[發明專利]背光單元及其測試方法、液晶模組及其測試方法

無效

• 申請號: 200910162586.0
• 申請日: 2009-08-03
• 公開（公告）號: CN101625473A
• 公開（公告）日: 2010-01-13
• 發明（設計）人: 張建中;趙仁智
• 申請（專利權）人: 青島海信電器股份有限公司
• 主分類號: G02F1/1333
• 分類號: G02F1/1333;G02F1/13
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司
• 代理人: 申 健

1、一種背光單元，包括中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行設有光學膜片和液晶面板，所述光學膜片透射出的光線能夠射入所述液晶面板，其特征在于，在所述第一凹槽中對應所述光學膜片的位置處設有第一縫隙，所述光學膜片通過所述第一縫隙從所述中框內取出或插入所述中框。

2、根據權利要求1所述的背光單元，其特征在于，所述中框為長方形中框，在所述長方形中框的較短側邊上的第一凹槽中設有所述第一縫隙。

3、根據權利要求1或2所述的背光單元，其特征在于，在所述第一縫隙的兩相對較短側邊上設有第一凸起。

4、一種背光單元測試方法，所述背光單元包括中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行設有光學膜片和液晶面板，所述光學膜片透射出的光線能夠射入所述液晶面板，其特征在于，在所述第一凹槽中對應所述光學膜片的位置處設有第一縫隙，所述測試方法包括：

通過所述第一縫隙從所述中框內取出原有的光學膜片；

通過所述第一縫隙將新的光學膜片插入所述中框；

點亮背光源，在新的光學膜片的作用下測試背光單元的光學指標。

5、根據權利要求5所述的背光單元測試方法，其特征在于，在所述通過所述第一縫隙從所述中框內取出原有的光學膜片之前，所述測試方法還包括：

將所述背光單元設置在檢測位置處。

6、一種液晶模組，包括前框，所述前框具有第二凹槽，所述第二凹槽內設有背板，所述背板上設有中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行設有光學膜片和液晶面板，所述光學膜片透射出的光線能夠射入所述液晶面板，其特征在于，在所述第一凹槽中對應所述光學膜片的位置處設有第一縫隙，在所述第二凹槽中對應所述第一縫隙的位置處設有第二縫隙，所述光學膜片通過所述第一縫隙和所述第二縫隙從所述中框內取出或插入所述中框。

7、根據權利要求6所述的液晶模組，其特征在于，所述中框為長方形中框，在所述長方形中框的較短側邊上的第一凹槽中設有所述第一縫隙，所述前框為長方形前框，在所述長方形前框的較短側邊上的第二凹槽中設有所述第二縫隙。

8、根據權利要求7所述的液晶模組，其特征在于，在所述第一縫隙的兩相對較短側邊上設有的第一凸起，在所述第二縫隙的兩相對較短側邊上設有的第二凸起，所述第一凸起和所述第二凸起的位置相對應。

9、一種液晶模組測試方法，所述液晶模組包括前框，所述前框具有第二凹槽，所述第二凹槽內設有背板，所述背板上設有中框，所述中框具有第一凹槽，所述第一凹槽中并行設有光學膜片和液晶面板，所述光學膜片透射出的光線能夠射入所述液晶面板，其特征在于，在所述第一凹槽中對應所述光學膜片的位置處設有第一縫隙，在所述第二凹槽中對應所述第一縫隙的位置處設有第二縫隙，所述測試方法包括：

通過所述第一縫隙和所述第二縫隙從所述中框內取出原有的光學膜片；

通過所述第一縫隙和所述第二縫隙將新的光學膜片插入所述中框；

點亮背光源，在新的光學膜片的作用下測試液晶模組的光學指標。

10、根據權利要求9所述的液晶模組測試方法，其特征在于，在所述通過所述第一縫隙和所述第二縫隙從所述中框內取出原有的光學膜片之前，所述測試方法還包括：

將所述液晶模組設置在檢測位置處。