[發(fā)明專利]一種光柵分光光度裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910189834.0 | 申請日: | 2009-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN101672767A | 公開(公告)日: | 2010-03-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 冀艷峰 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市藍(lán)韻實業(yè)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G02B1/00;F21V5/04;F21W131/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518034廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光柵 分光 光度 裝置 | ||
1、一種光柵分光光度裝置,其特征在于:包括沿光的傳播方向依次設(shè)置的光源、前透鏡、反應(yīng)杯、后透鏡、入射狹縫、平場凹面光柵和探測器陣列,所述光源的中心、所述前透鏡、所述反應(yīng)杯、所述后透鏡、所述入射狹縫和所述平場凹面光柵的光軸位于同一直線上,所述前透鏡、所述反應(yīng)杯、所述后透鏡、所述入射狹縫、所述平場凹面光柵和所述探測器陣列的位置關(guān)系保證所述光源發(fā)出的光束經(jīng)所述前透鏡聚焦、所述反應(yīng)杯透射、所述后透鏡聚焦、所述入射狹縫透射、所述平場凹面光柵反射,最后到達(dá)所述探測器陣列上。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述光源設(shè)為鹵鎢燈。
3、根據(jù)權(quán)利要求2所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述前透鏡包括幾何尺寸相同的兩個平凸結(jié)構(gòu)透鏡。
4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述兩個平凸結(jié)構(gòu)透鏡的凸面相對設(shè)置。
5、根據(jù)權(quán)利要求4所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述后透鏡設(shè)為凸面曲率半徑相等的雙凸透鏡。
6、根據(jù)權(quán)利要求5所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述雙凸透鏡的凸面曲率半徑等于所述平凸結(jié)構(gòu)透鏡的凸面曲率半徑。
7、根據(jù)權(quán)利要求6所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述探測器陣列設(shè)為光電二極管探測器陣列。
8、根據(jù)權(quán)利要求7所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:還包括用于模數(shù)轉(zhuǎn)換的AD板,所述AD板與所述探測器陣列相連。
9、根據(jù)權(quán)利要求8所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述AD板置于獨立的安裝室內(nèi)。
10、根據(jù)權(quán)利要求9所述的光柵分光光度裝置,其特征在于:所述光電二極管探測器陣列設(shè)為光電二極管間距不相等的離散式光電二極管探測器陣列。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





