[發(fā)明專利]光盤裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910169186.2
• 申請日: 2004-03-26
• 公開（公告）號: CN101673563A
• 公開（公告）日: 2010-03-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 刈田吉博;平塚隆繁;落合稔;菊池淳
• 申請（專利權(quán)）人: 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G11B7/005
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 許海蘭

本分案申請是基于申請?zhí)枮?00480001572.6，申請日為2004年3月26日，發(fā)明名稱為“光盤裝置”的中國專利申請的分案申請。更具體說，本分案申請是基于申請?zhí)枮?00710091802.8，申請日為2004年3月26日，發(fā)明名稱為“光盤裝置”的分案申請的再次分案申請。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及利用從光拾取頭的受光元件輸出的信號檢測光盤的記錄及再生所必需的各種信號的光盤裝置。

背景技術(shù)

圖20為示出現(xiàn)有的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。

在圖20中，現(xiàn)有的光盤裝置的構(gòu)成包括：拾取頭1000、VGA1001a～h、HPF1002a～d、比較器1003a～d、相位差跟蹤誤差信號檢測電路1004、偏離軌道信號生成電路1005、差動RF信號生成電路1006、擺動信號生成電路1007、CAPA檢測信號生成電路1008、伺服誤差信號生成電路1009、選擇器1010、選擇器1011、LPF1012、比較器1013、LPF1014、LPF1015、LPF1016、選擇器1017及ADC1018。另外，此處，為了示出VGA1001、HPF1002、比較器1003的構(gòu)成數(shù)的具體示例，假設(shè)使用具有如圖3所示的由4個分割受光元件(以下稱其為受光元件)組成的3個4分割受光元件的拾取頭，從該拾取頭，如圖3所示，輸出來自接受主光束的受光元件A～D32(以下稱其為主受光元件A～D)的信號和來自接受在照射受光元件A～D的主光束之前和/或之后所照射的輔助光束的受光元件E～H31、33(以下稱其為輔助受光元件E～H)的信號。

VGA1001a～h，是輸入從拾取頭1000的受光元件A～H輸出的信號，由于再生介質(zhì)的反射率、激光功率的偏差、拾取頭的效率等主要原因，對受光元件輸出信號的振幅偏差大的進行修正的增益調(diào)整放大器。

HPF1002a～d，從受光元件輸出信號中除去直流分量及光盤上的傷痕等引起的電平變動分量。

比較器1003a～d，將從HPF1002a～d分別輸出的信號的RF分量進行二值化并輸出。

相位差跟蹤誤差信號檢測電路1004，測定從由模擬電路構(gòu)成的比較器1003a～d輸出的4信道的信號輸入的輸入信號間的相位差并生成相位差跟蹤誤差信號(以下稱其為DPDTE)而輸出。

偏離軌道信號生成電路1005，根據(jù)從相位差跟蹤誤差信號檢測電路1004輸出的DPDTE信號生成用于檢測偏離軌道的偏離軌道信號。

差動RF信號生成電路1006，根據(jù)4分割受光元件的輸出信號生成差動RF信號(以下稱其為寬帶pushpullTE)。

擺動信號生成電路1007，將從差動RF信號生成電路1006輸出的寬帶pushpullTE輸入到由模擬電路構(gòu)成的BPF，提取在光盤的種類為DVD-R/RW、DVD-RAM時存在的擺動信號。

CAPA檢測信號生成電路1008，檢測在RAM再生時CAPA(地址標記)部分的寬帶pushpullTE接觸上下并輸出CAPA檢測信號。

伺服誤差信號生成電路1009，由模擬電路構(gòu)成，根據(jù)光拾取頭的受光元件的輸出，進行依照拾取頭的結(jié)構(gòu)、記錄再生介質(zhì)、記錄再生模式預先確定的多個模式的伺服矩陣運算和平衡運算，生成各種伺服信號。另外，作為所生成的伺服信號，有聚焦誤差信號(以下稱其為FE信號)、跟蹤誤差信號(以下稱其為TE信號)以及表示反射光量的全相加信號(以下稱其為AS信號)。

圖21、圖22、圖23是示出為了在伺服誤差信號生成電路1009中生成TE信號、FE信號、AS信號而進行的矩陣運算的運算式的一個例子，圖中的A～H是從圖3所示的各受光元件發(fā)出的輸出信號，另外，相位差AB表示受光元件A及B的輸出信號的相位差，相位差CD表示受光元件C及D的輸出信號的相位差，而k及a表示運算常數(shù)。

在伺服誤差信號生成電路1009中，依照拾取頭的結(jié)構(gòu)、再生介質(zhì)、再生模式等切換圖21、圖22、圖23分別示出的運算式并進行矩陣運算而生成TE信號、FE信號及AS信號。于是，在進行如圖21、圖22、圖23所示的多個運算式的運算的場合，必須利用可以進行與各個運算式相應的矩陣運算及其總和的運算的模擬電路構(gòu)成伺服誤差信號生成電路1009。

另外，選擇器1010在由伺服誤差信號生成電路1009生成的多個TE信號以及由相位差跟蹤誤差信號檢測電路1004檢測的TE信號之中，選擇與拾取頭的結(jié)構(gòu)、再生介質(zhì)、再生模式相對應的TE信號，選擇器1011，在由伺服誤差信號生成電路1009生成的多個FE信號之中，選擇與拾取頭的結(jié)構(gòu)、再生介質(zhì)、再生模式相對應的FE信號。