[發明專利]電容式感測裝置及感測方法有效
| 申請號: | 200910160810.2 | 申請日: | 2009-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN101714048A | 公開(公告)日: | 2010-05-26 |
| 發明(設計)人: | 張欽富 | 申請(專利權)人: | 禾瑞亞科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019 | 代理人: | 壽寧;張華輝 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電容 式感測 裝置 方法 | ||
1.一種電容式感測裝置,其特征在于其包含:
數條第一導線;
數條第二導線,所述第一導線、第二導線間構成數個互耦疊點;
數個電性導體,所述電性導體橫跨所述互耦疊點;以及
一感測單元,感測所述互耦疊點的復合信號,各互耦疊點的復合信號 受所述電性導體的電容性耦合影響;
計算單元,依據所述復合信號的變化量計算出至少兩觸碰位置;
其中任兩觸碰位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點,所 述電性導體的大小決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點的鄰近互耦疊點 與另一對虛假頂點的鄰近互耦疊點間的信號差異量。
2.根據權利要求1所述的電容式感測裝置,其特征在于其中所述第一 導線、第二導線間為互電容性耦合。
3.根據權利要求1所述的電容式感測裝置,其特征在于其中各電性導 體分別橫跨所述互耦疊點之一,各互耦疊點的復合信號是各電性導體與所 橫跨的該第一導線、第二導線間電容性耦合的信號。
4.根據權利要求1所述的電容式感測裝置,其特征在于其中所述的計 算單元依據所述復合信號的變化量間的集積度區分出至少一群相鄰的互耦 疊點,每一群互耦疊點分別相應于該至少兩觸碰位置其中之一。
5.一種電容式感測裝置,其特征在于其包含:
一信號單元,驅動一觸控面板,該觸控面板上包含數條第一導線、第 二導線構成的數個互耦疊點,其中數個電性導體橫跨所述互耦疊點;
一感測單元,感測所述互耦疊點的復合信號,各互耦疊點的復合信號 受所述電性導體的電容性耦合影響;以及
一計算單元,依據所述復合信號的變化量計算出至少兩觸碰位置;
其中任兩觸碰位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點,所 述電性導體的大小決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點的鄰近互耦疊點 與另一對虛假頂點的鄰近互耦疊點間的信號差異量。
6.根據權利要求5所述的電容式感測裝置,其特征在于其中所述第一 導線、第二導線間為互電容性耦合。
7.根據權利要求5所述的電容式感測裝置,其特征在于其中各電性導 體分別橫跨所述互耦疊點之一,各互耦疊點的復合信號是各電性導體與所 橫跨的該第一導線、第二導線間電容性耦合的信號。
8.根據權利要求5所述的電容式感測裝置,其特征在于其中所述的計 算單元依據所述復合信號的變化量間的集積度區分出至少一群相鄰的互耦 疊點,每一群互耦疊點分別相應于該至少兩觸碰位置其中之一。
9.一種電容式感測方法,其特征在于其包括以下步驟:
驅動一觸控面板,該觸控面板上包含數條第一導線、第二導線構成的 數個互耦疊點,其中數個電性導體橫跨所述互耦疊點;
感測所述互耦疊點的復合信號,各互耦疊點的復合信號受所述電性導 體的電容性耦合影響;以及
依據所述復合信號的變化量計算出至少兩觸碰位置;
其中任兩觸碰位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點,所 述電性導體的大小決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點的鄰近互耦疊點 與另一對虛假頂點的鄰近互耦疊點間的信號差異量。
10.根據權利要求9所述的電容式感測方法,其特征在于其中所述第 一導線、第二導線間為互電容性耦合。
11.根據權利要求9所述的電容式感測方法,其特征在于其中各電性 導體分別橫跨所述互耦疊點之一,各互耦疊點的復合信號是各電性導體與 所橫跨的該第一導線、第二導線間電容性耦合的信號。
12.根據權利要求9所述的電容式感測方法,其特征在于其中所述的 至少兩觸碰位置的偵測包含:
依據一門檻限值比較各電性導體的復合信號的變化量,其中各電性導 體的大小決定該門檻限值。
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