[發明專利]跟蹤誤差信號檢測裝置和光盤裝置

無效

• 申請號: 200910174557.6
• 申請日: 2009-09-28
• 公開（公告）號: CN101714366A
• 公開（公告）日: 2010-05-26
• 發明（設計）人: 細川修;小林伸嘉
• 申請（專利權）人: 索尼株式會社
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 宋鶴;南霆

技術領域

本發明涉及光盤或類似裝置中使用相位差檢測(differential?phase detection，DPD)的跟蹤誤差信號(TE)檢測裝置以及光盤裝置。

背景技術

在光盤控制器中，DPD跟蹤誤差(TE)檢測裝置(即，電路)經常 被設置以生成用于ROM型盤的TE信號。目前，這種DPD?TE檢測裝置是 利用高速、高精度模擬電路實現的(例如，參見日本專利No.3336778、 No.3065993、No.3439393和No.3769888，以及日本未實審專利申請公布 No.S57-191839、No.S57-181433、No.S63-148433、No.H07-296395、No. S63-131334和No.2006-260645)。

然而，同時，將模擬信號處理和數字信號處理集成到單個芯片上近年 來已取得了進步，這與系統LSI技術的發展是相結合的。光盤控制器芯片 也不是這一趨勢的例外。因而，與信號處理的逐漸數字化的發展相結合， 需要使DPD?TE檢測裝置被集成到數字芯片上。

現在將利用下面的示例1至3來描述設計來滿足該需要的技術。

<示例1>

在示例1的技術中，設計為模擬電路的DPD電路被利用模擬電路技 術“原樣”合并在數字芯片上。

更具體而言，現有配置(由高范圍增壓器(均衡器)、二進制器(切 波器)和邊緣比較相位比較器構成)可以被利用模擬電路技術原樣安裝到 數字芯片上，就像作為示例在日本專利No.3336778中所描述的那樣。

在這種情況下，高范圍增壓器(均衡器)和二進制器(切波器)的數 目等于DPD計算通道的數目(即，2或4)。

嚴格地說，在沒有高范圍增壓電路(均衡器)的情況下仍然可以進行 相位差檢測。然而，由于使用了邊緣比較相位比較器，因此高范圍增壓電 路(均衡器)被用于適當地進行二進制化。

采用二進制器(切波器)和邊緣比較相位比較器是為了抑制TE檢測 靈敏度的波動，該波動取決于RF幅度。通過僅僅檢測邊緣的相位差，抑 制了相對于幅度波動的靈敏度。

邊緣比較相位比較器結合了一種去除偽邊緣和啁啾(chattering)的機 制，這種偽邊緣和啁啾是由高范圍頻率特性(f曲線)中的縮減、噪聲或 非對稱性之類的現象產生的(由于盤偏斜或失焦(OTF波動))。這種機 制被用于去除這種噪聲并呈現出實際的TE檢測靈敏度。

為此，邊緣去除機制是利用異步遞歸電路配置實現的。

<示例2>

示例2所采取的方法涉及采用在日本未實審專利申請公布No.S57- 191839中公開的模擬相關(correlation)檢測技術。

示例2中的電路由90°移相器、乘法器和LPF構成，所有這些組件都 完全是以模擬方式實現的。

在先前的示例1中，信號首先被適當地二進制化，并且其邊緣隨后被 進行相位比較。相比之下，在示例2中，進行波形相位比較(即，相關計 算)。因此，示例2中的技術在原理上可以省略高范圍增壓電路，該電路 的電路規模較大。

在示例2的技術中，并不使用邊緣比較相位比較器，因而也可以省略 利用異步遞歸循環來去除偽邊緣和啁啾的機制。

<示例3>

示例3所采取的方法涉及替換由高速模擬電路實現的現有DPD電路 來進行數字信號處理(例如，參見日本專利No.3439393和日本未實審專 利申請公布No.2006-260645)。

示例3中的技術包括A/D轉換器、高范圍增壓器和補償器、零交叉生 成器和零交叉相位比較器，它們被配置為按以上順序處理信號。因而，示 例1中的模擬處理系統可以被認為已經被原樣替換為進行數字信號處理。

發明內容

然而，由于以上示例1中使用的高范圍增壓電路(即，均衡器)由高 階傳遞函數構成，因此其電路規模自然較大。而且，存在以下問題：即這 種電路并不適合于微CMOS工藝上的模擬電路，這是因為其具有高度靈敏 的元件和相當大的波動。

另外，當RF頻率明顯改變時，例如當執行從最內側邊緣到最外側邊 緣的完全搜索時，存在另一種困難。在這些情況下，在頻率范圍內準確跟 蹤傳遞函數的極點和零點是困難的。