[發(fā)明專利]光通信綜合測試儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910184523.5
• 申請日: 2009-08-28
• 公開（公告）號: CN101645737A
• 公開（公告）日: 2010-02-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 程根法;包思云;李少東;汪成龍;林偉
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08
• 代理公司: 南京理工大學(xué)專利中心
• 代理人: 唐代盛

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于光通信測試技術(shù)，特別是一種光通信綜合測試儀。

背景技術(shù)

數(shù)字光通信系統(tǒng)是通信網(wǎng)絡(luò)最基本、最重要的組成部分。在通信網(wǎng)的開通、日常維 護和故障查找中，以及通信設(shè)備的研制、生產(chǎn)、安裝中都需要進行測試。目前這些測試， 都是需要眾多不同的儀器來測量，如光源、光功率計、多種誤碼儀(2M/8M誤碼儀、 數(shù)據(jù)口誤碼儀、NRZ/RZ誤碼儀、A口誤碼儀等)、音頻分析儀及話路特性分析儀等，測 試存在攜帶儀器多、無法快速故障查找、機動性差、測試效率低下等諸多缺陷。

目前光通信綜合測試儀，大多是單獨的光纖通信測量儀器或數(shù)字通信測量儀器，光 纖通信測量儀器只集成了光源和光功率計，如專利申請CN2717116提到的多功能光萬 用表。數(shù)字通信測量儀器只有幾種接口(2M測試、數(shù)據(jù)口測試)的誤碼儀或單獨的話 路特性測試，有的產(chǎn)品在話路特性測試的基礎(chǔ)上還具有2Mb/s誤碼測試功能，但沒有其 它誤碼測試能力、音頻分析儀的功能和光纖測量功能。

由于傳統(tǒng)的綜合集成技術(shù)，將多種不同的測試功能各自獨立設(shè)計，會導(dǎo)致電路規(guī)模 過大，功耗過高，無法采用電池供電及集成到一個很小的設(shè)備中。因此，目前的光通信 綜合測試儀器存在測試功能弱、體積大，沒有一種全面的光通信系統(tǒng)綜合測試的能力， 即同時進行通信接口光電參數(shù)測試，包括系統(tǒng)傳輸指標測試、話路特性測試和光纖光纜 的維護測試等功能。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種光通信綜合測試儀，綜合集成了光源、光功率計、系列 誤碼儀、音頻分析儀和話路特性分析儀等多種儀器的測試功能。能夠進行1310nm、 1550nm的光輸出和光功率測量；G.703非成幀/成幀接口、V.24、V.35、A、K接口誤碼 測試；音頻信號產(chǎn)生、電平測量、失真度測量及頻率、電平特性、頻率特性等參數(shù)測量。

實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為：一種光通信綜合測試儀，包括誤碼測試儀模塊、 音頻分析儀模塊、光源模塊、光功率計模塊、主控模塊和電源模塊，主控模塊分別與誤 碼測試儀模塊、音頻分析儀模塊、光源模塊和光功率計模塊連接；所述的誤碼測試儀模 塊由2M/8M收發(fā)接口、NRZ/RZ收發(fā)接口、數(shù)據(jù)測試收發(fā)接口、A接口收發(fā)電路、K 接口收發(fā)電路、誤碼測試發(fā)生器、誤碼測試分析器和時鐘發(fā)生器組成，2M/8M收發(fā)接 口、NRZ/RZ收發(fā)接口、數(shù)據(jù)測試收發(fā)接口、A接口收發(fā)電路和K接口收發(fā)電路中的每 一個均分別連接誤碼測試發(fā)生器和分析器，誤碼測試發(fā)生器和分析器分別連接時鐘發(fā)生 器；所述的音頻分析儀模塊由音頻信號發(fā)生器和音頻信號分析器組成，音頻信號發(fā)生器 包括依次相連的DDS、放大電路、衰減器和發(fā)送接口，音頻信號分析器包括依次相連的 接收接口、輸入放大器、A/D、高速RAM、DSP系統(tǒng)和雙口RAM；其中，DSP系統(tǒng)連 接DDS，雙口RAM連接主控模塊；所述的光源模塊由依次相連的衰減和調(diào)制電路、驅(qū) 動和自動功率控制電路、半導(dǎo)體激光器組件組成，該半導(dǎo)體激光器組件連接驅(qū)動和自動 功率控制電路；該光功率計模塊由依次相連的光電管、I/V變換電路、程控放大電路和 A/D組成，該A/D連接主控模塊；