[發(fā)明專利]半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測裝置及其檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910193517.6
• 申請日: 2009-10-30
• 公開（公告）號: CN101699240A
• 公開（公告）日: 2010-04-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王鋼;賈維卿
• 申請（專利權(quán)）人: 中山大學(xué)
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01R31/26
• 代理公司: 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102
• 代理人: 禹小明

1.一種半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測裝置，其特征在于：包括中央監(jiān)控及處理計算機(jī)和分別與中央監(jiān)控及處理計算機(jī)連接的快速輻射功率測試儀、電參數(shù)發(fā)生及測量儀、溫度探測器、變環(huán)境測試積分球、參數(shù)分析及等效變換模塊；

物理特性參數(shù)輸入模塊用于采集半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的物理特性參數(shù)；

快速輻射功率測試儀用于采集半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的輻射量數(shù)據(jù)；

電參數(shù)發(fā)生及測量儀用于向半導(dǎo)體照明產(chǎn)品提供所需的電功率，同時測量半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的工作過程中的交流及直流電參數(shù)；

溫度探測器用于探測半導(dǎo)體照明產(chǎn)品內(nèi)、外部測試基點的溫度信號；

變環(huán)境測試積分球用于產(chǎn)生半導(dǎo)體照明產(chǎn)品所需的環(huán)境溫度；

中央監(jiān)控及處理計算機(jī)接收上述輻射量數(shù)據(jù)、交流及直流電參數(shù)、溫度信號及環(huán)境溫度；

參數(shù)分析及等效變換模塊用于將半導(dǎo)體照明產(chǎn)品光電特性及物理特性進(jìn)行歸一化變換，推算出等效數(shù)學(xué)模型狀態(tài)下的工作參數(shù)，中央監(jiān)控及處理計算機(jī)根據(jù)該工作參數(shù)輸出測試數(shù)據(jù)、曲線及綜合分析報告。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測裝置，其特征在于：該電參數(shù)發(fā)生及測量儀包括輸入電功率、電信號發(fā)生模塊，輸入輸出電壓、電流模塊、功率反饋值回讀模塊及功率因數(shù)測試模塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測裝置，其特征在于：半導(dǎo)體照明產(chǎn)品內(nèi)的溫度測試基點為半導(dǎo)體照明光源模組基板。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測裝置，其特征在于：該中央監(jiān)控及處理計算機(jī)還連接一燈具光電特性及物理特性修正模塊，用于對采集到的半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的光電特性及物理特性進(jìn)行修正。

5.一種半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

(1)測試半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的物理特性參數(shù)，通過快速輻射功率測試儀采集半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的輻射量數(shù)據(jù)，在半導(dǎo)體照明產(chǎn)品內(nèi)部的溫度測試基點處貼裝溫度探測器，在半導(dǎo)體照明產(chǎn)品外部的測試基點處貼裝另一溫度探測器，將半導(dǎo)體照明產(chǎn)品與電參數(shù)發(fā)生及測量儀相連接，用于向半導(dǎo)體照明產(chǎn)品提供所需的電功率，同時測量半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的工作過程中的交流及直流電參數(shù)；

(2)將半導(dǎo)體照明產(chǎn)品放入變環(huán)境測試積分球中，并使半導(dǎo)體照明產(chǎn)品內(nèi)、外環(huán)境溫度穩(wěn)定；

(3)通過中央監(jiān)控及處理計算機(jī)讀取半導(dǎo)體照明產(chǎn)品的電參數(shù)值、輻射量數(shù)據(jù)、物理特性參數(shù)值及環(huán)境溫度值；

(4)通過中央監(jiān)控及處理計算機(jī)觸發(fā)同步信號，執(zhí)行穩(wěn)態(tài)熱特性測試，穩(wěn)態(tài)熱特性測試通過各點溫度探測器在環(huán)境溫度穩(wěn)定條件下測試各測試基點的穩(wěn)態(tài)溫度；

(5)重復(fù)步驟3～4，通過電參數(shù)發(fā)生及測量儀改變輸入功率值、通過變環(huán)境測試積分球改變環(huán)境溫度條件測試多組數(shù)據(jù)，測試范圍不超過正常工作態(tài)允許條件下的極限值；

(6)建立等效數(shù)學(xué)模型將半導(dǎo)體照明產(chǎn)品光電特性及物理特性進(jìn)行歸一化變換；

(7)根據(jù)以上步驟測試和分析，輸出半導(dǎo)體照明產(chǎn)品在不同環(huán)境溫度和不同輸入電功率條件下的基點溫度值、等效數(shù)學(xué)模型歸一化的基點溫度數(shù)據(jù)、曲線及綜合分析報告。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體照明產(chǎn)品散熱性能檢測方法，其特征在于：快速輻射功率測試儀采樣頻率、電參數(shù)發(fā)生及測量儀的測量采樣頻率及溫度探測器的溫度采樣頻率保持同步，均由中央監(jiān)控及處理計算機(jī)同步觸發(fā)。