[發明專利]用于對圖像進行隱寫分析的方法和裝置

無效

• 申請號: 200910166327.5
• 申請日: 2006-01-25
• 公開（公告）號: CN101655971A
• 公開（公告）日: 2010-02-24
• 發明（設計）人: 施云慶;宣國榮
• 申請（專利權）人: 新澤西理工學院
• 主分類號: G06T1/00
• 分類號: G06T1/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 康建峰;郎曉虹

1.一種對圖像進行隱寫分析的方法，包括：

從與所述圖像對應的灰度圖像中產生預測誤差圖像；

計算所述灰度圖像和所述預測誤差圖像的離散小波變換；

計算與所述灰度圖像和所述預測誤差圖像的離散小波變換關聯的多個子帶的矩，其中對所述矩的計算基于所述多個子帶的直方圖；

利用所述矩以向一個或更多個分類器提供輸入特征，所述一個或更多個分類器被配置用來檢測用于指示所述圖像中是否存在隱藏數據的、所述直方圖的變化。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述灰度圖像是從所述圖像中通過計算不可逆變換而獲得的。

3.如權利要求1所述的方法，其中，所述離散小波變換是三級Haar小波變換。

4.如權利要求1所述的方法，其中，產生所述預測誤差圖像還包括：

利用圖像預測算法來產生所述灰度圖像的預測圖像；

計算所述灰度圖像的元素x與所述灰度圖像的預測圖像的元素之間的差作為預測誤差圖像，

其中，所述圖像預測算法的輸出是根據預測上下文來確定的，且用于所述預測圖像的表達式為：

其中，a、b、c分別表示元素x的上下文。

5.如權利要求4所述的方法，其中，所述預測上下文限定a、b、c相對于所述灰度圖像的元素x的位置，假設元素x在所述灰度圖像中的位置為(m，k)，則a、b、c的位置分別為(m+1，k)、(m，k+1)、(m+1，k+1)，其中，m和k為整數。

6.如權利要求1所述的方法，其中，計算矩M_n還包括：

根據下式來計算所述矩：

Mn=Σj=1N/2fjn|H(fj)|/Σj=1N/2|H(fj)|]]>

其中，n＝1，2，3，H(f_j)是頻率為f_j的特性函數分量，而N為與正在計算的矩所對應的子帶關聯的直方圖在橫軸上的點的總數。

7.如權利要求1所述的方法，其中，利用所述矩包括：分析所述矩，以檢測離散小波變換子帶LL_i中的一個或更多個子帶的直方圖的平坦度的變化，其中，i＝1，2，3。

8.如權利要求1所述的方法，其中，利用所述矩包括：分析所述矩，以檢測離散小波變換子帶LH_i、HL_i和HH_i的直方圖中的一個或更多個的峰值的變化，其中，i＝1，2，3。

9.如權利要求1所述的方法，其中，利用所述矩以提供輸入特征包括：

將所述輸入特征施加于經過訓練的分類器，所述經過訓練的分類器是從經過訓練的神經網絡分類器、經過訓練的支持矢量機分類器和經過訓練的貝葉斯分類器所構成的組中選擇的。