[發(fā)明專利]一種衛(wèi)星用器件單粒子效應(yīng)指標的評估方法和系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910161730.9
• 申請日: 2009-08-04
• 公開（公告）號: CN101887088A
• 公開（公告）日: 2010-11-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王群勇;陽輝;陳冬梅;陳宇;白樺;鐘征宇;郭明銀;劉燕芳;宋巖;吳文章
• 申請（專利權(quán)）人: 北京圣濤平試驗工程技術(shù)研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 胡小永

1.一種衛(wèi)星用器件單粒子效應(yīng)指標的評估方法，其特征在于，所述評估方法包括以下步驟：

S1，獲取待評估器件單粒子翻轉(zhuǎn)指標的試驗值；

S2，獲取待評估器件單粒子翻轉(zhuǎn)指標要求預估值；

S3，根據(jù)所述器件單粒子翻轉(zhuǎn)指標的試驗值和單粒子翻轉(zhuǎn)指標要求預估值，得到輻射設(shè)計裕量；

S4，根據(jù)所述輻射設(shè)計裕量，評估所述器件的輻射風險等級。

2.如權(quán)利要求1所述衛(wèi)星用器件單粒子效應(yīng)指標的評估方法，其特征在于，所述步驟S1中利用獲取待評估器件單粒子翻轉(zhuǎn)指標的試驗值，其中，重離子單粒子翻轉(zhuǎn)率的計算公式為：

RH=∫0∞Φe(L)σ(L)dL]]>

式中，R_H為重離子單粒子翻轉(zhuǎn)率，L為重離子LET值，Φ_e(L)為以LET值為變量的等效重離子微分譜，σ(L)為LET值為L的重離子的單粒子翻轉(zhuǎn)截面；

質(zhì)子單粒子翻轉(zhuǎn)率的計算公式為：

Rp=∫E0EmaxΦ(E)σ(E)dE]]>

式中：R_p為質(zhì)子單粒子翻轉(zhuǎn)率，Φ(E)為質(zhì)子微分能譜，σ(E)為質(zhì)子單粒子翻轉(zhuǎn)截面，E為質(zhì)子能量，E₀為質(zhì)子單粒子翻轉(zhuǎn)能量閾值，E_max為空間質(zhì)子最大能量。

3.如權(quán)利要求1所述衛(wèi)星用器件單粒子效應(yīng)指標的評估方法，其特征在于，在進行單粒子效應(yīng)關(guān)鍵性分析時，利用下述方程組計算待評估器件單粒子翻轉(zhuǎn)指標要求預估值：

式中，SER^{分系統(tǒng)}以及SER^板分別表示系統(tǒng)能夠容忍的最大翻轉(zhuǎn)率、分系統(tǒng)能夠容忍的翻轉(zhuǎn)率以及板能夠容忍的單粒子翻轉(zhuǎn)率，SER^{分系統(tǒng)i}、SER^板i和SER^器件i分別表示分系統(tǒng)i、板i以及器件i能夠容忍的單粒子翻轉(zhuǎn)率，P_{分系統(tǒng)i}、P_板i以及P_器件i分別表示分系統(tǒng)i、板i以及器件i產(chǎn)生單粒子翻轉(zhuǎn)對于系統(tǒng)錯誤的影響權(quán)重概率。

4.如權(quán)利要求1所述衛(wèi)星用器件單粒子效應(yīng)指標的評估方法，其特征在于，在不進行單粒子效應(yīng)關(guān)鍵性分析時，利用下式計算待評估器件單粒子翻轉(zhuǎn)指標預估值：

式中，表示器件單粒子翻轉(zhuǎn)指標預估值，表示能夠容忍的單粒子最大翻轉(zhuǎn)率，A為在不進行單粒子效應(yīng)關(guān)鍵性分析時RDM_{系統(tǒng)}的取值，C為不進行單粒子效應(yīng)關(guān)鍵性分析時RDM_器件的取值，為在任務(wù)期間內(nèi)允許系統(tǒng)的最多單粒子翻轉(zhuǎn)次數(shù)，T為系統(tǒng)任務(wù)時間，A和C表示系統(tǒng)和器件的輻射設(shè)計裕量經(jīng)驗值。