[發(fā)明專利]同軸電纜探針結(jié)構(gòu)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910158140.0
• 申請日: 2009-07-13
• 公開（公告）號: CN101957390A
• 公開（公告）日: 2011-01-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉世明
• 申請（專利權(quán)）人: 均揚電子股份有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種同軸電纜探針結(jié)構(gòu)，可以高頻率測量集成電路或其他電子元件的電氣特性。

背景技術(shù)

至今開發(fā)出許多種探測總成，以供量測集成電路或其他形式的微電子元件，其中代表性總成是使用電路板，上側(cè)形成長形導線痕跡，作為信號和地線，探針連接于各信號痕跡末端，故呈現(xiàn)針尖朝下的徑向延伸排列，以供與受測試微電子元件的焊墊(Pad)選擇性連接，此種探針在高頻率的測量時，因高頻率阻抗不易控制，故在信號傳輸過程中會發(fā)生高頻信號反射及損失等問題，因此前述傳統(tǒng)的探針已不適合使用在具高頻特性的電路量測。

因此，陸續(xù)又開發(fā)出如圖4～6的探針結(jié)構(gòu)，其中，圖4為美國專利US4871964號，其纜線a的中心導體b是突出于介質(zhì)材料及外導體的切面d1，接地導體c是與位于或鄰近于所述纜線a一端的外部導體d的一部分相結(jié)合。但所述結(jié)構(gòu)由于信號與接地部分具有不同結(jié)構(gòu)，因此其接觸力不均勻，將使信號與接地部分的空間產(chǎn)生變形，而無法良好的控制阻抗。此外，對于共平面的信號傳輸線而言，圓形的信號線設(shè)計并不理想，因為電磁場將會集中于圓形導體的邊緣，增加高頻損失。

圖5為美國專利US5506515號，其在纜線e一端，包括有內(nèi)部導體g、外部導體h以及內(nèi)部電介質(zhì)i是形成有一共同的切面f1及一半圓柱形的凹陷f，所述凹陷f包括有內(nèi)部導體g、外部導體h以及內(nèi)部電介質(zhì)i。第一與第二彈性導體手指部j、k是分別連接至所述內(nèi)部導體g與外部導體h；每一手指部j、k包括有可自我支撐的懸臂j1、k1部分，所述懸臂j1、k1部分是延伸穿出所述纜線e的切面f1，但其結(jié)構(gòu)缺點在于：A、在高頻率情況下，內(nèi)部導體g于切面f1及外部導體h于凹陷f的不連續(xù)將會造成阻抗的不匹配；B、半圓柱形凹陷是為一2D的制造流程，其成本較高，且無法簡單地控制凹陷尺寸(例如深度)，此凹陷尺寸與阻抗匹配高度相關(guān)；C、一般同軸電纜，外部導體的厚度是小于中心導體的直徑，通過使用相分離的接地導體，所述第二彈性導體與同軸纜線外部導體的連接區(qū)是小于中央導體與第一彈性導體，因此第二彈性導體與外部導體的連接力小于中央導體與第一彈性導體，但在測試中，若手指部j1、k1非水平放置而是呈現(xiàn)一橫向傾角，則第二彈性導體的某一手指部k1將需要較高的承受力，但第二彈性導體與外部導體的連接力卻小于中央導體與第一彈性導體，故第二彈性導體便容易受損。

圖6為美國專利US5853295號所公開的一種呈角度的連接器m，用于將一同軸連接器轉(zhuǎn)變至一平面結(jié)構(gòu)，所述同軸側(cè)末端是一個成一角度的平面末端。不過，此連接器并非為市售產(chǎn)品，其在應(yīng)用上的成本較高，且與同軸纜線組件不同的是，在完成平面?zhèn)饶┒私Y(jié)構(gòu)前，我們無法如同對于同軸纜線一般簡單地對所述呈角度的連接器的電性表現(xiàn)加以測試，同時由于連接器結(jié)構(gòu)不具彈性，我們亦無法如同對于同軸纜線一般地將呈角度的連接器加以塑形。

有鑒于此，本發(fā)明人不斷的研發(fā)與改善，于是有本發(fā)明的產(chǎn)生。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的是提供一種低成本、連續(xù)接面佳、以及有效降低反射噪聲且增強機構(gòu)強度的同軸電纜探針結(jié)構(gòu)。

為達上述的目的，本發(fā)明為一種同軸電纜探針結(jié)構(gòu)，包括一同軸電纜及一探測件，其中所述同軸電纜是由一內(nèi)導體經(jīng)一介質(zhì)材料充填固定于一外導體內(nèi)，其中所述同軸電纜介質(zhì)材料及外導體設(shè)有一切面，且內(nèi)導體突出于所述切面并形成一末端，而所述同軸電纜設(shè)有一切削部，所述切削部相對于所述同軸電纜形成一斜面，使內(nèi)導體、介質(zhì)材料、外導體皆外露于所述斜面上，且所述斜面是延伸至內(nèi)導體的末端；所述探測件包括第一、第二及第三探測針體，每一探測針體具有前、后兩介面部，其中第二探測針體的前介面部是與外露于斜面上的內(nèi)導體電性連接，所述突出于切面的內(nèi)導體與第二探測針體電性連接并機械結(jié)合形成一懸臂結(jié)構(gòu)，而第一、三探測針體的前介面部是供電性連接于同軸電纜的外導體上，而每一探測針體的后介面部是供用于接觸待測元件的焊墊(Pad)。

實施時，所述第一及第三探測針體的前介面部是本質(zhì)上相互連接，供電性連接于同軸電纜在第二探測針體前介面部的兩側(cè)及前側(cè)的外導體上，且第一及第三探測針體間形成一供第二探測針體容納的空間。

實施時，所述外露于斜面上的內(nèi)導體末端部分面積是經(jīng)切削后，形成一拉長狀的橢圓形狀。

實施時，所述第一、第二及第三探測針體的前介面部是設(shè)為平板狀，供結(jié)合于同軸電纜上，而第一、第二及第三探測針體的后介面部則設(shè)為尖狀，用以接觸待測元件的焊墊。

為了達到上述目的，本發(fā)明還提供一種同軸電纜探針結(jié)構(gòu)，包括：