[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于管理一次寫(xiě)入型記錄介質(zhì)的設(shè)備和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910164688.6 | 申請(qǐng)日: | 2003-09-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101697281A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-04-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 樸容徹;金成大 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | LG電子株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G11B20/10 | 分類(lèi)號(hào): | G11B20/10;G11B20/18;G11B20/22 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 戚傳江;謝麗娜 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 管理 一次 寫(xiě)入 記錄 介質(zhì) 設(shè)備 方法 | ||
1.一種用于管理一次寫(xiě)入型記錄介質(zhì)的設(shè)備,所述記錄介質(zhì)包括 導(dǎo)入?yún)^(qū)、具有用戶數(shù)據(jù)區(qū)和非用戶數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)、以及導(dǎo)出區(qū),所 述設(shè)備包括:
拾波器,被配置成向/從所述記錄介質(zhì)寫(xiě)/讀數(shù)據(jù);
伺服機(jī)構(gòu),被配置成控制所述拾波器,以使所述拾波器的物鏡與 所述記錄介質(zhì)之間保持一定距離,并被配置成追蹤所述記錄介質(zhì)上的 相應(yīng)的軌道;
數(shù)據(jù)處理器,配置成處理輸入到所述拾波器的數(shù)據(jù)和從所述記錄 介質(zhì)讀取的數(shù)據(jù);
微計(jì)算機(jī),被配置成控制所述拾波器和所述數(shù)據(jù)處理器,以執(zhí)行 缺陷區(qū)檢測(cè)和替換寫(xiě)入操作;控制所述設(shè)備的所述部件,以便在所述 缺陷區(qū)檢測(cè)和替換寫(xiě)入操作被執(zhí)行之后,將屬于用戶數(shù)據(jù)區(qū)中所檢測(cè) 到的缺陷區(qū)的臨時(shí)缺陷列表信息寫(xiě)入到位于所述記錄介質(zhì)中的臨時(shí)缺 陷列表區(qū);并且控制所述設(shè)備的所述部件,將指示符信息寫(xiě)入到導(dǎo)入 區(qū)中保留的區(qū)域,所述指示符信息指示備用區(qū)和/或位于所述記錄介質(zhì) 中的所述臨時(shí)缺陷列表區(qū)是否被寫(xiě)滿。
2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中,所述微計(jì)算機(jī)被配置成控制 所述設(shè)備的所述部件,以便如果所述指示符信息指示所述備用區(qū)和位 于所述記錄介質(zhì)中的臨時(shí)缺陷列表區(qū)被寫(xiě)滿,則不再執(zhí)行缺陷區(qū)檢測(cè) 和替換寫(xiě)入操作。
3.如權(quán)利要求1或2所述的設(shè)備,其中,所述微計(jì)算機(jī)被配置成 控制所述設(shè)備的所述部件,以便當(dāng)終止所述記錄介質(zhì)時(shí),將位于所述 記錄介質(zhì)中的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中所寫(xiě)入的臨時(shí)缺陷列表信息和臨時(shí)磁 盤(pán)定義結(jié)構(gòu)信息作為缺陷列表信息和磁盤(pán)定義結(jié)構(gòu)信息寫(xiě)入到缺陷管 理區(qū)。
4.如權(quán)利要求3所述的設(shè)備,其中,所述臨時(shí)磁盤(pán)定義結(jié)構(gòu)信息 包括一個(gè)或多個(gè)物理扇區(qū)號(hào),每個(gè)物理扇區(qū)號(hào)指示所述臨時(shí)缺陷管理 區(qū)中所寫(xiě)入的臨時(shí)缺陷列表信息的位置。
5.一種管理一次寫(xiě)入型記錄介質(zhì)的方法,所述記錄介質(zhì)包括導(dǎo)入 區(qū)、具有用戶數(shù)據(jù)區(qū)和非用戶數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)、以及導(dǎo)出區(qū),所述方 法包括以下步驟:
執(zhí)行缺陷區(qū)檢測(cè)和替換寫(xiě)入操作;
在所述缺陷區(qū)檢測(cè)和替換寫(xiě)入操作被執(zhí)行之后,將屬于用戶數(shù)據(jù) 區(qū)中所檢測(cè)到的缺陷區(qū)的臨時(shí)缺陷列表信息寫(xiě)入到位于所述記錄介質(zhì) 中的臨時(shí)缺陷列表區(qū);
將指示符信息寫(xiě)入到導(dǎo)入?yún)^(qū)中保留的區(qū)域,所述指示符信息指示 備用區(qū)和/或位于所述記錄介質(zhì)中的所述臨時(shí)缺陷列表區(qū)是否被寫(xiě)滿。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其中,如果所述指示符信息指示所 述備用區(qū)和位于所述記錄介質(zhì)中的所述臨時(shí)缺陷列表區(qū)被寫(xiě)滿,則不 再執(zhí)行所述執(zhí)行步驟。
7.如權(quán)利要求5或6所述的方法,進(jìn)一步包括以下步驟:
當(dāng)終止所述記錄介質(zhì)時(shí),將位于所述記錄介質(zhì)中的臨時(shí)缺陷管理 區(qū)中所寫(xiě)入的臨時(shí)缺陷列表信息和臨時(shí)磁盤(pán)定義結(jié)構(gòu)信息作為缺陷列 表信息和磁盤(pán)定義結(jié)構(gòu)信息寫(xiě)入到缺陷管理區(qū)。
8.如權(quán)利要求7所述的方法,
其中,所述臨時(shí)磁盤(pán)定義結(jié)構(gòu)信息包括一個(gè)或多個(gè)物理扇區(qū)號(hào), 每個(gè)物理扇區(qū)號(hào)指示所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)中所寫(xiě)入的臨時(shí)缺陷列表信 息的位置。
9.一種用于管理一次寫(xiě)入型記錄介質(zhì)的設(shè)備,所述記錄介質(zhì)包括 導(dǎo)入?yún)^(qū)、具有用戶數(shù)據(jù)區(qū)和非用戶數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)、以及導(dǎo)出區(qū),所 述設(shè)備包括:
拾波器,被配置成向/從所述記錄介質(zhì)寫(xiě)/讀數(shù)據(jù);
伺服機(jī)構(gòu),被配置成控制所述拾波器,以使所述拾波器的物鏡與 所述記錄介質(zhì)之間保持一定距離,并被配置成追蹤所述記錄介質(zhì)上的 相應(yīng)的軌道;
微計(jì)算機(jī),被配置成控制所述設(shè)備的部件,以讀取指示符信息, 所述指示符信息位于所述導(dǎo)入?yún)^(qū)中保留的區(qū)域,所述指示符信息識(shí)別 備用區(qū)和/或位于所述記錄介質(zhì)中的臨時(shí)缺陷列表區(qū)是否被寫(xiě)滿;并且 被配置成控制所述設(shè)備的所述部件,以便如果所述指示符信息指示所 述備用區(qū)和位于所述記錄介質(zhì)中的臨時(shí)缺陷列表區(qū)被寫(xiě)滿,則不再執(zhí) 行缺陷區(qū)檢測(cè)和替換寫(xiě)入操作。
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