[發明專利]輸出電壓控制裝置、輸出電壓控制方法和電子設備有效
| 申請號: | 200910173587.5 | 申請日: | 2009-09-17 |
| 公開(公告)號: | CN101714819A | 公開(公告)日: | 2010-05-26 |
| 發明(設計)人: | 宮前亨 | 申請(專利權)人: | 富士通微電子株式會社 |
| 主分類號: | H02M3/156 | 分類號: | H02M3/156 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258 | 代理人: | 宋鶴;南霆 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 輸出 電壓 控制 裝置 方法 電子設備 | ||
1.一種輸出電壓控制裝置,包括:
比較器,該比較器在從第一周期性信號的第一定時起經過給定時間之 后生成比較結果,該比較結果是通過將輸出電壓和基準電壓之間的差與所 述第一周期性信號相比較而獲得的;
第一信號發生器,該第一信號發生器生成定時控制信號,該定時控制 信號在從所述第一定時起經過所述給定時間之前處于第一電平,并且在經 過所述給定時間之后所述比較器輸出所述比較結果的時段中從所述第一電 平變為第二電平;以及
第二信號發生器,該第二信號發生器根據所述比較結果和所述定時控 制信號生成用于控制所述輸出電壓的控制信號,
其中,所述第一信號發生器通過根據所述輸出電壓和所述基準電壓中 的一個以及輸入電壓調整所述定時控制信號在所述第一電平和所述第二電 平之間改變的定時來生成比較信號。
2.根據權利要求1所述的輸出電壓控制裝置,其中,所述第一信號發 生器將所述輸入電壓和所述輸出電壓之間的差與所述第一周期性信號和與 所述第一周期性信號具有基本類似周期的第二周期性信號中的一個相比 較,并且根據所述差與所述第一周期性信號和所述第二周期性信號中的所 述一個之間的大/小關系被反轉的定時,所述第一信號發生器調整所述定時 控制信號在所述第一電平和所述第二電平之間改變的定時。
3.根據權利要求1所述的輸出電壓控制裝置,其中,所述第一信號發 生器將輸入電壓和所述基準電壓之間的差與所述第一周期性信號和與所述 第一周期性信號具有基本類似周期的第二周期性信號中的一個相比較,并 且根據所述差與所述第一周期性信號和所述第二周期性信號中的所述一個 之間的大/小關系被反轉的定時,所述第一信號發生器調整所述定時控制信 號在所述第一電平和所述第二電平之間改變的定時。
4.一種輸出電壓控制裝置,包括:
比較器,該比較器生成通過將輸出電壓和基準電壓之間的差與第一周 期性信號相比較而獲得的比較結果;
第一信號發生器,該第一信號發生器生成定時控制信號,其中
在輸入電壓高于所述輸出電壓的模式下,所述定時控制信號在所 述比較結果處于第三電平的時段中從第一電平變為第二電平,然后變 為所述第一電平,
在所述輸入電壓基本等于所述輸出電壓的模式下,所述定時控制 信號在所述比較結果處于第四電平時從所述第一電平變為所述第二電 平,并且在所述比較結果從所述第四電平變為所述第三電平之后處于 所述第三電平的時段中從所述第二電平變為所述第一電平,并且
在所述輸入電壓低于所述輸出電壓的模式下,所述定時控制信號 從所述第一電平變為所述第二電平,然后在所述比較結果處于所述第 四電平的時段中變為所述第一電平;以及
第二信號發生器,該第二信號發生器根據所述比較結果和所述定時控 制信號生成用于控制所述輸出電壓的控制信號。
5.根據權利要求4所述的輸出電壓控制裝置,其中,所述第一信號發 生器用于:
通過根據所述輸入電壓和所述輸出電壓調整所述定時控制信號在所述 第一電平和所述第二電平之間改變的定時而生成第一比較信號;
生成相對于所述第一比較信號具有時間差的第二比較信號;并且
根據所述第一比較信號和所述第二比較信號生成所述定時控制信號。
6.根據權利要求4所述的輸出電壓控制裝置,其中,所述第一信號發 生器用于:
通過根據所述輸入電壓和所述基準電壓調整所述定時控制信號在所述 第一電平和所述第二電平之間改變的定時而生成第一比較信號;
生成相對于所述第一比較信號具有時間差的第二比較信號;并且
根據所述第一比較信號和所述第二比較信號生成所述定時控制信號。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于富士通微電子株式會社,未經富士通微電子株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910173587.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:強吸收紫外線的防眩目紫色玻璃
- 下一篇:一種測量散粒物料顆粒形狀參數的方法





