[發(fā)明專利]適配板、雙工位測試機(jī)的改裝方法和測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910194615.1
• 申請日: 2009-08-26
• 公開（公告）號: CN101995491A
• 公開（公告）日: 2011-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 嚴(yán)大生;岳青;屈微微;郭萬瑾
• 申請（專利權(quán)）人: 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R31/00
• 代理公司: 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237
• 代理人: 屈蘅;李時(shí)云

1.一種適配板，用于將單工位的測試機(jī)改裝成雙工位的測試機(jī)，包括：

蜂窩板，將繼電器組件固定于蜂窩板上的插座，以及轉(zhuǎn)接板；

所述轉(zhuǎn)接板連接所述繼電器組件的引腳，使所述繼電器組件的公共引腳連接單工位測試機(jī)、所述繼電器組件的第一信號引腳連接第一待測芯片的測試端、所述繼電器組件的第二信號引腳連接所述第二待測芯片的測試端，所述第一待測芯片位于第一工位上、所述第二待測芯片位于第二工位上。

2.如權(quán)利要求1所述的適配板，其特征在于，所述繼電器組件中的繼電器為雙刀雙擲繼電器，能同時(shí)測量待測芯片的兩種信號。

3.如權(quán)利要求2所述的適配板，其特征在于，所述繼電器的型號為TQ2-5V。

4.如權(quán)利要求1或2所述的適配板，其特征在于，所述繼電器組件由三個(gè)相同繼電器組成，所述三個(gè)繼電器的第一引腳并聯(lián)同時(shí)接5V電源，所述三個(gè)繼電器的第十引腳并聯(lián)同時(shí)接控制線。

5.一種包括權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的適配板的雙工位測試機(jī)。

6.一種利用權(quán)利要求5所述的雙工位測試機(jī)的測試方法，包括：

將第一待測芯片和第二待測芯片分別放置于所述適配板上的第一工位和第二工位；

測試所述第一待測芯片的信號并記錄；

通過繼電器激活所述第二待測芯片，測試所述第二待測芯片的信號并記錄；

輸出所述第一待測芯片和第二待測芯片的測試結(jié)果。

7.一種利用如權(quán)利要求1至4中任一適配板將單工位測試機(jī)改裝成雙工位測試機(jī)的方法，包括：

確定具有雙工位測試硬件資源的單工位測試機(jī)；

將所述單工位測試機(jī)的程序通過繼電器組件重新設(shè)置，使所述繼電器加電時(shí)測試第一待測芯片，所述繼電器不加電時(shí)測試第二待測芯片；

利用蜂窩板、繼電器組件、插座以及轉(zhuǎn)接板組裝適配板；

連接所述適配板和所述單工位測試機(jī)的對應(yīng)引腳，得到雙工位測試機(jī)。

8.如權(quán)利要求7所述的將單工位測試機(jī)改裝成雙工位測試機(jī)的方法，還包括：利用所述雙工位測試機(jī)進(jìn)行成品測試。

9.如權(quán)利要求7或8所述的將單工位測試機(jī)改裝成雙工位測試機(jī)的方法，其特征在于，所述繼電器組件中的繼電器為雙刀雙擲繼電器，能同時(shí)測量待測芯片的兩種信號。

10.如權(quán)利要求7或8所述的將單工位測試機(jī)改裝成雙工位測試機(jī)的方法，其特征在于，所述繼電器的型號為TQ2-5V。

11.如權(quán)利要求7或8所述的將單工位測試機(jī)改裝成雙工位測試機(jī)的方法，其特征在于，所述繼電器組件由三個(gè)相同繼電器組成，所述三個(gè)繼電器的第一引腳并聯(lián)同時(shí)接5V電源，所述三個(gè)繼電器的第十引腳并聯(lián)同時(shí)接控制線。