[發明專利]一種高精度鉑電阻測溫系統及基于該系統的測溫方法有效
| 申請號: | 200910184731.5 | 申請日: | 2009-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN101634595A | 公開(公告)日: | 2010-01-27 |
| 發明(設計)人: | 沈峘;李舜酩;毛建國;李芳培;柏芳超 | 申請(專利權)人: | 南京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01K7/18 | 分類號: | G01K7/18;G01K7/20 |
| 代理公司: | 南京經緯專利商標代理有限公司 | 代理人: | 許 方 |
| 地址: | 210016江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高精度 鉑電阻 測溫 系統 基于 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種溫度測量系統,尤其是一種高精度鉑電阻測溫系統。
背景技術
溫度是國際單位制中7個基本物理量之一。標準鉑電阻溫度計具有高精度、高靈敏性和高穩定性等特點,因而被廣泛應用于智能儀器儀表的溫度測量。現有方法大多是先將電阻變化通過電阻橋轉換為電壓信號,再經過一系列濾波和放大處理后,送入A/D轉換器完成溫度采集。這類方法需要解決好兩個問題:(1)由于溫度對鉑電阻阻值和放大器帶來的影響,系統在環境溫度變化時會產生一定的系統誤差。在高精確度測量中,尋找有效的溫度補償方法是需要面臨的難題之一。(2)隨著測量精度的提高,高分辨率A/D轉換器的價格大增,導致測量儀器成本過高是所面臨的另一個問題。
發明內容
本發明設計的目的是針對現有技術的不足,提供一種低成本、高測量精度的鉑電阻測溫系統及基于該測溫系統的測溫方法。
本發明所采用的技術方案是:
一種高精度鉑電阻測溫系統,包括RC振蕩器、頻率測量芯片、參考時鐘電路、單片機、液晶顯示器和上位機;RC振蕩器的輸出端與頻率測量芯片的輸入端連接,參考時鐘電路的輸出端與頻率測量芯片的時鐘端連接,頻率測量芯片和單片機通過SPI總線連接,單片機分別與液晶顯示器、上位機連接;所述RC振蕩器包括第一電容C1和鉑電阻傳感器Rt,其中鉑電阻傳感器Rt的一端與頻率測量芯片的N腳連接,鉑電阻傳感器Rt另一端分別與頻率測量芯片的P腳、第一電容C1的一端相連,第一電容C1的另一端接地。
本發明的高精度鉑電阻測溫系統的單片機與上位機連接方式為無線RS-232串口連接方式。
本發明的高精度鉑電阻測溫系統的參考時鐘電路包括第一電阻R1、第二電阻R2、第二電容C2、第三電容C3、晶體振蕩器X1以及反相器IC1;其中第一電阻R1的一端與第二電容C2的一端連接,第二電容C2的另一端與晶體振蕩器X1的一端連接后接地,晶體振蕩器X1的另一端與第三電容C3的一端連接后接地,第三電容C3的另一端分別與第二電阻R2的一端、反相器IC1的輸入端連接,反相器IC1的輸出端分別與第一電阻R1的另一端、第二電阻R2的另一端、頻率測量芯片的CLK腳連接。
本發明的高精度鉑電阻測溫系統單片機采用C8051F021單片機。
本發明還提供一種基于本發明的高精度鉑電阻測溫系統的測溫方法,包括以下步驟,
步驟A,根據頻率測量芯片電路得到的頻率計數值標定高階多項式系統,具體為:
①在鉑電阻傳感器Rt的測溫范圍內均勻改變恒溫槽的溫度值,同時分別記錄頻率計數值與標準溫標測得的溫度值,得到兩組相對應的頻率計數值和標準溫度值;
②采用高階多項式對①步中得到的兩組相對應的頻率計數值和標準溫度值進行回歸,得到頻率計數值與標準溫度值的映射關系,求得一組高階多項式系數;
步驟B,上位機向單片機發送啟動采集命令;
步驟C,單片機收到啟動采集命令后,打開RC振蕩器并開始對震蕩頻率計數;
步驟D,計數周期結束后,單片機在本地保留計數值,同時也將該計數值發送回上位機;
步驟E,上位機對該計數值進行IIR濾波后,再通過步驟A標定的高階多項式系數解算出實際溫度值。
基于本發明的測溫方法中采用的高階多項式是11階多項式。
其測量結果分兩種方式進行顯示,一種以LCD方式在本地顯示,另一種通過串口與上位機連接,在上位機中顯示并保存。
有益效果:
本發明的有益效果是:
(1)、鉑電阻采用二線制接法,與固定電容構成RC振蕩器,將鉑電阻變化量轉換為頻率信號,解決了傳統方法中不平衡電阻橋所帶來的非線性問題;
(2)、鉑電阻工作在無源狀態,且整個電路有數字芯片組成,免去了溫變等不確定性因素引發的補償問題;
(3)、通過測量頻率變化量,直接通過高階多項式解算鉑電阻的阻值變化,從而計算出被測溫度值,省去A/D環節,在高精度測溫時大幅降低了設備成本;
附圖說明
圖1是本發明的結構示意圖。
圖2是本發明的測溫方法的流程圖。
具體實施方式
下面結合附圖對本發明的實施做出進一步說明。圖1是本發明的結構示意圖。
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