[發(fā)明專利]感測(cè)元件結(jié)構(gòu)與制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910164441.4 | 申請(qǐng)日: | 2009-08-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101987719A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-03-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳榮泰;許郁文;陳士;林靖淵;潘力齊;何宗哲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | B81B7/00 | 分類號(hào): | B81B7/00;B81C1/00;B81B3/00;B81C5/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 湯保平 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 元件 結(jié)構(gòu) 制造 方法 | ||
1.一種感測(cè)元件結(jié)構(gòu),該感測(cè)元件的構(gòu)裝包含:
一基板,具有一上表面;
一感測(cè)構(gòu)件,位于該上表面的上方的一中央?yún)^(qū)域;
一立環(huán)構(gòu)件,位于該上表面的上方并圍繞在該感測(cè)構(gòu)件的四周;以及
至少一外引導(dǎo)線,位于該上表面的上方,該立環(huán)構(gòu)件與該感測(cè)構(gòu)件之間由該至少一外引導(dǎo)線電性連接。
2.如權(quán)利要求1所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該立環(huán)構(gòu)件的一上表面的上方還包括一層圖案化的冶金層,作為密封與信號(hào)墊。
3.如權(quán)利要求2所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該立環(huán)構(gòu)件至少包括一獨(dú)立立環(huán)以及至少一個(gè)分離凸柱,每一分離凸柱中有一導(dǎo)孔,該導(dǎo)孔的一端與該感測(cè)構(gòu)件的該外引導(dǎo)線電性連接。
4.如權(quán)利要求2所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該立環(huán)構(gòu)件至少包括一獨(dú)立立環(huán)以及至少一個(gè)分離凸柱,每一分離凸柱的一端與該感測(cè)構(gòu)件的該外引導(dǎo)線電性連接。
5.如權(quán)利要求2所述的感測(cè)元件的結(jié)構(gòu),其中該立環(huán)構(gòu)件中包括至少一導(dǎo)孔,該至少一導(dǎo)孔的一端與該感測(cè)構(gòu)件的該外引導(dǎo)線電性連接,并且該至少一導(dǎo)孔與該立環(huán)構(gòu)件之間有一電性隔離層。
6.如權(quán)利要求1所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),該感測(cè)元件結(jié)構(gòu)與一蓋板之間經(jīng)由導(dǎo)電材質(zhì)整合為一封裝元件。
7.如權(quán)利要求6所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該蓋板包括有集成電路元件。
8.如權(quán)利要求3所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該立環(huán)構(gòu)件的一外部表面上還包括一密封墊與至少一信號(hào)墊。
9.如權(quán)利要求8所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該至少一信號(hào)墊分布于該至少一導(dǎo)孔的另一端的上方。
10.如權(quán)利要求4所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該獨(dú)立立環(huán)的一外部表面上還包括一密封墊,并且每一分離凸柱的一上表面的上方還包括一信號(hào)墊,該信號(hào)墊位于該導(dǎo)孔的另一端的上方。
11.如權(quán)利要求5所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該獨(dú)立立環(huán)的一上表面的上方還包括一密封墊,并且每一分離凸柱的一上表面的上方還包括一信號(hào)墊。
12.如權(quán)利要求6所述的感測(cè)元件結(jié)構(gòu),其中該導(dǎo)電材質(zhì)至少包括一密封墊,以及至少一信號(hào)墊。
13.一種感測(cè)元件的制造方法,該制造方法包含:
制作一質(zhì)量晶片構(gòu)件,使該質(zhì)量晶片構(gòu)件具有一圖案化的上表面,并且該上表面上方備有多個(gè)第一觸接金屬;
制作一基板晶片構(gòu)件,使該基板晶片構(gòu)件的一上表面上方具有多個(gè)第二觸接金屬;
翻轉(zhuǎn)該質(zhì)量晶片構(gòu)件后,鉗緊并陽(yáng)極接合該基板晶片構(gòu)件,以組裝成一元件晶片;以及
該元件晶片進(jìn)行一種氧化層移除過(guò)程,且于該質(zhì)量晶片構(gòu)件的一中央?yún)^(qū)域形成一感測(cè)構(gòu)件于該基板晶片構(gòu)件的該上表面上方,并保留該質(zhì)量晶片構(gòu)件的一外環(huán)區(qū)域,以形成一立環(huán)構(gòu)件于該感測(cè)構(gòu)件的四周。
14.如權(quán)利要求13所述的感測(cè)元件的制造方法,其中,該元件晶片進(jìn)行該氧化層移除過(guò)程后,經(jīng)由一曝光顯影的蝕刻工藝中,來(lái)形成該感測(cè)構(gòu)件與該立環(huán)構(gòu)件的幾何形狀。
15.如權(quán)利要求13所述的感測(cè)元件的制造方法,其中,該立環(huán)構(gòu)件與該感測(cè)構(gòu)件之間由該多個(gè)第二觸接金屬電性連接。
16.如權(quán)利要求14所述的感測(cè)元件的制造方法,該制造方法還包括執(zhí)行執(zhí)行一金屬凸塊工藝,該金屬凸塊工藝將一金屬導(dǎo)電層加載于該質(zhì)量晶片構(gòu)件的一上表面的上方,并于該立環(huán)構(gòu)件的一上表面的上方圖案與蝕刻出一密封墊以及至少一信號(hào)墊。
17.如權(quán)利要求16所述的感測(cè)元件的制造方法,該制造方法還包括在該密封墊以及該至少一信號(hào)墊形成之前,在該至少一信號(hào)墊的下方形成至少一導(dǎo)孔,以及填入導(dǎo)電材料于該至少一導(dǎo)孔。
18.如權(quán)利要求16所述的感測(cè)元件的制造方法,該制造方法還包括以一曝光顯影的工藝以及一蝕刻方式,將該立環(huán)構(gòu)件圖案出一獨(dú)立立環(huán)與至少一個(gè)分離凸柱。
19.如權(quán)利要求18所述的感測(cè)元件的制造方法,該制造方法還包括在在該至少一信號(hào)墊的下方形成至少一導(dǎo)孔,以及填入導(dǎo)電材料于該至少一導(dǎo)孔,并且導(dǎo)電材料填入于該至少一導(dǎo)孔之前,先加載一絕緣層材料層以電性隔離該導(dǎo)電材料。
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