[發(fā)明專利]光信息記錄方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910166616.5 | 申請日: | 2009-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN101673557A | 公開(公告)日: | 2010-03-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 渡邊康一;中村公夫 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社日立制作所;日立樂金資料儲存股份有限公司 |
| 主分類號: | G11B7/0045 | 分類號: | G11B7/0045 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 王永剛 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 信息 記錄 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種驅(qū)動和控制光調(diào)制波形,在光信息記錄介質(zhì)上進(jìn)行信息記錄的光信息記錄方法。
背景技術(shù)
光盤裝置正進(jìn)行大容量化,迄今為止,使用了紅外激光(波長780nm)的CD、使用了紅色激光(波長650nm)的DVD、進(jìn)而使用了藍(lán)色激光(波長405nm)的藍(lán)光光盤(BD)正產(chǎn)品化。
例如,在DVD-RAM中利用的寫策略技術(shù),如圖17所示,利用具有3種功率電平的多個激光脈沖。3種功率電平從高到低依次是寫功率(Pw)、間隙功率(Pg)和擦除功率(Pe)。如果用上述寫功率Pw的激光照射光盤,則光盤的記錄膜熔化。然后,如果急冷則光盤成為無定形狀態(tài)(非晶態(tài)),光的反射率降低。它被用作記錄標(biāo)記。另外,如果用擦除功率Pe的激光照射光盤,則光盤的記錄膜成為晶態(tài)。激光照射前為非晶態(tài)的光盤部分成為晶態(tài),原來為晶態(tài)的光盤部分作為晶態(tài)原樣保留下來。由此可以擦除記錄標(biāo)記。
在寫策略中,有CD-R、DVD-R等中采用的矩形形狀的單脈沖;CD-RW、DVD-RW、DVD-RAM等中采用的梳形的復(fù)脈沖(參照圖17);DVD系光盤的高倍速記錄中采用的城堡形(非復(fù)型)(參照圖18)等。
把圖17和圖18所示的決定記錄波形的邊緣定時的值和Pw、Pg、Pe之類的決定記錄功率的值稱為記錄參數(shù)。這些記錄參數(shù),針對各記錄介質(zhì)預(yù)先確定并記錄最佳值。例如,在DVD-RAM中,在內(nèi)周的導(dǎo)入?yún)^(qū)域上設(shè)置的控制數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)部的物理格式信息(PFI)區(qū)域上進(jìn)行記錄。這是因為記錄參數(shù)組的最佳值因記錄介質(zhì)的組成、材料等而異。
即,記錄記錄標(biāo)記時,通過從記錄介質(zhì)讀出決定記錄波形的邊緣定時的值和Pw、Pg之類的決定記錄功率的值以及偏移表的各值等的記錄參數(shù),并用該讀出的記錄參數(shù)控制激光脈沖,形成最優(yōu)的記錄標(biāo)記。這樣的技術(shù)在例如日本特開2003-85753號公報中有記載。
此時,如果沒有良好地形成記錄標(biāo)記,則可能不能正確地重放所記錄的數(shù)據(jù),所以必須良好地形成記錄標(biāo)記。為了形成良好的記錄標(biāo)記,通過使激光器脈沖狀地發(fā)光,控制照射光盤記錄膜時的熱蓄積。一般地,通過向發(fā)出激光的半導(dǎo)體激光二極管(以下稱為LD)供給脈沖狀的電流,LD脈沖狀地發(fā)光。
向LD脈沖狀地供給電流的裝置是激光驅(qū)動器(LDD)。通過使激光驅(qū)動器向LD脈沖狀地供給電流,LD以基于被供給的電流的脈沖定時的發(fā)光模式發(fā)光,所以能夠使激光器脈沖狀地發(fā)光。其結(jié)果,形成良好的記錄標(biāo)記。以下,在本說明書中,把激光驅(qū)動器向LD供給的脈沖狀的電流稱為電流脈沖,把從激光器輸出的波形稱為發(fā)光脈沖。
近年來,對光盤的記錄速度有逐年高速化的傾向。本來,在從激光驅(qū)動器向LD供給電流脈沖的過程中,LD與激光驅(qū)動器之間的電路的負(fù)載存在不小影響,對向LD供給的電流脈沖施加了影響。隨著記錄速度的高速化的推進(jìn),電流脈沖的脈沖寬度變細(xì),LD與激光驅(qū)動器之間的電路的負(fù)載對電流脈沖的影響相對增大,難以向LD供給所希望的電流脈沖。如果不能向LD供給所希望的電流脈沖,LD發(fā)出的光波形也不是所希望的波形,所以該影響對光盤記錄面上形成的記錄標(biāo)記的影響顯著地顯現(xiàn),與記錄品質(zhì)的劣化相關(guān)。以下把LD的電阻負(fù)載稱為LD的微分電阻(參照圖19)。
針對上述問題,在日本特開2006-48885號公報中記載了,著眼于LD與激光驅(qū)動器之間的電路的負(fù)載與溫度對應(yīng)地變化,獲得與使用時的溫度或隨溫度變化的LD的負(fù)載有關(guān)的信息,在激光驅(qū)動器中生成與溫度對應(yīng)的適當(dāng)?shù)碾娏髅}沖的方法。通過向LD供給與溫度對應(yīng)地生成的電流脈沖,即使在使用時的溫度環(huán)境變化時也能進(jìn)行對應(yīng),以便良好地發(fā)出激光。
<專利文獻(xiàn)1>日本特開2003-85753號公報
<專利文獻(xiàn)2>日本特開2006-48885號公報
發(fā)明內(nèi)容
(發(fā)明要解決的問題)
經(jīng)本發(fā)明人調(diào)查發(fā)現(xiàn),在日本特開2006-48885號公報中雖然記載了LD的微分電阻因溫度的影響而變化,但LD的微分電阻還因長期使用劣化或LD發(fā)光的功率而變化。而且,可以想到,在上述那樣的搭載了具有LD和激光驅(qū)動器的半導(dǎo)體激光發(fā)生裝置的產(chǎn)品的批量生產(chǎn)時,批量生產(chǎn)的LD的微分電阻也會在一定程度的范圍內(nèi)波動。針對該由長期使用變化、發(fā)光功率、或產(chǎn)品波動導(dǎo)致的LD的微分電阻的變化,即使監(jiān)視溫度也不能追蹤其變化,不能控制光波形。而且,在一般的光盤驅(qū)動器的構(gòu)成中,在光盤驅(qū)動器的使用時多數(shù)情況下沒有測定LD的微分電阻的單元,不能直接測定LD的微分電阻。
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