[發明專利]自動化測試裝置

有效

• 申請號: 200910157998.5
• 申請日: 2009-07-21
• 公開（公告）號: CN101963930A
• 公開（公告）日: 2011-02-02
• 發明（設計）人: 張傳國;陳玉喜;吳仕平
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司;緯創資通(昆山)有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G01R31/00;G01R31/327
• 代理公司: 北京嘉和天工知識產權代理事務所 11269
• 代理人: 嚴慎

技術領域

本發明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種自動化測試裝置。

背景技術

由于科技的快速發展及產業上的進步，由半導體產業及信息電子產業領軍的市場不斷地持續蓬勃成長，造成相當多的應用層面有顯著的變化。所帶來的不只是單單的科技成就，而是增進了人類生活質量、改變了生活的模式。所影響的科技產品如：個人計算機、鼠標、掃描儀、移動電話、個人數字助理等千百種的電子消費產品。尤其此類產品已從專業用設備走向個人、家庭、一般生活中的消費性產品。換言之，人們對于這些設備的依賴性也日漸加重，所有的廠商都投身致力于生產更多的相關產品。因此，制造商無不致力于提升產能。

再者，計算機制造商研發制造出一計算機平臺產品，例如計算機主機板或計算機擴充卡，通常需在產品上市之前先進行一測試程序，以藉此來測試該計算機平臺產品是否可完全正常運作。若在測試過程中發現任何一個組件或線路有缺陷而無法正常運作時，則需由測試人員將此不正常的運作狀態記錄為一缺陷點，并將該缺陷點提交至研發部門，以進行修正。

當前IT業界的計算機硬件如服務器、筆記本型計算機等的生產線中，為了保證出廠產品的質量，需要對計算機產品的各個周邊硬件是否合格一一進行測試。一般生產在線的工廠的測試方式，是以原始的測試方式測試計算機或是計算機周邊設備，即該工廠需要作業人員以手動的方式進行測試，例如手動撥動開關、按鈕或是需要作業人員以眼睛或耳朵來主觀判定測試結果，而產生一些問題，如測試上不方便、手動的作業時間長，以及作業人員的疲勞度皆會影響測試結果。

請一并參閱圖1A與圖1B，為公知技術的測試一個計算機主機板的周期的示意圖與同時測試二個計算機主機板的周期的示意圖。如圖所示，一般測試人員在進行一個計算機主機板的測試周期中，包含了一手動測試周期10’、一程序自動測試周期12’與一手自動交錯測試周期14’。由于為了增加測試效率，一般業者都需要測試人員要同時測試數個計算機主機板，此僅以同時測試二個計算機主機板為例，如圖1B所示，由于在測試一個計算機主機板時，會需要進行手動測試、程序自動測試或手自動交錯測試，如此，當在二個計算機主機板同時進行程序自動測試周期時，而就會發生手動閑置周期20’，當二個計算機主機板之一在進行手動測試時，而另一個計算機主機板進行手自動測試時，則會發生程序閑置周期22’，如此，將會增加總測試時間，進而降低測試效率，并且當測試人員同時測試數個計算機主機板時，其影響將會更大。

因此，如何針對上述問題而提出一種新穎自動化測試裝置，其可避免因為以人工進行計算機或是計算機周邊設備的測試，而增加測試時間，并容易發生測試錯誤，且可避免增加人事成本，可解決上述的問題。

發明內容

本發明的目的之一，在于提供一種自動化測試裝置，其藉由自動化測試而不需測試人員進行測試，進而減少人事成本。

本發明的目的之一，在于提供一種自動化測試裝置，其藉由自動化測試而所縮短測試時間。

本發明的目的之一，在于提供一種自動化測試裝置，其藉由一測試模塊自動測試而避免人為誤判。

本發明的自動化測試裝置包含一待測裝置與一測試模塊。待測裝置具有一測試程序，并且待測裝置包含多個功能模塊；測試模塊耦接待測裝置，并測試模塊依序測試待測裝置的該多個功能模塊，其中，待測裝置執行測試程序而與測試模塊相連結，而測試模塊對待測裝置的該多個功能模塊進行測試。

具體地，本發明提供一種自動化測試裝置，其包含：一待測裝置，具有一測試程序，該待測裝置包含多個功能模塊；以及一測試模塊，耦接該待測裝置，該測試模塊測試該待測裝置的該多個功能模塊；其中，該待測裝置執行該測試程序而與該測試模塊相連結，而該測試模塊對該待測裝置的該多個功能模塊進行測試。

本發明還提供一種自動化測試裝置，其包含：一待測裝置，具有一測試程序；一控制單元，接收該待測裝置執行該測試程序所產生的一測試信號，而產生一控制信號；以及一音頻測試電路，接收該控制信號產生一聲音信號，該多個功能模塊的一播放單元播放該聲音信號，該音頻測試電路測試該播放單元播放出的該聲音信號。

如此，本發明藉由自動化測試而不需測試人員進行測試，進而減少人事成本，并且可縮短總測試時間，再者，本發明可由測試模塊自動測試待測裝置的該多個功能模塊而避免人為誤判。

附圖說明

圖1A為公知技術的測試一個計算機主機板的周期的示意圖；

圖1B為公知技術的同時測試二個計算機主機板的周期的示意圖；

圖2為本發明的一較佳實施例的框圖；

圖3A為本發明的一較佳實施例的測試一個計算機主機板的周期的示意圖；