[發明專利]編碼裝置和解碼裝置

有效

• 申請號: 200910163336.9
• 申請日: 2009-08-13
• 公開（公告）號: CN101668212A
• 公開（公告）日: 2010-03-10
• 發明（設計）人: 屋森章弘;島田智史;中川章
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: H04N7/26
• 分類號: H04N7/26;H04N7/50
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 李 輝

1.一種以直接模式作為預測模式的編碼裝置，該編碼裝置包括：

基準矢量校正單元，當參照具有相反奇偶性的像素以獲取所述直接 模式中的基準矢量時，通過向所獲得的基準矢量的值的垂直分量加上對 應于半個像素的值或從所獲得的基準矢量的值的垂直分量中減去對應于 半個像素的值來執行校正；和

直接矢量校正單元，當參照具有相反奇偶性的像素以便通過在時間 上分割由所述基準矢量校正單元校正的基準矢量來獲取第一直接矢量和 第二直接矢量時，該直接矢量校正單元通過在所獲得的第一直接矢量的 值的垂直分量加上對應于半個像素的值或從所獲得的第一直接矢量的值 的垂直分量減去對應于半個像素的值來執行校正，

其中，

所述基準矢量校正單元利用下式對所述基準矢量的垂直分量執行校 正：

mvCol_correct=mvCol+2×（isBottomFieldrefPicCol- isBottomFieldCol）,

其中，mvCol為所述基準矢量的垂直分量，mvCol_correct為所述基 準矢量的垂直分量的校正后的值，isBottomFieldrefPicCol為在第一直接矢 量方向上的參照圖片的奇偶性，并且isBottomFieldCol為在第二直接矢量 方向上的參照圖片的奇偶性；并且

所述直接矢量校正單元利用下式對所述第一直接矢量的垂直分量執 行校正：

mvL0_correct=mvL0+2×（isBottomFieldrefPicCol- isBottomFieldCurr）,

其中，mvL0為所述第一直接矢量的垂直分量，mvL0_correct為所述 第一直接矢量的垂直分量的校正后的值，而isBottomFieldCurr為當前圖 片的奇偶性，并且

所述直接矢量校正單元利用下式對所述第二直接矢量的垂直分量執 行校正：

mvL1_correct=mvL1+2×（isBottomFieldCol-isBottomFieldCurr）,

其中，mvL1為所述第二直接矢量的垂直分量，而mvL1_correct為 所述第二直接矢量的垂直分量的校正后的值。

2.一種以直接模式作為預測模式的解碼裝置，該解碼裝置包括：

基準矢量校正單元，當參照具有相反奇偶性的像素以獲取所述直接 模式中的基準矢量時，通過向所獲得的基準矢量的值的垂直分量加上對 應于半個像素的值或從所獲得的基準矢量的值的垂直分量中減去對應于 半個像素的值來執行校正；和

直接矢量校正單元，當參照具有相反奇偶性的像素以便通過在時間 上分割由所述基準矢量校正單元校正的基準矢量來獲取第一直接矢量和 第二直接矢量時，該直接矢量校正單元通過在所獲得的第一直接矢量的 值的垂直分量加上對應于半個像素的值或從所獲得的第一直接矢量的值 的垂直分量減去對應于半個像素的值來執行校正，

其中，

所述基準矢量校正單元利用下式對所述基準矢量的垂直分量執行校 正：

mvCol_correct=mvCol+2×（isBottomFieldrefPicCol- isBottomFieldCol）,

其中，mvCol為所述基準矢量的垂直分量，mvCol_correct為所述基 準矢量的垂直分量的校正后的值，isBottomFieldrefPicCol為在第一直接矢 量方向上的參照圖片的奇偶性，并且isBottomFieldCol為在第二直接矢量 方向上的參照圖片的奇偶性；并且

所述直接矢量校正單元利用下式對所述第一直接矢量的垂直分量執 行校正：

mvL0_correct=mvL0+2×（isBottomFieldrefPicCol- isBottomFieldCurr）,

其中，mvL0為所述第一直接矢量的垂直分量，mvL0_correct為所述 第一直接矢量的垂直分量的校正后的值，而isBottomFieldCurr為當前圖 片的奇偶性，并且

所述直接矢量校正單元利用下式對所述第二直接矢量的垂直分量執 行校正：

mvL1_correct=mvL1+2×（isBottomFieldCol-isBottomFieldCurr）,

其中，mvL1為所述第二直接矢量的垂直分量，而mvL1_correct為 所述第二直接矢量的垂直分量的校正后的值。