[發(fā)明專利]電子微鏡器件的測試方法及裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910197505.0
• 申請日: 2009-10-21
• 公開（公告）號: CN101694513A
• 公開（公告）日: 2010-04-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉一清;王淑仙;李小進(jìn);張應(yīng)均
• 申請（專利權(quán)）人: 華東師范大學(xué)
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海藍(lán)迪專利事務(wù)所 31215
• 代理人: 徐筱梅

1.一種電子微鏡器件的測試裝置，其特征在于該裝置包括：

一核心邏輯功能驗證電路，用于裝置控制與計算核心；

一高速數(shù)據(jù)存儲器，連接到核心邏輯功能驗證電路，用于存儲原始數(shù)據(jù)幀、位數(shù)據(jù)幀和位效果數(shù)據(jù)幀；

一控制信號產(chǎn)生器，連接到核心邏輯功能驗證電路，根據(jù)外部輸入觸發(fā)信號產(chǎn)生信息交換信號；

一測試信號發(fā)生器，連接到核心邏輯功能驗證電路，并發(fā)送測試信號至被測電子微鏡器件；其中測試信號中包含原始數(shù)據(jù)幀和位數(shù)據(jù)幀，而位數(shù)據(jù)幀由原始數(shù)據(jù)幀進(jìn)行運(yùn)算所得；

以及一測試信號檢測器，連接到核心邏輯功能驗證電路，并接收被測電子微鏡器件返回信號；

所述核心邏輯功能驗證電路、高速數(shù)據(jù)存儲器、控制信號產(chǎn)生器、測試信號發(fā)生器及測試信號檢測器裝載于一片可編程器件(FPGA)之中。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于控制信號產(chǎn)生器連接一低速串行接口。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于所述核心邏輯功能驗證電路與測試信號發(fā)生器之間用256位超寬數(shù)據(jù)總線連接。

4.一種電子微鏡器件的測試方法，其特征在于該方法包括如下步驟：

a)選定被測電子微鏡器件，并連接至測試信號發(fā)生器及測試信號檢測器；

b)外部指令信號由控制信號產(chǎn)生器輸至核心邏輯功能驗證電路，產(chǎn)生原始數(shù)據(jù)幀并存儲到高速數(shù)據(jù)存儲器；

c)原始數(shù)據(jù)幀被核心邏輯功能驗證電路運(yùn)算轉(zhuǎn)換為位數(shù)據(jù)幀；

d)位數(shù)據(jù)幀經(jīng)測試信號發(fā)生器送至被測電子微鏡器件，被測電子微鏡器件接收到的信號是位數(shù)據(jù)幀的串行化；被測電子微鏡器件接收到串行化的位數(shù)據(jù)幀后，其相應(yīng)的單元產(chǎn)生置位或者復(fù)位；

e)測試信號檢測器逐位檢測所產(chǎn)生的置位或者復(fù)位、并將其存儲于高速數(shù)據(jù)存儲器中，得到位效果數(shù)據(jù)幀；

f)通過核心邏輯功能驗證電路對位效果數(shù)據(jù)幀與位數(shù)據(jù)幀進(jìn)行邏輯關(guān)系判斷，并給出相應(yīng)的指示信號。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試方法，其特征在于步驟b所述外部指令信號由低速串行接口得到。