[發明專利]觸控感測元件的壓力偵測方法以及使用該方法的電子裝置有效
| 申請號: | 200910167219.X | 申請日: | 2009-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN101996014A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發明(設計)人: | 房國斌;曾恕宏 | 申請(專利權)人: | 宏達國際電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/045 | 分類號: | G06F3/045 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 陳小蓮;王鳳桐 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 觸控感測 元件 壓力 偵測 方法 以及 使用 電子 裝置 | ||
1.一種觸控感測元件的壓力偵測方法,所述觸控感測元件包括第一薄膜和第二薄膜,每個薄膜包括兩電極,所述偵測方法包括下列步驟:
提供第一電位差至所述第一薄膜的兩電極;
利用所述第一電位差的分壓,對電容進行充電;
取樣所述電容的充電電壓,以取得多個第一電壓值,并根據該多個第一電壓值求得第一電壓值的變化;
將所述第一電壓值的變化與門檻值相比較;以及
當所述第一電壓值的變化小于所述門檻值時,對所述多個第一電壓值中的至少一者進行后處理。
2.根據權利要求1所述的偵測方法,其中,當所述第一電壓值的變化大于所述門檻值時,忽略所述多個第一電壓值。
3.根據權利要求1所述的偵測方法,其中,所述第一電壓值的變化指兩相鄰第一電壓值之差、兩第一電壓值之差、多個兩相鄰第一電壓值之差的平均以及多個兩相鄰第一電壓值之差的變化率中的一者。
4.根據權利要求3所述的偵測方法,該方法還包括:
提供第二電位差至所述第二薄膜的兩電極;
利用所述第二電位差的分壓,對所述電容進行充電;
取樣所述電容的充電電壓,以取得多個第二電壓值,并根據該多個第二電壓值求得第二電壓值的變化;
將所述第二電壓值的變化與所述門檻值相比較;
當所述第一電壓值的變化和第二電壓值的變化中的一者大于所述門檻值時,忽略所述多個第一電壓值和第二電壓值;以及
當所述第一電壓值的變化和第二電壓值的變化均小于所述門檻值時,對所述多個第一電壓值中的至少一者和所述多個第二電壓值中的至少一者進行后處理。
5.根據權利要求4所述的偵測方法,其中,提供所述第一電位差至所述第一薄膜的兩電極并經過第一預設時間后,開始取樣所述電容的充電電壓,以取得所述多個第一電壓值;以及提供所述第二電位差至所述第二薄膜的兩電極并經過第二預設時間后,開始取樣所述電容的充電電壓,以取得所述多個第二電壓值。
6.根據權利要求1所述的偵測方法,其中,所述后處理步驟還包括:
根據所述至少一個第一電壓值計算位置坐標;以及
執行對應于所述位置坐標的功能。
7.一種電子裝置,該電子裝置包括:
第一薄膜,該第一薄膜具有兩電極;
第二薄膜,該第二薄膜具有兩電極;
電源,該電源用于提供電位差至所述第一薄膜的兩電極或所述第二薄膜的兩電極;
電容,該電容用于選擇性耦接于所述第一薄膜的兩電極中的一者或所述第二薄膜的兩電極中的一者,并通過該耦接的電極接收所述電位差的分壓,以進行充電;以及
處理單元,該處理單元用于取樣所述電容的充電電壓,以取得多個電壓值,并根據該多個電壓值來求得電壓值的變化,并用于將該電壓值的變化與門檻值相比較;
其中,當所述電壓值的變化小于所述門檻值時,所述處理單元對所述多個電壓值的至少一者進行后處理。
8.根據權利要求7所述的電子裝置,其中,當所述電壓值的變化大于所述門檻值時,所述處理單元忽略所述多個電壓值。
9.根據權利要求7所述的電子裝置,其中,所述第一薄膜的兩電極分別形成于所述第一薄膜上沿第一方向的兩相對側;以及所述第二薄膜的兩電極分別形成于所述第二薄膜上沿第二方向的兩相對側,所述第二方向與所述第一方向相互垂直。
10.根據權利要求7所述的電子裝置,其中,所述電源通過開關元件選擇性地耦接于所述第一薄膜的兩電極或所述第二薄膜的兩電極,且所述電容通過開關元件選擇性地耦接于所述第一薄膜的兩電極中的一者或所述第二薄膜的兩電極中的一者。
11.根據權利要求10所述的電子裝置,其中,當所述電源被耦接于所述第一薄膜的兩電極時,所述電容被耦接于所述第二薄膜的兩電極中的一者;當所述電源被耦接于所述第二薄膜的兩電極時,所述電容被耦接于所述第一薄膜的兩電極中的一者。
12.根據權利要求7所述的電子裝置,該裝置還包括:
模擬數字轉換單元,該模擬數字轉換單元耦接于所述電容,將該電容的充電電壓轉換為所述多個電壓值。
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