對準標記的位置,進而測算出光掩模上對準標記的X-Y方向相對于移動臺的X-Y標記方向的角度,將光掩模的X-Y方向旋轉到與移動臺的X-Y標記方向平行,然后定義光掩模版上(0,0)坐標的位置;
c.以光掩模上所述位置為(0,0)點建立X-Y坐標系統(tǒng),與移動臺的X-Y坐標系統(tǒng)有一一對應的相對位移關系;
d.根據(jù)檢驗出的缺陷位置,在光掩模制作設計的圖形數(shù)據(jù)庫中找到與缺陷位置相對應的精確坐標;將所述缺陷坐標輸入到所述移動臺坐標系統(tǒng);
e.利用激光定位裝置,控制移動臺的精確的位置移動,將光掩模的缺陷位置精確地移動到修復腔體正下方。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





