[發明專利]X射線計算機斷層攝影裝置有效
| 申請號: | 200910163322.7 | 申請日: | 2009-08-11 |
| 公開(公告)號: | CN101647707A | 公開(公告)日: | 2010-02-17 |
| 發明(設計)人: | 秋野成臣 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝;東芝醫療系統株式會社 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 孫 蕾 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射線 計算機 斷層 攝影 裝置 | ||
相關申請的交叉引用
本申請基于2008年8月11日提交的在先的日本專利申請No.2008-207018并要求其為優先權,其全部內容通過引用結合在本申請中。
技術領域
本發明涉及具有圓軌道錐形束重建功能的X射線計算機斷層攝影裝置(CT(Computer?Tomography))。
背景技術
雖然圓軌道錐形束重建法是由Feldkamp等提出的,但在此重建法中,不具備360度的投影數據的區域(遮蔽區域)存在于重建區域的兩端部。該遮蔽區域的畫質低。由此,遮蔽區域被從圖像重建處理中排除,而不被成像化。即使強行重建遮蔽區域,產生畸變、形狀再現性惡化,進而產生CT值偏移的可能性也很高。
發明內容
本發明的目在于提高圓軌道錐形束重建法中的遮蔽區域的畫質。
本發明的實施方式的X射線計算機斷層攝影裝置,其特征在于,包括:X射線管,產生錐形束形狀的X射線;二維陣列型的X射線檢測器,檢測出透過被檢體的X射線,產生投影數據;旋轉結構,將上述X射線管與上述X射線檢測器一起旋轉自如地支撐在上述被檢體的周圍;重建處理部,在上述投影數據中,根據旋轉一周的視圖數的投影數據,重建全掃描圖像,并且根據比旋轉一周的視圖數少的視圖數的投影數據,重建短掃描圖像;CT值偏移分布發生部,根據上述全掃描圖像和上述短掃描圖像,產生源于上述少的視圖數的CT值偏移的空間分布;校正部,根據上述CT值偏移的空間分布,校正上述短掃描圖像。
在下面的描述中將提出本發明的其它目的和優點,部分內容可以從說明書的描述中變得明顯,或者通過實施本發明可以明確上述內容。通過下文中詳細指出的手段和組合可以實現和得到本發明的目的和優點。
附圖說明
結合在這里并構成說明書的一部分的附圖描述本發明當前優選的實施方式,并且與上述的概要說明以及下面的對優選實施方式的詳細描述一同用來說明本發明的原理。
圖1為基于本發明的實施方式的X射線計算機斷層攝影裝置的結構圖。
圖2為與基于圖1的重建處理部的重建區域的兩端部分有關的短掃描重建的補充說明圖。
圖3為基于圖1的CT值偏移圖像生成部和短掃描圖像校正部的處理的流程圖。
圖4為基于圖1的CT值偏移圖像生成部和短掃描圖像校正部的處理的詳細流程圖。
圖5為表示在本實施方式中表示在短掃描重建中使用的投影數據的范圍的視域圖。
具體實施方式
以下參照附圖,說明本發明的X射線計算機斷層攝影裝置的實施方式。另外,在X射線計算機斷層攝影裝置中有兩種的方式,即、X射線管和X射線檢測器設為一體,并在被檢體的周圍旋轉的旋轉/旋轉方式;以及在環架上配置多個X射線檢測器,且只有X射線管在被檢體的周圍旋轉的固定/旋轉方式,不論任何一種方式都可以適用于本發明。關于旋轉/旋轉方式,有兩種類型,即、將一對X射線管和X射線檢測器搭載在旋轉架上的單管球型;以及將多對X射線管和X射線檢測器搭載在旋轉架上的所謂多管球型,但無論任何一種類型都可以適用于本發明。關于X射線檢測器,有用閃爍器等熒光體將透過被檢體的X射線變換為光以后,用光電二極管等光電變換元件變換為電荷的間接變換型;以及由X射線在半導體內產生電子空穴對和向此電極移動、即利用光導電現象的直接變換型,本發明可以采用任何一種形式。
圖1為與本實施方式相關的X射線計算機斷層攝影裝置的結構。架臺100具備X射線管101。X射線管101從高電壓發生裝置經過滑環(slip-ring)結構108,接受管電壓的施加以及燈絲電流的供給,產生錐形束形狀的X射線。X射線管101和X射線檢測器105一起搭載在以旋轉軸(Z軸)為中心,旋轉自如地被支撐的旋轉架102上。旋轉角檢出部107為了檢測出旋轉架102的旋轉角而設定。通常,在X射線管101處于頂端的時候,旋轉架102的旋轉角被設置為零度。X射線檢測器103夾著旋轉軸RA,面向X射線管101。以旋轉軸RA為中心,經由輸入裝置115設定圓筒形狀的重建區域。
X射線檢測器103檢測出從X射線管101透過被檢體的X射線。X射線檢測器103是對應于錐形束的多層(multi-slice)型或二維陣列(2D-array)型。即、X射線檢測器103具有沿著旋轉軸RA并列的多個X射線檢測元件列。各X射線檢測元件列具有沿著與旋轉軸RA正交的方向排列成1列的多個X射線檢測元件。
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