[發(fā)明專利]微機電的結(jié)構(gòu)及制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910166465.3 | 申請日: | 2009-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN101993033A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 邱奕翔;葉力墾;劉政諺;陳曉翔 | 申請(專利權(quán))人: | 微智半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號: | B81C1/00 | 分類號: | B81C1/00;B81B7/02 |
| 代理公司: | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 陳紅 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市光復(fù)*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微機 結(jié)構(gòu) 制造 方法 | ||
1.一種微機電的制造方法,其特征在于,該方法的步驟包含:
a.濕式蝕刻法移除一基板上的一微結(jié)構(gòu)旁的一蝕刻道中多層金屬層,其中該些金屬層與氧化硅交互堆疊,且氧化硅兩邊具有一通道;
b.超音波震蕩去除該蝕刻道中殘留的氧化硅;
c.利用深反應(yīng)離子蝕刻法蝕刻該基板;以及
d.對該基板進行背蝕刻,以形成一懸浮式微結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微機電的制造方法,其特征在于,在步驟b中使用一溶液進行超音波震蕩,該溶液是水、丙酮或異丙醇。
3.一種微機電的制造方法,其特征在于,該方法的步驟包含:
a.濕式蝕刻法移除一基板上的一微結(jié)構(gòu)旁的一蝕刻道中多層金屬層,其中該些金屬層與氧化硅交互堆疊,且氧化硅兩旁具有一通道;
b.蝕刻去除該蝕刻道中殘留的氧化硅;
c.利用深反應(yīng)離子蝕刻法蝕刻該基板;以及
d.對該基板進行背蝕刻,以形成一懸浮式微結(jié)構(gòu)。
4.一種微機電的制造方法,其特征在于,該方法的步驟包含:
a.形成一微結(jié)構(gòu)與一蝕刻道于一基板上,其中該蝕刻道中包含多層金屬層與多層氧化層交互堆疊,且該些氧化層兩邊具有一信道,而該微結(jié)構(gòu)頂端與該蝕刻道頂端非同一平面;
b.濕式蝕刻法移除該蝕刻道中該些金屬層;
c.去除該蝕刻道中殘留的該些氧化層;
d.利用深反應(yīng)離子蝕刻法蝕刻該基板;以及
e.對該基板進行背蝕刻,形成一懸浮式微結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微機電的制造方法,其特征在于,進行步驟c的方法是超音波震蕩法或蝕刻法。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微機電的制造方法,其特征在于,進行步驟e前,還包含:
形成一覆蓋層,于該基板上方,以保護微結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微機電的制造方法,其特征在于,進行步驟d前,還包含:
沉積一光阻層,于該基板下方,以定義背蝕刻區(qū)域。
8.一種微機電結(jié)構(gòu),其特征在于,為權(quán)利要求4所述的步驟a中所形成的結(jié)構(gòu),包含:
一基板;
一微結(jié)構(gòu),于該基板上,該微結(jié)構(gòu)外圍具有一氧化硅包覆,并于該氧化硅頂端具有一阻擋層;以及
一蝕刻道,于該微結(jié)構(gòu)旁,該蝕刻道為多層金屬層與多層氧化層交互堆疊,且該些氧化層兩旁具有一信道,其中該微結(jié)構(gòu)外圍的該氧化硅頂端的該阻擋層,與該蝕刻道頂端的金屬層非同一平面。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的微機電結(jié)構(gòu),其特征在于,該信道為導(dǎo)孔或觸孔。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的微機電結(jié)構(gòu),其特征在于,該微結(jié)構(gòu)為多層金屬層間以多層導(dǎo)電層相連。
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