[發(fā)明專利]強(qiáng)度關(guān)聯(lián)遠(yuǎn)場(chǎng)無(wú)透鏡成像裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910195346.0 | 申請(qǐng)日: | 2009-09-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101701903A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓申生;龔文林;張鵬黎;沈夏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/01 | 分類號(hào): | G01N21/01;G01N21/49 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 強(qiáng)度 關(guān)聯(lián) 遠(yuǎn)場(chǎng)無(wú) 透鏡 成像 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)成像領(lǐng)域,具體地說(shuō)是一種強(qiáng)度關(guān)聯(lián)遠(yuǎn)場(chǎng)無(wú)透鏡成像裝置。
背景技術(shù)
在無(wú)透鏡系統(tǒng)中,投影成像在安檢之類的實(shí)際應(yīng)用中有著重大的應(yīng)用,它是一種通過(guò)光場(chǎng)的自由傳播直接獲取目標(biāo)實(shí)空間像的方法。自從我國(guó)古代公元前400多年前《墨經(jīng)》中和古希臘公元前3世紀(jì)亞里士多德的作品中,便提到了有關(guān)投影成像的原理,如小孔成像。基于光場(chǎng)的一階相關(guān)特性和近場(chǎng)區(qū)光的自由傳播,小孔成像是唯一獲取目標(biāo)物體放大率M>1的實(shí)空間像的無(wú)透鏡投影成像方法。在小孔成像的整個(gè)成像過(guò)程中,小孔相對(duì)物體、探測(cè)器相對(duì)于小孔的距離均只能處于近場(chǎng);尤其隨著小孔與探測(cè)器之間距離的增大,當(dāng)探測(cè)器置于遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)的情況下,由于小孔的衍射效應(yīng),傳統(tǒng)的無(wú)透鏡針孔成像系統(tǒng)是無(wú)法獲得物體的實(shí)空間像。而對(duì)于短波長(zhǎng)輻射,其穿透性較強(qiáng)且近場(chǎng)區(qū)較長(zhǎng),所以小孔成像在X射線成像和中子成像中有著廣泛的用途。然而由于短波長(zhǎng)射線存在電離輻射,在安檢過(guò)程中對(duì)人體存在潛在危險(xiǎn)且對(duì)某些人群存在一定的限制,為了獲得無(wú)輻射的安檢系統(tǒng),必須利用長(zhǎng)波長(zhǎng)且有強(qiáng)穿透性的輻射進(jìn)行安檢。太赫茲的微波輻射具有強(qiáng)的穿透能力且對(duì)人體無(wú)輻射作用,但是由于波長(zhǎng)較長(zhǎng),導(dǎo)致很短的距離就處于遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),依靠傳統(tǒng)光學(xué)成像理論在實(shí)際應(yīng)用中很難實(shí)現(xiàn)投影成像,且目前沒(méi)有此波段范圍的照相機(jī)。在長(zhǎng)波波段,由于長(zhǎng)波波段CCD照相機(jī)工藝和制作技術(shù)很難攻關(guān),而且成本昂貴,目前世界上最先進(jìn)的技術(shù)水平也只能做到256×256的紅外CCD,而我國(guó)目前還只能做到4×4的紅外CCD,要想達(dá)到類似可見(jiàn)光波段的照相機(jī)功能,仍然存在巨大的困難。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有投影成像存在的問(wèn)題,本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種強(qiáng)度關(guān)聯(lián)遠(yuǎn)場(chǎng)無(wú)透鏡成像裝置。對(duì)于長(zhǎng)波段成像,目標(biāo)探測(cè)光路無(wú)需長(zhǎng)波段面陣CCD探測(cè)器,只需一個(gè)點(diǎn)探測(cè)器即可,成像過(guò)程且不受景深的限制。通過(guò)對(duì)物光路和參考光路探測(cè)器記錄的強(qiáng)度信息進(jìn)行關(guān)聯(lián)運(yùn)算,便可以獲取目標(biāo)的實(shí)空間像。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明的技術(shù)解決方案如下:
一種強(qiáng)度關(guān)聯(lián)遠(yuǎn)場(chǎng)無(wú)透鏡成像裝置,特點(diǎn)是該裝置包括熱光源、沿該熱光源發(fā)出的光束的前進(jìn)方向設(shè)有分光棱鏡,在該分光棱鏡的透射光束方向依次是置于遠(yuǎn)場(chǎng)的待測(cè)物體和位于該待測(cè)物體反射方向的點(diǎn)探測(cè)器;在該分光棱鏡的反射光束方向是置于遠(yuǎn)場(chǎng)的參考光路面探測(cè)器,所述的點(diǎn)探測(cè)器和參考光路面探測(cè)器的輸出端同時(shí)連接執(zhí)行數(shù)據(jù)采集和進(jìn)行強(qiáng)度關(guān)聯(lián)運(yùn)算的計(jì)算機(jī),所述的參考光路面探測(cè)器的探測(cè)面到熱光源中心的距離z和待測(cè)物體的被探測(cè)面到熱光源中心之間的距離z1滿足下列關(guān)系:
其中:D為熱光源的橫向直徑大小;λ為熱光源的波長(zhǎng),所述的熱光源、點(diǎn)探測(cè)器和參考光路面探測(cè)器同時(shí)由一個(gè)同步信號(hào)發(fā)生器同步觸發(fā)控制同時(shí)工作。
所述的熱光源是稀疏陣多頻小孔光源。
本發(fā)明裝置的工作過(guò)程如下:
所述的熱光源、點(diǎn)探測(cè)器和參考光路面探測(cè)器同時(shí)由一個(gè)同步信號(hào)發(fā)生器同步觸發(fā)控制同時(shí)工作:
(1)、熱光源經(jīng)分光棱鏡分成光透射光束和反射光束,透射光束經(jīng)置于遠(yuǎn)場(chǎng)的待測(cè)物體反射而到達(dá)所述的點(diǎn)探測(cè)器;
(2)、由所述的點(diǎn)探測(cè)器接收記錄來(lái)自待測(cè)物體的反射光的隨時(shí)間的光強(qiáng)信息;
(3)、反射方向直接到達(dá)置于遠(yuǎn)場(chǎng)的有高空間分辨能力的參考光路面探測(cè)器,由參考光路面探測(cè)器接收并記錄來(lái)自熱光源的隨參考光路面探測(cè)器位置的光強(qiáng)分布信息;
(4)、將點(diǎn)探測(cè)器隨時(shí)間的光強(qiáng)信息和參考光路探測(cè)器對(duì)應(yīng)時(shí)刻記錄的參考光路面探測(cè)器位置的光強(qiáng)分布信息存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)中;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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