[發明專利]光碟機測試方法

無效

• 申請號: 200910174048.3
• 申請日: 2009-10-20
• 公開（公告）號: CN102044277A
• 公開（公告）日: 2011-05-04
• 發明（設計）人: 賴俊文;郭起祥
• 申請（專利權）人: 廣明光電股份有限公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種光碟機的測試方法，尤其是涉及光碟機利用對光盤燒錄次數，檢查光碟機使用壽命的測試方法。

背景技術

為了確保光碟機出廠的品質及穩定度，出廠前光碟機必需經過測試，將數據重復多次實際燒錄在光盤上，并經由檢查燒錄后的結果，判斷光碟機性能是否正常，以測試光碟機耐久性的使用壽命。

如圖1所示，臺灣第095146141號專利申請案所公開的先前技術，為一光碟機測試功能方塊圖，是對可重復讀寫的光碟機1進行測試。其測試過程首先針對CD、DVD或是BD等可覆寫的光盤2，設定光碟機測試光盤1模式。利用微處理器3歸零計數器4并設定測試成功次數上限。由微處理器3移動光學讀取頭5至光盤2內圈的起始點，并控制聚焦伺服單元6將雷射驅動單元7驅動光學讀取頭5發射燒錄功率的雷射光束，聚焦在光盤2的數據層8。再由微處理器3控制循軌伺服單元9移動光學讀取頭5，沿著光盤2的數據軌，由內圈至外圈開始燒錄數據。燒錄完成后，由微處理器3控制光學讀取頭5，重頭沿著光盤2的數據軌讀取燒錄至光盤的數據記號，解碼成數據信號。

接著，由讀取數據與原燒錄數據比對，判斷是否成功將數據燒錄至光盤？若未成功將數據燒錄至光盤，光碟機未通過使用壽命檢驗，判定為測試失敗，并結束測試；若成功將數據燒錄至光盤上，則由微處理器3控制計數器4將測試成功次數加一。然后檢查測試成功次數是否達到上限？若未達到上限，則由微處理器3控制雷射驅動單元7驅動光學讀取頭5發射擦除功率的雷射光束擦除燒錄至光盤上的數據，回至光盤2內圈的起始點重新測試；若已達到測試成功次數的上限，則判定光碟機1通過使用壽命檢驗測試，并結束測試。

然而，先前技術利用可覆寫的光盤進行光碟機的測試，雖可以節省光盤的消耗，但先前技術在每次測試過程皆需聚焦在光盤2的數據層8，進行燒錄、讀取數據、判斷燒錄成功以及擦除光盤數據等程序，在光碟機的測試過程中，耗費大量的測試時間，使得測試效率變低，增長光碟機制造時間，且先前技術僅能對可燒錄的光碟機進行測試，無法適用測試其他光碟機。因此先前技術光碟機在測試的方法上，仍有問題亟待解決。

發明內容

本發明的目的在于提供一種光碟機測試方法，通過檢測光學讀取頭的雷射光束輸出功率的變化，直接判斷光碟機是否正常通過測試，簡化測試程序，以節省測試時間。

本發明另一目的在于提供一種光碟機測試方法，利用光學讀取頭的雷射光束聚焦偏移離光盤數據層或標簽面，避免燒錄光盤，以節省光盤的損耗。

本發明再一目的在于提供一種光碟機測試方法，通過虛擬燒錄光盤，而可測試各種光碟機，以增加測試的適用范圍。

為了達到前述發明的目的，本發明的光碟機測試方法，歸零測試成功次數計數及設定測試成功次數上限；以預定功率的雷射光束，聚焦偏移離光盤數據層或標簽面進行虛擬燒錄；檢測輸出功率；檢查輸出功率的變化，產生變化判斷光碟機測試失敗，未產生變化，完成虛擬燒錄將測試成功次數加一，測試次數達上限，判斷通過光碟機測試。

附圖說明

圖1為先前技術光碟機測試的功能方塊圖。

圖2為本發明測試光碟機的功能方塊圖。

圖3為本發明測試的預定聚焦電平的示意圖。

圖4為本發明光碟機測試方法的流程圖。

【主要元件符號說明】

10光碟機

11微處理器

12雷射驅動單元

13光學讀取頭

14聚焦伺服單元

15循軌伺服單元

16功率檢測單元

17計數器

18光盤

19數據層

20上偏移聚焦電平

20’下偏移聚焦電平

具體實施方式

有關本發明為達成上述目的，所采用的技術手段及其效果，現在舉優選實施例，并配合附圖加以說明如下。