[發明專利]三維形狀測定方法

有效

• 申請號: 200910179061.8
• 申請日: 2009-10-09
• 公開（公告）號: CN101726277A
• 公開（公告）日: 2010-06-09
• 發明（設計）人: 久保圭司;半田宏治
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20;G01B11/24
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 汪惠民

1.一種三維形狀測定方法，其中，

將測定物設為繞Y軸傾斜設置的第一設置狀態，

將所述測定物從所述第一設置狀態以所述測定物的設計坐標系的Z 軸為中心以90度的小于或等于2的自然數倍的角度增量旋轉一次以上而 設為一個以上的第二設置狀態，

對于所述第一及第二設置狀態，分別在通過所述測定物的設計上的頂 點坐標的X軸方向的直線上測定所述測定物的表面的X軸、Y軸及Z軸 的坐標而取得第一測定數據群，并且在通過所述測定物的設置上的頂點坐 標的Y軸方向的直線上測定所述測定物的表面的X軸、Y軸及Z軸的坐 標而取得第二測定數據群，

對于所述第一及第二設置狀態，分別使用所述第一及第二測定數據群 算出與設計形狀的差，

合成對于所述第一及第二設置狀態的與設計形狀的差，

在與使用了所述第一及第二測定數據群的所述設計形狀的差的計算 中，

根據所述繞Y軸的傾斜使所述第一及第二測定數據群旋轉及平移移 動，執行向沒有所述繞Y軸的傾斜時的所述測定物的所述設計坐標系進行 坐標變換的預備坐標變換，

執行以使進行了所述預備坐標變換的所述第一及第二測定數據群擬 合于所述測定物的設計形狀的方式進行坐標變換的調準，

算出進行了所述調準的第一測定數據群與所述測定物的所述設計形 狀的差。

2.根據權利要求1所述的三維形狀測定方法，其中，

所述角度增量為180度，所述第二設置狀態為一個。

3.根據權利要求1所述的三維形狀測定方法，其中，

所述角度增量為90度，所述第二設置狀態為三個。

4.根據權利要求1所述的三維形狀測定方法，其中，

在與使用了所述第一及第二測定數據群的所述設計形狀的差的計算 中，

根據所述繞Y軸的傾斜使所述第一及第二測定數據群旋轉及平移移 動，執行向沒有所述繞Y軸的傾斜時的所述測定物的所述設計坐標系進行 坐標變換的預備坐標變換，

對于X軸、Y軸、Z軸、作為繞所述X軸的旋轉方向的A軸及作為 繞所述Y軸的旋轉方向的B軸，算出使進行了所述預備坐標變換的所述 第一及第二測定數據群擬合于所述測定物的設計形狀的第一調準量，

選擇所述X軸、Y軸、Z軸、A軸及B軸的第一調準量中的任兩個或 三個作為固定調準量，

執行對進行了所述預備坐標變換的所述第一測定數據群以所述固定 調準量進行坐標變換的第一坐標變換，

對于所述X軸、Y軸、Z軸、A軸及B軸中的所述固定調準量以外的 軸，算出使進行了所述第一坐標變換的所述第一測定數據群擬合于所述測 定物的設計形狀的第二調準量，

執行對進行了所述預備坐標變換的所述第一測定數據群以所述固定 調準量和所述第二調準量進行坐標變換的第二調準，

算出進行了所述第二調準的第一測定數據群與所述測定物的所述設 計形狀的差。

5.根據權利要求1所述的三維形狀測定方法，其中，

用于進行所述預備坐標變換的設計形狀是根據實際的測定物的形狀 變換設計參數的形狀。

6.根據權利要求1所述的三維形狀測定方法，其中，

對于所述第一及第二設置狀態的與所述設計形狀的差的合成包括手 動調整對于所述第一及第二設置狀態的與所述設計形狀的差的重合。

7.根據權利要求1所述的三維形狀測定方法，其中，

在對于所述第一及第二設置狀態的與所述設計形狀的差的合成中，包 括：

針對于對于所述第一及第二設置狀態的與所述設計形狀的差，分別通 過最小二乘法求出近似直線，

以使所述第一及第二設置狀態的所述近似直線重合的方式，針對于對 于所述第一及第二設置狀態的與所述設計形狀的差進行坐標變換。

8.根據權利要求1所述的三維形狀測定方法，其中，

取代所述第二測定數據群而使用面上測定數據。