[發(fā)明專利]平面光學(xué)元件的面形偏差測量方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910196710.5 | 申請日: | 2009-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN101672631A | 公開(公告)日: | 2010-03-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 江曉軍;劉正國 | 申請(專利權(quán))人: | 上海第二工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24;G06N3/02;G06N3/08 |
| 代理公司: | 上海東創(chuàng)專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 寧芝華 |
| 地址: | 201209上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 平面 光學(xué) 元件 偏差 測量方法 | ||
1.一種平面光學(xué)元件的面形偏差測量方法,其特征在于按照如下方法進行:
A)攝像頭將標準樣板標準光圈的干涉條紋圖像數(shù)據(jù)進行采集,通過USB接口將采集到的標準樣本圖像數(shù)據(jù)傳送給DSP進行數(shù)字信號處理:
a)建立接收到的干涉條紋圖像與顯示裝置上顯示圖形的映射關(guān)系;
b)按建立的映射關(guān)系將干涉條紋圖像送到顯示裝置進行顯示;
c)將干涉條紋圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像;
d)對灰度圖像進行濾波及二值化處理;
e)在處理后的干涉條紋圖像中,選取與此圖像同心的圓形區(qū)域作為測試區(qū)域,再求取該測試區(qū)域中干涉條紋的數(shù)據(jù):干涉條紋的彎曲量、干涉條紋間距及干涉條紋彎曲量與干涉條紋間距的比值;
f)判斷是否已確定BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),如果是,則轉(zhuǎn)步驟D),否則繼續(xù)步驟g);
g)將測試區(qū)域按比例擴大,對新測試區(qū)域,再求取干涉條紋的數(shù)據(jù);
h)判斷是否得到指定組樣本數(shù)據(jù),如果是,則轉(zhuǎn)步驟B)否則進入步驟g);
B)用步驟e)和步驟g)中干涉條紋的數(shù)據(jù)對BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進行訓(xùn)練:首先建立三層BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),將各測試區(qū)域中干涉條紋彎曲量、干涉條紋間距和測試區(qū)域直徑作為輸入樣本,將各測試區(qū)域中干涉條紋彎曲量與干涉條紋間距的比值作為輸出樣本,對BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進行訓(xùn)練;訓(xùn)練先從輸入層開始正向計算各層神經(jīng)元的輸入和輸出,逐層修改BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的連接權(quán)值,直至輸出節(jié)點的實際輸出與輸出節(jié)點的期望輸出的誤差平方和不大于給定的誤差平方和時,結(jié)束對BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練;
C)確定要采用的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
D)攝像頭將被測平面光學(xué)元件的干涉條紋圖像數(shù)據(jù)進行采集,通過USB接口將采集到的圖像數(shù)據(jù)傳送給DSP,DSP按步驟a)~步驟e)進行數(shù)字信號處理,得到的測量數(shù)據(jù)送入由步驟C)所確定的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進行計算;
E)BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)輸出面形偏差值,并送入DSP的緩存區(qū);
F)DSP將步驟E)中面形偏差值送入顯示裝置進行顯示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面光學(xué)元件的面形偏差測量方法,其特征在于:A)e)中所述的測試區(qū)域,該區(qū)域進行第一次選擇時占整個圖像區(qū)域面積的比例范圍是50%~95%。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面光學(xué)元件的面形偏差測量方法,其特征在于:A)g)中所述的將測試區(qū)域按比例擴大,該區(qū)域進行擴大的比例范圍是0.2%~5%。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面光學(xué)元件的面形偏差測量方法,其特征在于:A)h)中所述的指定組樣本數(shù)據(jù)不小于40組樣本數(shù)據(jù)。
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