[發明專利]電容式觸控板的檢測方法

有效

• 申請號: 200910168982.4
• 申請日: 2009-09-03
• 公開（公告）號: CN102004589A
• 公開（公告）日: 2011-04-06
• 發明（設計）人: 林嘉興;陶逸欣;曾玄文
• 申請（專利權）人: 義隆電子股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 上海天協和誠知識產權代理事務所 31216
• 代理人: 張榮義

技術領域

本發明涉及一種電容式觸控板，具體地說，是一種電容式觸控板的檢測方法。

背景技術

二維式電容式觸控板上設置有多條X方向跡線和Y方向跡線，這些X方向跡線和Y方向跡線相互交錯組成多個感應器，當使用者以導電性對象，例如手指，接近這些感應器時，手指與所述感應器之間的耦合電容將使連接所述感應器的跡線的電容值增加，檢測電路便藉由檢測這些跡線的電容值變化，定位出手指的位置，并將所述位置的變化轉換成信息，提供給主機執行相應操作。

圖1為手指對跡線造成電容值變化的示意圖，橫坐標表示橫向的跡線Y1，跡線X1～X8與跡線Y1交錯，曲線10表示跡線Y1上的電容值變化。當手指接近跡線Y1與跡線X4、X5的交點時，遠離手指的跡線X1、X2和X7、X8的電容值未受影響，低于門坎值CTH，較接近手指的跡線X3和X6的電容值上升，略高于門坎值CTH，距離手指更近的跡線X5的電容值更高，而手指位置所在處的跡線X4和Y1的電容值則為曲線10的峰值，因此，將跡線X4和Y1組合后，即可判斷出手指位于(X4，Y1)。在圖1中，跡線X1、X2和X7、X8的電容值未受到手指影響，在檢測時的值接近零，在后續的轉換和運算判斷中是無用的(useless)。

已知取得一幀(frame)信息的方式是逐一掃瞄觸控板上的每條跡線，將每條跡線的電容值變化信息組合成一幀，定位出手指的位置。

因此已知的逐一對每條跡線掃瞄，檢測每條跡線電容值變化的方法存在著對無用跡線檢測，耗電和效能差的種種不便和問題。

發明內容

本發明的目的，在于提出一種電容式觸控板的檢測方法。

為實現上述目的，本發明的技術解決方案是：

一種電容式觸控板的檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

第一步驟：間隔檢測復數條第一跡線以及復數條第二跡線，產生復數個第一場域和復數個第二場域；

第二步驟：內插計算所述第一場域，獲得與所述第二場域具相同時間坐標的內插場域；以及

第三步驟：組合所述第二場域與所述內插場域，產生重現幀。

本發明的電容式觸控板的檢測方法還可以采用以下的技術措施來進一步實現。

前述的檢測方法，其中所述第一跡線為分布在所述電容式觸控板上的單數條跡線。

前述的檢測方法，其中所述第二跡線為分布在所述電容式觸控板上的雙數條跡線。

采用上述技術方案后，本發明的電容式觸控板的檢測方法具有減少檢測電路的運算量以提升電容式觸控板的效能的優點。

附圖說明

圖1為手指對跡線造成電容值變化的示意圖；

圖2為根據本發明一實施例的示意圖。

圖中，10、曲線。

具體實施方式

以下結合實施例及其附圖對本發明作更進一步說明。

本發明提出的檢測方法以多場域的方式(multi-field?way)，例如跡線跳略(trace-skip)，取代已知連續式的幀檢測。圖2為根據本發明一實施例的示意圖，虛線橫軸表示時間，觸控板上一般設有復數條縱向跡線和橫向跡線，圖2僅繪出縱向跡線以便于說明。

首先，在第一時間時依序檢測電容式觸控板上的所有單數條跡線，獲得第一個場域(field)1，再于第二時間依序檢測所有雙數條跡線，獲得場域2，接著，在第三時間再次檢測所有單數條跡線，獲得第二個場域1，其中，第一時間、第二時間和第三時間之間的時間間隔相同，對第一個場域1和第二個場域1取內插，計算得到和場域2具相同時間坐標的內插場域，再將場域2與內插場域組合成為重現幀，供進行后續坐標計算。接著，以相同的間隔檢測步驟，依序取得第二個場域2以及第三個場域1，內插計算第二個場域1和第三個場域1，獲得與第二個場域2具相同時間坐標的第二個內插場域(圖中未示)，組合產生下一幀。

在其它實施例中，設計者可依需求調整每一場域檢測的跡線群，并相應調整組合方法，將每一幀拆成更多個場域。

以上實施例僅供說明本發明之用，而非對本發明的限制，有關技術領域的技術人員，在不脫離本發明的精神和范圍的情況下，還可以作出各種變換或變化。因此，所有等同的技術方案也應該屬于本發明的范疇，應由各權利要求限定。